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题名热循环条件下BGA叠层焊点可靠性研究及参数优化
被引量:1
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作者
朱淼
杨雪霞
孙艳玺
王则
邢学刚
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机构
太原科技大学应用科学学院
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出处
《电子元件与材料》
CAS
北大核心
2024年第7期892-898,共7页
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基金
国家自然科学基金(11602157)
山西省自然科学基金(20210302123220,202203021212303,20210302124389)。
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文摘
构建叠层焊点最优结构参数,提高BGA叠层焊点热循环条件下的可靠性具有重要的意义。建立有限元模型,分析叠层焊点在热循环条件下应力应变,运用田口正交法和曲面响应法,将焊点的高度、直径、间距、阵列作为实验设计的变量,关键焊点最大等效塑性应变作为优化目标。结果表明:焊点阵列对优化目标的影响权重最大,优化后的BGA叠层焊点结构参数如下,田口正交法:单层焊点高度为0.38 mm,焊点间距为0.55 mm,焊点直径为0.44 mm,焊点阵列为8×8;曲面响应法:单层焊点高度为0.387 mm,焊点间距为0.573 mm,焊点直径为0.446 mm,焊点阵列为8×8。对优化前后的寿命进行预测,优化后的叠层焊点寿命约是优化前的3.75倍。
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关键词
有限元法
实验设计
热循环
bga叠层焊点
参数优化
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Keywords
finite element method
experimental design
thermal cycling
bga double-stacked solder joints
parameter optimization
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分类号
TN405
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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