基于March算法的嵌入式存储器BIST技术

目前应用最多的存储器就是嵌入式存储器,这一类型的存储器在长期的发展进程中,规模和容量逐渐扩大,这就使得针对存储器的测试时间以及成本都相应的增加,为了能够使得存储器的测试成本相应减少,优化嵌入式存储器的测试时间,就需要合理的应用BIST技术,并且在March算法的基础上,更好的发挥出BIST技术的应用效应。本文主要就基于March算法的嵌入式存储器BIST技术进行了简要的分析,仅供同行交流。

利用BIST技术测试并诊断嵌入式存储器

目前,绝大多数集成电路(IC)都设计有嵌入式存储器,IC的复杂化要求对它进行比传统的合格/不合格更深入一步的测试。随着IC几何尺寸日益浓缩,在制作工艺中应实现诊断测试和内置自修复(BISR)等新技术。在片上系统中,嵌入式存储器是最密集的器件,约占总面积的90％;它也是对工艺中的缺陷最敏感的器件,在片上系统内对它进行充分的测试是十分必要的。