电传飞控计算机子系统BIT设计研究

飞控计算机子系统是飞行控制系统的计算和控制核心,影响着飞行安全。采用BIT进行故障检测和定位可以显著提高飞控系统安全性。现阶段的BIT设计研究中,系统级偏向于顶层功能要求的论述,计算设备的BIT研究偏重于通用计算机的软硬件论述,飞控系统向计算机子系统的需求传递和可追溯性不强,也缺乏基于系统工程的飞控计算机子系统BIT设计流程研究。通过对飞控计算机子系统架构的分析得出其通用的组成模块。以此为基础开展BIT设计研究,分析了BIT的分类及特点,提出了BIT设计的通用需求,设计了基于系统工程的飞控计算机子系统BIT设计流程,重点从飞控系统功能需求出发详细论述了飞控计算机子系统BIT的初始化、工作模态转换、测试项目、执行时序及与飞控系统功能高关联度的BIT项目测试的设计方法原理,分析了故障预测及健康管理的设计方法和减少虚警的措施。采用该设计流程和详细设计原理方法的飞控计算机子系统BIT设计通过了地面综合试验的验证。

装备测试性工程技术现状与新进展

装备测试性工程技术起源于20世纪80年代,是先进测试技术与系统工程紧密结合的产物。该技术经过40余年的发展逐渐成熟,在测试性需求分析与分配、测试性建模与方案优化设计、机内测试(Built⁃In Test,BIT)与自动测试系统(Automatic Test System,ATS)设计、测试性试验与评估等方面形成了较完善的理论体系,并在各型装备中得到了普遍应用,取得了较大的军事和社会效益。今后测试性基础研究和应用探索究竟该如何开展,未来发展方向是怎样的,是亟需深入探讨的问题。在对测试性工程技术的产生背景与需求、概念与内涵、发展历程、关键技术现状与新进展进行剖析的基础上,指出了目前测试性工程技术研究存在的问题和今后研究突破的方向。

诊断间歇故障降低BIT虚警

间歇故障的存在及影响是产生BIT(Built-inTest)虚警的一个重要原因.为降低间歇故障引起的虚警,提出一种三状态方法,利用双阈值来区分系统的正常、间歇、永久故障三种状态,并分析得到间歇故障对BIT影响的定量关系.与传统两状态方法相比,基于三状态方法的BIT通过诊断间歇故障,不仅有效地抑制间歇故障引起的虚警,而且还能提高故障检测率.

基于边界扫描技术的板级BIT设计及测试策略

随着超大规模集成电路 (VLSI)、表面安装器件 (SMD)、多层印制电路板 (MPCB)等技术的发展 ,常规BIT设计面临挑战。为解决上述问题 ,本文提出了一种基于边界扫描技术的板级BIT的扫描器件置入法及其测试策略。该方法操作简单 ,经济实用 ,一旦广泛使用 ,无疑将会有很好的军事经济效益。

基于BIT的导弹测试与诊断技术

BIT技术是实现可测试性设计的重要技术手段之一,将其应用到导弹测试与诊断领域,能有效提高其测试与诊断效果;目前,基于BIT的导弹测试与诊断主要依靠的是弹上总线技术和边界扫描技术,利用边界扫描技术获取相关的测试信息,利用弹上总线进行有效的信息传输与共享,并通过BIT综控计算机进行最后的故障诊断;文中对有关的热点技术包括全弹综合BIT体系构建技术,导弹BIT设计技术、BIT测试向量生成技术、导弹BIT验证技术等多项内容进行了阐述,最后给出了BIT在导弹系统应用中的发展趋势。

电子系统BIT设计技术初探

BIT(自检)是电子系统可测试性设计的重要组成部分,是电子系统或设备内部检测和隔离故障的重要手段。首先对电子系统BIT设计的定性及定量要求、基本方法及设计思路进行系统的阐述分析,结合电子系统或设备故障检测与隔离的难点,对国内外电子系统的可测试性新技术进行了介绍,并对这些技术应用于电子系统BIT的方法及可行性进行了分析说明。最后提出通过制定良好的BIT层次结构,运用边界扫描、维修总线等新技术,以及并行设计等开发模式,可以极大地提高电子系统或装备的BIT能力。

BIT技术的发展现状与应用分析

BIT技术的性能主要从故障探测、故障定位(针对单一的外场可更换单元)、虚假警报、以及错误诊断等方面加以说明。对于正确隔离故障来说,BIT所制定的目标会随着BIT等级的不同而有所变化。BIT等级越低,正确隔离故障的总体能力就越低;BIT等级越高,正确隔离故障的总体能力就越高。

智能BIT技术

首先介绍了智能BIT的提出和内涵 ,随后对几种典型的智能BIT技术及其降低虚警的原理、智能BIT的技术特点进行了剖析 ,最后分析了智能BIT技术在航空领域的应用及发展前景。

系统级BIT设计中的测试选择方法

根据系统级BIT设计的要求,明确了系统级BIT设计中测试选择所需解决的问题,提出了测试选择的基本思想;在此基础上,利用系统级故障隔离的间接熵法实现了系统级BIT设计中的测试选择,并引入测试时间和故障发生频率参数对间接熵法进行了修正,获得了可以较快地判断系统是否可用并隔离大概率故障的测试集。理论分析及实验数据表明,该文提出的系统级BIT设计中测试选择方法是有效的。

边界扫描的BIT在某新型机载雷达中的应用

针对某新型机载雷达BIT存在的问题,提出了基于边界扫描的板级BIT测试技术。首先介绍了边界扫描测试技术的产生背景和基本原理,分析了将其应用于新型机载雷达的可能性,然后给出基于边界扫描的板级BIT设计方案和板上测试机的组成原理,经分析证明该方案能够有效地改善和提高新型机载雷达的BIT性能。

多电飞机电气系统BIT虚警分析及解决方案

对多电飞机电气系统机内测试(Built-in Test, BIT) 虚警产生的原因进行了分析和总结, 从多电飞机的电源系统、配电系统、电力作动系统和综合控制系统四个方面阐述电气系统的虚警问题, 并针对这几部分的虚警原因, 从BIT的设计方案、系统仿真建模、硬件及软件等几个方面, 提出了一个电气系统BIT虚警问题的系统解决方案, 为多电飞机电气系统测试性及可靠性的深入研究打下了基础。

机载电子设备BIT技术研究

BIT(built-in test)技术是影响机载电子设备的测试性、维修性和保障性的关键问题之一,如何合理有效地设计BIT是BIT技术研究的重要内容。首先,对BIT技术发展的现状进行总结并指出所存在的问题。然后,结合实际工程经验总结出了规范BIT设计的要求和方法,同时对BIT中常出现的虚警问题进行了原因分析,并分别从软件和硬件上给出了减少虚警的方法。实践表明,以上方法能有效的减少虚警的出现。

一种数字控制器的嵌入式BIT系统设计

针对某导弹测试周期长、信号测试困难、故障诊断能力不足等缺点，提出了采用数字控制器嵌入式BIT系统的设计思想，并给出了软、硬件设计思路和相应的测试步骤。

飞行器系统级BIT设计与验证技术

为解决飞行器系统在设计集成与验证阶段机内测试(BIT)的设计技术与能力验证的通用技术性问题,从分析国外BIT发展趋势、最新技术以及飞行器系统故障发生特点和现状入手,提出了飞行器系统BIT设计的通用技术方法与工程流程,分析了系统运行与故障活动的参数表征、逻辑关系,提出了系统BIT综合设计技术、建模方法以及故障验证的原理方法。通过对典型实例系统初步探索,构建了相应功能故障模型和验证控制参数,应用表明本方法具有工程实用性。

电子设备自动测试系统的环绕BIT设计

介绍了环绕BIT设计原理,结合某型自动测试系统的结构特点,针对系统不同组成模块(通讯、AD、DA、DI、DO等)采取不同的环绕BIT设计处理方式,并采用流程解析的方法来简化BIT流程设计,实现了系统的机内检测。实验表明,设计满足该自动测试系统自检和故障隔离的需要,提高了测试效率,提供了可靠的维修策略和依据。

基于BIT的导弹测试技术研究

针对现在导弹测试中存在的自动化程度不高、过于依赖人的现状,提出BIT的智能设计实现方法并给出基于BIT技术的导弹测试方案,对BIT体系结构和智能BIT故障诊断进行详细设计,实现导弹测试的快速、高效、准确。研究结果表明该方案有效可行,对在导弹测试中的应用给予了展望。

基于最优未知输入观测器的BIT降虚警技术

针对基于模型的机电控制系统BIT中的虚警问题,分析了系统中的信息不确定性和产生虚警的机理,基于最优未知输入观测器方法设计了BIT故障检测诊断系统,该系统对信息不确定性具有较强的鲁棒性,能够充分地抑制虚警。在某机电跟踪与稳定伺服平台BIT系统上进行了试验研究,结果表明机理分析正确,所提方法有效。

模拟和混合信号BIT技术

BIT技术在数字电路测试中取得了巨大的成功。而模拟电路的特点决定了BIT技术在其应用存在一定的难度。笔者对模拟和混合扫描总线、模拟BIT。

基于故障树分析的航空电子系统BIT诊断策略设计

为解决故障搜索时的多径问题,以故障树模型为基础,综合考虑可靠性和测试费用等因素提出了一种航空电子系统BIT诊断策略设计新方法;引入费用诊断重要度(CDIF)来衡量测试费用对BIT故障诊断的影响,利用二元决策图对故障树进行定性和定量分析,据此构建出基于最小割集和CDIF的BIT诊断决策树;在某型机载INS/GPS组合导航系统BIT设计中的应用验证了该方法的有效性与实用性,与基于AO*搜索和基于贪婪算法的两种诊断策略设计方法比较可知该方法的计算复杂度更小。

一种将测试集嵌入到Test-per-Clock位流中的方法

集成电路测试方案的关键在于测试向量产生器的设计.传统的测试方法在测试向量生成、测试应用的过程中,没有充分利用测试数据位流来构建测试向量,从而造成了测试时间和存储开销的增加.为了减少测试成本,提出了一种基于test-per-clock模式的内建自测试方法.通过对线性移位测试结构的分析,提出了一种递进式的反复测试生成方法:顺序求解输入位流,逆向精简,多次求解以获得更优值,最终将测试集以较小的代价嵌入到test-per-clock位流中.在测试应用时,只需存储求解后的最小输入流,通过控制线性移位的首位从而生成所需的测试集.实验结果表明,在达到故障覆盖率要求的前提下,能显著地减少测试应用时间和存储面积开销.