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一种有效的双矢量测试BIST实现方案 |
张金林
陈朝阳
沈绪榜
张晨
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《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
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2004 |
2
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2
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用内建自测试(BIST)方法测试IP核 |
赵尔宁
邵高平
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《微计算机信息》
北大核心
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2005 |
5
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BIST电路在嵌入式非易失性存储器可靠性测试中的应用 |
安宝森
乔树山
刘琦
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《电子设计工程》
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2019 |
1
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4
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基于折叠重排的低功耗BIST技术研究 |
谈恩民
詹琰
刘建军
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《计算机应用研究》
CSCD
北大核心
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2011 |
0 |
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5
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基于折叠技术和统计码优化的BIST方案 |
方祥圣
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《计算机工程与应用》
CSCD
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2013 |
0 |
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FPGA芯片的链结构LUT自测试方法研究 |
张双悦
李硕
王红
杨士元
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《计算机科学》
CSCD
北大核心
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2014 |
1
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结合TRC和Golomb编码的二维测试数据压缩 |
高紫俊
许晶
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《大庆石油学院学报》
CAS
北大核心
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2011 |
0 |
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基于改进最小二乘支持向量机的FPGA焊点失效故障评估方法研究 |
佐磊
徐相相
陈昊
姜学义
朱良帅
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《电子测量与仪器学报》
CSCD
北大核心
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2021 |
3
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线性反馈移位寄存器的设计与仿真 |
张州
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《黑龙江生态工程职业学院学报》
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2021 |
1
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嵌入式网卡芯片设计及其低功耗DFT技术考虑 |
郑靖华
郑朝霞
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《计算机与数字工程》
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2009 |
1
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1T1R结构RRAM的故障可测性设计 |
陈传兵
许晓欣
李晓燕
李颖弢
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《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
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2018 |
0 |
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BIST(Build-in Self Test)在FPD-LINK产品设计中的运用 |
邱杰
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《电子技术(上海)》
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2018 |
0 |
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