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题名三重表面降场UHVLDMOS的仿真分析
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作者
方绍明
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机构
深圳市明微电子股份有限公司
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出处
《电子技术(上海)》
2020年第3期23-25,共3页
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文摘
提出三重表面降场(Triple RESURF)UHVLDMS的两种结构:无NTOP及有NTOP结构,分别对其击穿耐压和导通电阻进行仿真,得出BVdss,Rdson后获得最优工艺条件,并换算出Rsp,与双重resurf的Rsp对比,无Ntop结构具有10%左右的优势,有NTOP结构具有32%左右的优势。并且,提出三重降场式UHVLDMOS需要MeV注入设备的需要,且对关键工艺剂量(DN,PT)仿真拉偏,观察其工艺余量。
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关键词
集成电路设计
三重表面降场技术
UHVLDMOS
仿真
耐压
导通电阻
比导通电阻
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Keywords
IC design
Triple RESURF
UHVLDMOS
simulation
bvdss
Rdson
Rsp
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分类号
TN386
[电子电信—物理电子学]
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