几何分布可靠度的Bayes置信下限

在生产、生活中越来越多的产品要求可靠性指标,为此需要对产品进行可靠性测试.几何分布在测试产品寿命的研究中有着重要的运用,因此对几何分布的可靠性分析具有理论和实际应用价值.该文用k因子法讨论几何分布可靠度的置信限,在产品有历史数据和历史数据缺失的情况下分别求出几何分布可靠度置信下限的表达式,并用Matlab编程计算,该方法不但比传统方法计算简便而且计算结果精度高.

一次性作用产品可靠度的Bayes置信下限

针对高价值一次性作用产品的小样本可靠性评估问题 ,选用带有 k因子的先验分布 ,基于贝塔分布的双层先验分布 ,以及基于均匀分布的双层先验分布 ,研究了一次性作用产品的可靠度置信下限的估计方法 .由模拟研究得出 ,在有历史数据时 ,基于 k因子贝塔先验分布的估计方法比 WCF方法精确 ;在有不完全历史信息时 ,基于贝塔双层先验分布的方法比基于均匀双层先验分布的方法精确 .

对数正态型元件贮备系统可靠性的置信下限

本文研究了由k个相互独立的元件和一个转换开关组成的贮备系统。假设元件的寿命服从对数正态分布,转换开关为成败型,本文给出了系统可靠性的表达式、点估计以及Fiducial和Bayes置信下限。此外,还给出了系统可靠性的点估计以及置信下限的数值计算方法。在小样本情形下,通过数值比较研究了Fiducial置信下限和Bayes置信下限的覆盖率性质。

Rayleigh型元件中贮备系统可靠性的近似置信下限

研究了由k个相互独立的元件和一个转换开关组成的贮备系统。假设原件的寿命服从Rayleigh分布,转换开关为成败型,转换开关为成败型,分别在P已知和未知状况下,给出了系统可靠性的表达式、点估计及Fiducial和Bayes置信下限的计算方法。最后,通过实例进行了计算。