Bi_2Sr_2CaCu_2O_(8+δ)体系中顶点氧振动的Raman谱研究

通过 Raman散射声子谱研究了 Pr掺杂对 Bi2 2 12体系顶点氧振动频率的影响 ,发现掺杂导致振动频率向低频方向移动。分析表明体系中 Bi O双层收缩是导致声子发生软化的主要原因。结合体系的结构特征 ,从能量关系角度上讨论了 Bi O双层随掺杂发生收缩的原因。