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A review of extreme condition effects on solder joint reliability:Understanding failure mechanisms
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作者 Norliza Ismail Wan Yusmawati Wan Yusoff +2 位作者 Azuraida Amat Nor Azlian Abdul Manaf Nurazlin Ahmad 《Defence Technology(防务技术)》 SCIE EI CAS CSCD 2024年第11期134-158,共25页
Solder joint,crucial component in electronic systems,face significant challenges when exposed to extreme conditions during applications.The solder joint reliability involving microstructure and mechanical properties w... Solder joint,crucial component in electronic systems,face significant challenges when exposed to extreme conditions during applications.The solder joint reliability involving microstructure and mechanical properties will be affected by extreme conditions.Understanding the behaviour of solder joints under extreme conditions is vital to determine the durability and reliability of solder joint.This review paper aims to comprehensively explore the underlying failure mechanism affecting solder joint reliability under extreme conditions.This study covers an in-depth analysis of effect extreme temperature,mechanical stress,and radiation conditions towards solder joint.Impact of each condition to the microstructure including solder matrix and intermetallic compound layer,and mechanical properties such as fatigue,shear strength,creep,and hardness was thoroughly discussed.The failure mechanisms were illustrated in graphical diagrams to ensure clarity and understanding.Furthermore,the paper highlighted mitigation strategies that enhancing solder joint reliability under challenging operating conditions.The findings offer valuable guidance for researchers,engineers,and practitioners involved in electronics,engineering,and related fields,fostering advancements in solder joint reliability and performance. 展开更多
关键词 solder joint Extreme condition Failure mechanism Defence and military reliability
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BGA焊点空洞对信号传输性能的影响 被引量:13
2
作者 熊华清 李春泉 尚玉玲 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2009年第10期946-948,952,共4页
焊点空洞问题是影响BGA焊点质量和可靠性的重要因素之一。基于三维电磁场仿真软件HFSS对单个焊点空洞建模,分别研究了BGA焊点中不同位置、大小和数目的空洞对焊点传输性能的影响。研究结果表明,焊点内部空洞比表面处空洞对信号传输性能... 焊点空洞问题是影响BGA焊点质量和可靠性的重要因素之一。基于三维电磁场仿真软件HFSS对单个焊点空洞建模,分别研究了BGA焊点中不同位置、大小和数目的空洞对焊点传输性能的影响。研究结果表明,焊点内部空洞比表面处空洞对信号传输性能的影响更大;在焊点表面上的空洞,位于焊点中部的空洞比接近上下焊盘的空洞对信号传输性能的影响大;随着焊点中空洞体积增大或空洞数目的增加,焊点的回波损耗增大。 展开更多
关键词 bga焊点 空洞 信号传输性能 焊盘 回波换耗
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BGA混合焊点热循环负载下的可靠性研究 被引量:13
3
作者 蒋廷彪 徐龙会 韦荔蒲 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2007年第6期24-27,共4页
焊料从有铅向无铅转换中,不可避免会遇到二者混合使用的情况,有必要对生成的混合焊点进行可靠性研究。通过对不同工艺参数下形成的混合焊点和无铅焊点进行了外观检测、X射线检测和温度循环测试。结果显示,只要工艺参数控制得当,混合焊... 焊料从有铅向无铅转换中,不可避免会遇到二者混合使用的情况,有必要对生成的混合焊点进行可靠性研究。通过对不同工艺参数下形成的混合焊点和无铅焊点进行了外观检测、X射线检测和温度循环测试。结果显示,只要工艺参数控制得当,混合焊点是可行的。在焊球合金、焊料合金、峰值温度、液相线以上时间和焊接环境五个关键因素中,前四项对焊点可靠性比较重要,焊接环境对焊点可靠性的影响不很显著。 展开更多
关键词 电子技术 bga 混合焊点 无铅焊点 可靠性 失效
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有铅焊料与无铅BGA混合焊点显微组织性能研究 被引量:12
4
作者 蒋庆磊 张玮 +1 位作者 刘刚 余春雨 《电子工艺技术》 2013年第2期79-85,共7页
随着近年来电子产品无铅化的发展,越来越多的有铅器件被无铅器件替代,其中SnAgCu合金成为BGA器件锡球的主要成分。然而在无铅焊点的可靠性未被认可之前的过渡时期,有铅焊膏和无铅器件混合焊接的情况就不可避免,尤其是在高可靠电子产品... 随着近年来电子产品无铅化的发展,越来越多的有铅器件被无铅器件替代,其中SnAgCu合金成为BGA器件锡球的主要成分。然而在无铅焊点的可靠性未被认可之前的过渡时期,有铅焊膏和无铅器件混合焊接的情况就不可避免,尤其是在高可靠电子产品领域。因此混合焊接工艺和焊点的性能成为高可靠性电子产品组装和焊点寿命分析中的研究重点。总结了近年来对有铅焊料和无铅BGA混合焊接的一些相关研究,主要涉及混合焊接温度、混合焊点的显微组织、界面处金属间化合物、焊点力学性能、可靠性以及焊点失效机制等方面。 展开更多
关键词 bga 焊接温度曲线 显微组织 金属间化合物 可靠性 失效机制
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BGA空洞形成的机理及对焊点可靠性的影响 被引量:28
5
作者 王文利 梁永生 《电子工艺技术》 2007年第3期157-159,162,共4页
BGA空洞是BGA组装过程常见的工艺缺陷,系统介绍了BGA空洞形成的机理与主要影响因素,讨论了BGA空洞的接受标准及其对焊点可靠性的影响,提出了消除及减少空洞缺陷的主要措施。
关键词 bga 空洞 机理 消除 可靠性
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BGA焊点可靠性研究综述 被引量:8
6
作者 陈丽丽 李思阳 赵金林 《电子质量》 2012年第9期22-27,共6页
随着集成电路封装技术的发展,BGA封装得到了广泛应用,而其焊点可靠性是现代电子封装技术的重要课题。该文介绍了BGA焊点可靠性分析的主要方法,同时对影响焊点可靠性的各因素进行综合分析。并对BGA焊点可靠性发展的前景进行了初步展望。
关键词 有限元 焊点 可靠性 bga
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无铅BGA焊球重置工艺 被引量:1
7
作者 韦荔甫 李鹏 《电子工艺技术》 2022年第3期146-148,168,共4页
对无铅BGA焊球重置工艺展开研究,通过试验设计,对比分析验证助焊剂的涂敷方式与涂敷量对BGA焊点高度变化、剪切强度及其可靠性的影响。研究结果表明:在焊锡球直径相同的条件下,焊点间距较小的阵列对助焊剂涂敷量变化较敏感,在液相线以... 对无铅BGA焊球重置工艺展开研究,通过试验设计,对比分析验证助焊剂的涂敷方式与涂敷量对BGA焊点高度变化、剪切强度及其可靠性的影响。研究结果表明:在焊锡球直径相同的条件下,焊点间距较小的阵列对助焊剂涂敷量变化较敏感,在液相线以上时间(TAL)不超过90 s。回流焊峰值温度为245℃时,助焊剂涂敷量对焊点强度的影响比较明显,当回流焊峰值温度较高时(如255℃),其影响不明显。 展开更多
关键词 bga焊点 助焊剂 涂敷方式 可靠性
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BGA焊点空洞问题分析 被引量:6
8
作者 吴军 《电子工艺技术》 2013年第4期223-225,249,共4页
BGA器件已经广泛应用于各个领域,首先对BGA器件进行了简介,在给出其焊点质量检验合格判据后,针对BGA组装过程中常见现象空洞,分析了空洞产生的机理,并进一步说明空洞对焊点可靠性的影响。最后根据空洞产生机理提出了一些措施以减少和改... BGA器件已经广泛应用于各个领域,首先对BGA器件进行了简介,在给出其焊点质量检验合格判据后,针对BGA组装过程中常见现象空洞,分析了空洞产生的机理,并进一步说明空洞对焊点可靠性的影响。最后根据空洞产生机理提出了一些措施以减少和改善空洞。 展开更多
关键词 空洞 焊点 可靠性 bga
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BGA双面再流焊开裂焊点裂纹特征和形成机理及控制 被引量:2
9
作者 贾忠中 《电子工艺技术》 2017年第3期184-186,共3页
BGA焊点的开裂现象,有十几种之多,失效的机理不同,形成的裂纹形貌特征也不同。将介绍一种布局在PCB的底面、在PCBA第二次焊接后看到的开裂现象。
关键词 bga 双面再流焊 开裂 焊点裂纹 机理及控制
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BGA无铅焊点在跌落冲击载荷下的失效模式与机理 被引量:5
10
作者 温桂琛 雷永平 +3 位作者 林健 顾建 白海龙 秦俊虎 《焊接学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2016年第5期73-76,132,共4页
通过PCB组件跌落试验,探究了BGA封装的失效模式和失效机理;分析了焊球中裂纹的产生机理及扩展特点.结果表明,BGA封装失效的主要原因是焊球裂纹和PCB结构性断裂.焊球裂纹主要有两种,分别位于焊球顶部和根部,且产生机理不同.焊球顶部由于... 通过PCB组件跌落试验,探究了BGA封装的失效模式和失效机理;分析了焊球中裂纹的产生机理及扩展特点.结果表明,BGA封装失效的主要原因是焊球裂纹和PCB结构性断裂.焊球裂纹主要有两种,分别位于焊球顶部和根部,且产生机理不同.焊球顶部由于重力导致局部钎料不足而使焊球与阻焊膜之间产生间隙,进而形成裂纹;焊球根部则是由于残留助焊剂与焊球和阻焊膜之间存在间隙,在载荷作用下形成裂纹.裂纹的扩展与裂纹源的初始位置、方向及应力情况有关,焊盘与焊球的相对位置对裂纹的扩展有重要影响. 展开更多
关键词 bga 无铅焊点 跌落冲击 失效模式 失效机理
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弯曲应力状况下微型BGA封装可靠性比较研究
11
作者 杨建生 《电子工业专用设备》 2009年第9期32-37,48,共7页
微型球栅阵列(μBGA)是芯片规模封装(CSP)的一种形式,已发展成为最先进的表面贴装器件之一。在最新的μBGA类型中使用低共晶锡-铅焊料球,而不是电镀镍金凸点。采用传统的表面贴装技术进行焊接,研讨μBGA的PCB装配及可靠性。弯曲循环试验... 微型球栅阵列(μBGA)是芯片规模封装(CSP)的一种形式,已发展成为最先进的表面贴装器件之一。在最新的μBGA类型中使用低共晶锡-铅焊料球,而不是电镀镍金凸点。采用传统的表面贴装技术进行焊接,研讨μBGA的PCB装配及可靠性。弯曲循环试验(1000~-1000με),用不同的热因数(Qη)回流,研究μBGA、PBGA和CBGA封装的焊点疲劳失效问题。确定液相线上时间,测定温度,μBGA封装的疲劳寿命首先增大,接着随加热因数的增加而下降。当Qη接近500s·℃时,出现寿命最大值。最佳Qη范围在300~750s·℃之间,此范围如果装配是在氮气氛中回流,μBGA封装的寿命大于4500个循环。采用扫描电子显微镜(SEM),来检查μBGA和PBGA封装在所有加热因数状况下焊点的失效。每个断裂接近并平行于PCB焊盘,在μBGA封装中裂纹总是出现在焊接点与PCB焊盘连接的尖角点,接着在Ni3Sn4金属间化合物(IMC)层和焊料之间延伸。CBGA封装可靠性试验中,失效为剥离现象,发生于陶瓷基体和金属化焊盘之间的界面处。 展开更多
关键词 循环弯曲 疲劳失效 金属间化合物 微型bga 可靠性 焊点
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弯曲应力状况下微型BGA封装可靠性比较
12
作者 杨建生 《电子与封装》 2009年第11期12-16,20,共6页
文中采用传统的表面贴装技术进行焊接,研讨μBGA的PCB装配及可靠性。弯曲循环试验(1000με~-1000με),用不同的热因数(Q_η)回流,研究μBGA、PBGA和CBGA封装的焊点疲劳失效问题。确定液相线上时间,测定温度,μBGA封装的疲劳寿命首先... 文中采用传统的表面贴装技术进行焊接,研讨μBGA的PCB装配及可靠性。弯曲循环试验(1000με~-1000με),用不同的热因数(Q_η)回流,研究μBGA、PBGA和CBGA封装的焊点疲劳失效问题。确定液相线上时间,测定温度,μBGA封装的疲劳寿命首先增大,接着随加热因数的增加而下降。当Q_η接近500s·℃时,出现寿命最大值。最佳Q_η范围在300 s·℃~750s·℃之间,此范围如果装配是在氮气氛中回流,μBGA封装的寿命大于4 500个循环。采用扫描电子显微镜(SEM),来检查μBGA和PBGA封装在所有加热因数状况下焊点的失效。每个断裂接近并平行于PCB焊盘,在μBGA封装中裂纹总是出现在焊接点与PCB焊盘连接的尖角点,接着在Ni_3Sn_4金属间化合物(IMC)层和焊料之间延伸。CBGA封装可靠性试验中,失效为剥离现象,发生于陶瓷基体和金属化焊盘之间的界面处。 展开更多
关键词 循环弯曲 疲劳失效 金属间化合物 微型bga 可靠性 焊点
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孔洞对BGA封装焊点热疲劳可靠性影响的概率分析 被引量:5
13
作者 王祥林 徐颖 《电子元件与材料》 CAS CSCD 2017年第11期83-90,共8页
采用有限元分析、蒙特卡罗模拟和概率分析相结合的方法,研究了BGA(Ball Grid Array)封装焊点内部孔洞对焊点的热疲劳可靠性的影响规律。先用X-Ray检测仪对BGA封装进行无损检测,获得焊点内部孔洞尺寸及其分布规律,然后通过有限元软件建立... 采用有限元分析、蒙特卡罗模拟和概率分析相结合的方法,研究了BGA(Ball Grid Array)封装焊点内部孔洞对焊点的热疲劳可靠性的影响规律。先用X-Ray检测仪对BGA封装进行无损检测,获得焊点内部孔洞尺寸及其分布规律,然后通过有限元软件建立BGA封装模型进行计算分析,针对危险焊点进行参数化建模,建立了含孔洞尺寸及位置呈随机分布的焊点有限元分析子模型。通过后处理获取塑性应变能密度作为响应值,构造随机孔洞参数与塑性应变能密度的代理模型,并运用蒙特卡罗随机模拟方法,研究了孔洞对焊点热疲劳可靠性的影响规律。结果表明,除了位于焊点顶部区域的小孔洞以外,大部分孔洞的出现都会提高焊点的热疲劳可靠性。 展开更多
关键词 bga封装 焊点 孔洞 有限元 概率分析 热疲劳可靠性
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基于有限元仿真的BGA焊点可靠性分析 被引量:3
14
作者 孙勤润 杨雪霞 +2 位作者 刘昭雲 王超 彭银飞 《电子器件》 CAS 北大核心 2022年第4期860-865,共6页
集成化与微型化是芯片集成电路产业发展的特点,其中芯片封装热振失效是影响其可靠性的重要原因。为进一步优化BGA焊点结构并提高可靠性,运用ANSYS将TOPLINE的BGA器件建成了3D模型,进行了数值模拟仿真后,利用田口正交稳健设计进行了BGA... 集成化与微型化是芯片集成电路产业发展的特点,其中芯片封装热振失效是影响其可靠性的重要原因。为进一步优化BGA焊点结构并提高可靠性,运用ANSYS将TOPLINE的BGA器件建成了3D模型,进行了数值模拟仿真后,利用田口正交稳健设计进行了BGA焊点结构优化。数值分析表明:芯片边角焊点为热失效关键焊点,距封装中心最远焊点为随机振动失效关键焊点;经田口正交优化热设计,焊点阵列为12×12,焊点径向尺寸为0.42 mm,焊点高度为0.38 mm,焊点间距为0.6 m;随机振动设计焊点间距为0.46 mm,焊点径向尺寸为0.42 mm,焊点阵列为10×10,焊点高度为0.30 mm。本研究中的分析成果对优化球珊阵列芯片封装焊点结构的设计,提升芯片封装器件结构稳定性具有重要意义,所提出的优化设计将对封测产业的生产具有一定的影响和价值。 展开更多
关键词 bga焊点 有限元 可靠性 田口正交 优化设计
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BGA封装用钨焊球焊点的热可靠性研究 被引量:2
15
作者 王文慧 赵兴科 +1 位作者 王世泽 赵增磊 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2022年第9期974-979,986,共7页
球栅阵列(BGA)封装结构组成材料之间线膨胀系数(CTE)的差异,容易造成使用过程中焊点内部热应力产生和累积,成为焊点失效的主要原因之一。针对CTE差异的问题,选用与芯片CTE相近的钨制造BGA焊球,并通过在钨球表面电镀铜改善其钎料润湿性... 球栅阵列(BGA)封装结构组成材料之间线膨胀系数(CTE)的差异,容易造成使用过程中焊点内部热应力产生和累积,成为焊点失效的主要原因之一。针对CTE差异的问题,选用与芯片CTE相近的钨制造BGA焊球,并通过在钨球表面电镀铜改善其钎料润湿性。使用SAC305焊膏制备了钨焊球与铜基板的单焊点试样。采用焊点剪切试验研究了170℃下热老化时间对钨焊球焊点热可靠性的影响。结果表明,焊点剪切强度随老化时长增加而明显下降。与焊态试样相比,经250 h老化处理后,焊点的平均剪切强度由57.9 MPa下降至36.6 MPa。随热老化时间增加,焊点的断裂位置由钎焊金属层转向钨核/铜壳层的界面。经250 h老化处理后,焊点的剪切断裂面出现了铜壳从钨颗粒表面剥落的现象。这意味着加强钨核与铜壳层电镀界面的结合强度有助于提高这种钨焊球焊点的热可靠性。 展开更多
关键词 bga封装 钨球 电镀铜层 焊点 热可靠性
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回流焊峰值温度对混装BGA焊点的影响研究 被引量:6
16
作者 张艳鹏 王威 +1 位作者 王玉龙 张雪莉 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2020年第5期86-89,共4页
针对当前大量使用有铅焊料焊接无铅BGA的实际现状,通过调控有铅制程回流曲线的峰值温度,研究其对混装BGA焊点坍塌高度、空洞率及微观组织的影响。结果表明,峰值温度从210℃提升至225℃,无铅BGA焊球能够全部充分坍塌且高度保持一致;峰值... 针对当前大量使用有铅焊料焊接无铅BGA的实际现状,通过调控有铅制程回流曲线的峰值温度,研究其对混装BGA焊点坍塌高度、空洞率及微观组织的影响。结果表明,峰值温度从210℃提升至225℃,无铅BGA焊球能够全部充分坍塌且高度保持一致;峰值温度为210℃时,混合焊点内的空洞率最低,随着峰值温度的升高,空洞尺寸和空洞率均有所增加;峰值温度为215℃时的微观组织最细小且尺寸分布最均匀,继续提升峰值温度,微观组织尺寸会随之增大。因此使用有铅焊料焊接无铅BGA的最佳峰值温度为215℃,与有铅制程保持一致。 展开更多
关键词 球栅阵列封装 峰值温度 混装焊点 坍塌高度 微观组织 空洞
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有铅焊膏和无铅BGA混装焊点的可靠性探索 被引量:6
17
作者 李龙 冯瑞 赵淑红 《电子工艺技术》 2018年第2期88-91,共4页
目前,无铅器件广泛应用于军用电子产品上,然而很多制造商会将无铅器件进行有铅化处理,这必然会带来其他不可控的因素,最根本的解决办法是通过工艺改进来兼容无铅器件。经过对有铅焊膏焊接无铅BGA的焊接机理进行分析,在设定的回流焊接参... 目前,无铅器件广泛应用于军用电子产品上,然而很多制造商会将无铅器件进行有铅化处理,这必然会带来其他不可控的因素,最根本的解决办法是通过工艺改进来兼容无铅器件。经过对有铅焊膏焊接无铅BGA的焊接机理进行分析,在设定的回流焊接参数下,使用Sn63Pb37焊膏焊接无铅BGA。混装焊点的X-RAY、金相切片和电镜扫描等质量分析结果显示:混装焊点质量符合要求,在混装焊点和有铅焊点经过500次温度循环试验和振动试验后,二者可靠性相差无几。 展开更多
关键词 有铅焊膏 无铅bga 混装焊点 可靠性
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PBGA封装体的热-结构数值模拟分析及其优化设计 被引量:5
18
作者 葛增杰 顾元宪 +1 位作者 靳永欣 赵国忠 《大连理工大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第5期633-640,共8页
基于热弹性力学和结构优化理论,针对典型的PBGA封装体在工作过程中的受热问题,建立了有限元数值模拟分析模型.模型中考虑了完全和部分两种焊点阵列形式,采用了基于散热功率的热生成加载、热循环加载和热循环、热生成综合加载三种方式.... 基于热弹性力学和结构优化理论,针对典型的PBGA封装体在工作过程中的受热问题,建立了有限元数值模拟分析模型.模型中考虑了完全和部分两种焊点阵列形式,采用了基于散热功率的热生成加载、热循环加载和热循环、热生成综合加载三种方式.计算结果与文献中的实验结果进行了比较,并讨论了各层材料的主要参数对封装体热-结构特性的影响.算例结果表明对电子封装体的热-结构特性分析采用有限元数值模拟是可行的,并据此分别以最大应力最小化和封装体质量最轻为目标,对封装体进行了优化设计,为提高封装件的可靠性和优化设计提供了理论依据. 展开更多
关键词 热弹性力学 有限元 焊点可靠性 热循环 热应力
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BGA焊点气孔对可靠性的影响及其改善措施 被引量:6
19
作者 江进国 毛志兵 +1 位作者 孙煜 何翅飞 《焊接技术》 北大核心 2007年第4期66-69,共4页
结合实际工作中的经验和体会,探讨球栅阵列元器件焊点的气孔现象及其产生机理,重点讨论气孔与焊点可靠性的关系,认为非焊点与基板界面处(IMC)及焊点和BGA的Substrate结合处的气孔对焊点可靠性的影响不是很显著。最后,通过对人、机、料... 结合实际工作中的经验和体会,探讨球栅阵列元器件焊点的气孔现象及其产生机理,重点讨论气孔与焊点可靠性的关系,认为非焊点与基板界面处(IMC)及焊点和BGA的Substrate结合处的气孔对焊点可靠性的影响不是很显著。最后,通过对人、机、料、法、环5个环节进行分析,找到避免产生气孔的一些途径。 展开更多
关键词 球栅阵列 气孔 机理 焊点可靠性
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BGA焊点失效分析与改善 被引量:3
20
作者 施纪红 《热加工工艺》 CSCD 北大核心 2012年第17期208-210,共3页
以实际工作经验和测试为基础,就BGA焊点缺陷表现、形成原因及检测方法等问题展开论述。通过两个典型生产案例对焊接中出现的空洞和枕头效应的形成原因进行了分析和归纳,并对改善BGA焊点质量提出了一些建议。
关键词 bga 空洞 回流焊接 枕头效应 温度曲线
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