抗辐射SRAM测试系统的设计与实现

本文搭建了一种测试SRAM芯片耐电离辐射能力的系统。该系统可确定SRAM芯片在辐射环境下的最大抗总剂量率,也可为评价SRAM芯片的单粒子效应敏感性提供数据。该系统支持远程数据传输,可实时监测sram芯片的功耗,也可实时判断sram芯片读写功能正确与否。