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铁电薄膜Bi_(3.2)Nd_(0.8)Ti_3O_(12)的制备及其特性的研究
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作者 王宁章 李兴教 《压电与声光》 CAS CSCD 北大核心 2005年第5期523-525,共3页
用脉冲激光淀积法成功地在p-S i底片上制备了高c轴取向的B i3.20N d0.80T i3O12铁电薄膜,研究了薄膜的铁电性能及疲劳特性。研究表明,用钕N d替代B i的B i3.20N d0.80T i3O12薄膜具有较好电滞回线(P-E),在应用电压为10 V,测试频率为1MH ... 用脉冲激光淀积法成功地在p-S i底片上制备了高c轴取向的B i3.20N d0.80T i3O12铁电薄膜,研究了薄膜的铁电性能及疲劳特性。研究表明,用钕N d替代B i的B i3.20N d0.80T i3O12薄膜具有较好电滞回线(P-E),在应用电压为10 V,测试频率为1MH z下,其剩余极化(Pr)及矫顽场(Ec)分别达到27μC/cm2和70 kV/cm。更为重要的是,A u/B i3.20N d0.80T i3O12/p-S i(100)电容在读/写开关次数达到1010后仍表现出较好的抗疲劳特性。 展开更多
关键词 铁电薄膜 bi3.2nd0.8ti3o12 剩余极化 脉冲激光淀积
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Sol-gel法制备Bi_(3.15)Nd_(0.85)Ti_3O_(12)铁电薄膜的性能研究 被引量:2
2
作者 李佳 于军 +3 位作者 彭刚 王耘波 高俊雄 周文利 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第1期56-58,共3页
用sol-gel法成功制备了Bi3.15Nd0.85Ti3O12铁电薄膜,XRD结果表明制备的BNT薄膜具有(117)和(00l)的混合取向,FE-SEM显示薄膜表面光滑致密,颗粒均匀。剩余极化Pr和矫顽场Ec分别为29.5μC/cm2和100kV/cm,经过109次循环后几乎无疲劳。
关键词 SOL-GEL BI3.15ND0.85TI3O12 铁电薄膜
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Sol-Gel法制备Bi_(3.15)Nd_(0.85)Ti_3O_(12)铁电薄膜 被引量:2
3
作者 付承菊 黄志雄 +1 位作者 李杰 郭冬云 《压电与声光》 CSCD 北大核心 2010年第2期274-276,共3页
采用溶胶-凝胶(Sol-Gel)法在Pt/Ti/SiO2/Si衬底上制备Bi3.15Nd0.85Ti3O12薄膜,发现制备的薄膜具有单一的钙钛矿晶格结构,且表面平整致密。对Bi3.15Nd0.85Ti3O12薄膜的电学性能进行了研究。结果表明,室温下,在测试频率1 MHz时,其介电常数... 采用溶胶-凝胶(Sol-Gel)法在Pt/Ti/SiO2/Si衬底上制备Bi3.15Nd0.85Ti3O12薄膜,发现制备的薄膜具有单一的钙钛矿晶格结构,且表面平整致密。对Bi3.15Nd0.85Ti3O12薄膜的电学性能进行了研究。结果表明,室温下,在测试频率1 MHz时,其介电常数为213,介电损耗为0.085;在测试电压为350 kV/cm,其剩余极化值、矫顽场强分别为39.1μC/cm21、60.5 kV/cm;表现出良好的抗疲劳特性和绝缘性能。 展开更多
关键词 Bi3.15 Nd0.85 Ti3O12薄膜 溶胶凝胶(Sol-Gel)法 铁电性能 介电性能 漏电流
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Bi_(3.15)Nd_(0.85)Ti_3O_(12)纳米管阵列的制备与微结构表征 被引量:1
4
作者 周迪 胡永明 +4 位作者 胡正龙 邹亚囡 王钊 钱哲理 顾豪爽 《稀有金属材料与工程》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2009年第A02期234-236,共3页
采用溶胶凝胶法,在孔径为200nm的阳极氧化铝模板中制备了Bi3.15Nd0.85Ti3O12纳米管阵列。通过XRD、SEM、TEM、HRTEM、SAED和Raman光谱测试手段对纳米管阵列的物相、微结构和声子振动特性进行了表征。研究表明,所合成BNdT纳米管为钙钛矿... 采用溶胶凝胶法,在孔径为200nm的阳极氧化铝模板中制备了Bi3.15Nd0.85Ti3O12纳米管阵列。通过XRD、SEM、TEM、HRTEM、SAED和Raman光谱测试手段对纳米管阵列的物相、微结构和声子振动特性进行了表征。研究表明,所合成BNdT纳米管为钙钛矿相多晶结构,纳米管外径约为200nm,管壁厚约10nm,管径和长度与所用AAO模板尺寸一致。Raman光谱分析表明,Nd离子取代了类钙钛矿层中A位的Bi离子。 展开更多
关键词 Bi3.15Nd0.85Ti3O12纳米管 溶胶-凝胶 阳极氧化铝模板
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掺钕钛酸铋纳米结构的水热合成研究 被引量:1
5
作者 胡正龙 胡永明 +3 位作者 尤晶 周迪 邹亚囡 顾豪爽 《湖北大学学报(自然科学版)》 CAS 北大核心 2008年第4期374-377,共4页
以Bi(NO3)3.5H2O,Nd(NO3)3.6H2O和Ti(OC4H9)4为原料,NaOH为矿化剂,采用水热法合成铋层状钙钛矿掺钕钛酸铋(Bi3.15Nd0.85Ti3O12,BNdT)纳米结构.利用X射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)表征产物的晶相和形貌.研究反应温度、矿化剂浓度... 以Bi(NO3)3.5H2O,Nd(NO3)3.6H2O和Ti(OC4H9)4为原料,NaOH为矿化剂,采用水热法合成铋层状钙钛矿掺钕钛酸铋(Bi3.15Nd0.85Ti3O12,BNdT)纳米结构.利用X射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)表征产物的晶相和形貌.研究反应温度、矿化剂浓度和反应时间对水热合成BNdT纳米结构的影响.结果表明,在适当的水热反应条件下能有效合成BNdT纳米结构,在反应温度为150℃、175℃、200℃和220℃时分别形成球状、球状与片状共存、棒状和片状产物. 展开更多
关键词 BI3.15ND0.85TI3O12 水热法 纳米结构
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Bi_(3.15)Nd_(0.85)Ti_3O_(12)纳米结构的制备与XPS研究
6
作者 胡正龙 顾豪爽 +2 位作者 胡永明 周迪 邹亚囡 《压电与声光》 CSCD 北大核心 2009年第6期868-870,共3页
采用水热法在低温合成了铋层状钙钛矿结构Bi3.15Nd0.85Ti3O12(BNdT)纳米材料,利用X-射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)表征产物的晶相和形貌,研究了反应温度和聚乙烯醇(PVA)对水热合成BNdT纳米结构的影响,运用X-射线光电子能谱(XPS)对... 采用水热法在低温合成了铋层状钙钛矿结构Bi3.15Nd0.85Ti3O12(BNdT)纳米材料,利用X-射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)表征产物的晶相和形貌,研究了反应温度和聚乙烯醇(PVA)对水热合成BNdT纳米结构的影响,运用X-射线光电子能谱(XPS)对BNdT纳米结构的化学组分和元素价态进行了表征。结果表明,反应温度和PVA对水热合成BNdT纳米结构的形貌有较大影响;XPS研究显示BNdT纳米结构的表面存在氧空位和轻微的Bi过量。 展开更多
关键词 Bi3.15Nd0.85Ti3O12(BNdT) 水热法 纳米结构 X-射线光电子能谱(XPS)
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层状钙钛矿型Bi_(3.15)Nd_(0.85)Ti_3O_(12)铁电薄膜在LaNiO_3/Si上取向生长的TEM研究
7
作者 叶万能 王立华 +2 位作者 祁亚军 李金华 卢朝靖 《电子显微学报》 CAS CSCD 2008年第2期92-96,共5页
用溶胶-凝胶工艺在披覆了LaNiO3底电极的(100)Si衬底上制备了Bi3.15Nd0.85Ti3O12(BNdT)铁电薄膜。X射线衍射结果显示,LaNiO3层呈(110)择优取向,BNdT薄膜呈c轴和a/b轴混合择优取向。透射电镜观察表明,LaNiO3电极层和BNdT薄膜厚度分别约为... 用溶胶-凝胶工艺在披覆了LaNiO3底电极的(100)Si衬底上制备了Bi3.15Nd0.85Ti3O12(BNdT)铁电薄膜。X射线衍射结果显示,LaNiO3层呈(110)择优取向,BNdT薄膜呈c轴和a/b轴混合择优取向。透射电镜观察表明,LaNiO3电极层和BNdT薄膜厚度分别约为180nm和320nm。BNdT薄膜分为上下两层,厚约100nm的底层以薄片状c轴择优取向晶粒为主,在顶层许多柱状晶粒为a/b轴择优取向。讨论了BNdT薄膜在(110)LaNiO3电极上的择优取向生长机制。 展开更多
关键词 BI3.15ND0.85TI3O12 铁电薄膜 取向生长 透射电镜
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Bi_(3.15)Nd_(0.85)Ti_3O_(12)纳米管阵列的制备与微结构表征
8
作者 邹亚囡 胡永明 +4 位作者 胡正龙 周迪 钱哲理 王钊 顾豪爽 《湖北大学学报(自然科学版)》 CAS 北大核心 2009年第4期375-378,共4页
采用溶胶-凝胶法,在孔径为100 nm的阳极氧化铝模板中制备了Bi3.15Nd0.85Ti3O12(BNdT)纳米管阵列.通过XRD、SEM、TEM、HRTEM、SAED和Raman光谱测试手段对纳米管阵列的物相、微结构和声子振动特性进行了表征.研究表明,所合成BNdT纳米管为... 采用溶胶-凝胶法,在孔径为100 nm的阳极氧化铝模板中制备了Bi3.15Nd0.85Ti3O12(BNdT)纳米管阵列.通过XRD、SEM、TEM、HRTEM、SAED和Raman光谱测试手段对纳米管阵列的物相、微结构和声子振动特性进行了表征.研究表明,所合成BNdT纳米管为钙钛矿相多晶结构,纳米管外径约为100 nm,管壁厚约10 nm,长度达几个微米.Raman光谱分析表明,Nd离子部分取代了类钙钛矿层中A位的Bi离子. 展开更多
关键词 Bi3.15Nd0.85Ti3O12纳米管阵列 溶胶-凝胶 阳极氧化铝模板
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Nd掺杂Bi_4Ti_3O_(12)陶瓷样品的铁电、介电性能
9
作者 陆文峰 毛翔宇 陈小兵 《扬州大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 2005年第4期24-27,共4页
层状钙钛矿铁电体材料Bi4-xNdxTi3O12 (x=0.0~0.9)陶瓷样品适量Nd掺杂可提高Bi4Ti3O12 (BIT)的铁电性能. 当掺杂量为0.6时,样品的剩余极化达到最大值. 样品的相变温度(tc)随掺杂量的增加而降低,当掺杂量大于0.6时, tc下降速率增大. 随... 层状钙钛矿铁电体材料Bi4-xNdxTi3O12 (x=0.0~0.9)陶瓷样品适量Nd掺杂可提高Bi4Ti3O12 (BIT)的铁电性能. 当掺杂量为0.6时,样品的剩余极化达到最大值. 样品的相变温度(tc)随掺杂量的增加而降低,当掺杂量大于0.6时, tc下降速率增大. 随着Nd含量的增加(x>0.6), 样品的弛豫程度明显提高. Nd掺杂降低了样品的氧空位浓度,提高了BIT样品的铁电性能. 展开更多
关键词 Bi4Ti3O12陶瓷 ND掺杂 剩余极化 介电性能
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Bi3.2La0.8Ti3O12铁电薄膜在不同退火条件下的取向研究
10
作者 贺海燕 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第A02期767-770,共4页
应用金属有机溶液沉积法在p-Si(100)基片上成功地制备了抗疲劳B也Bi3.2La0.8Ti3O12铁电薄膜。应用XRD分析研究了薄膜在各种工艺条件下的形成和取向。实验结果表明在400℃预处理10min后增大700℃退火时间可以显著增大薄膜的(200)取... 应用金属有机溶液沉积法在p-Si(100)基片上成功地制备了抗疲劳B也Bi3.2La0.8Ti3O12铁电薄膜。应用XRD分析研究了薄膜在各种工艺条件下的形成和取向。实验结果表明在400℃预处理10min后增大700℃退火时间可以显著增大薄膜的(200)取向,与先驱体溶液的柠檬酸含量无关。高柠檬酸含量增大薄膜的厚度并有助于未预处理薄膜的c-取向。 展开更多
关键词 Bi3.2La0.8Ti3O12 铁电薄膜 工艺 取向
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0.2BiFeO_3-0.8Bi_4Ti_3O_(12)固熔薄膜的电性质
11
作者 刘红日 《三峡大学学报(自然科学版)》 CAS 2005年第5期478-480,共3页
用溶胶-凝胶方法在LaNiO3包覆的Si(111)衬底上制备了BiFeO3掺杂的Bi4Ti3O12薄膜,XRD研究表明薄膜呈完全随机取向,通过BiFeO3的掺杂使Bi4Ti3O12层状钙钛矿的C轴缩短.铁电性测试的结果表明,薄膜的剩余极化强度为2.0μC/cm2,略小于用溶胶-... 用溶胶-凝胶方法在LaNiO3包覆的Si(111)衬底上制备了BiFeO3掺杂的Bi4Ti3O12薄膜,XRD研究表明薄膜呈完全随机取向,通过BiFeO3的掺杂使Bi4Ti3O12层状钙钛矿的C轴缩短.铁电性测试的结果表明,薄膜的剩余极化强度为2.0μC/cm2,略小于用溶胶-凝胶方法制备的纯Bi4Ti3O12薄膜的剩余极化强度.漏电流测试结果表明薄膜导电机构满足公式. 展开更多
关键词 0.2BiFeO3-0.8Bi4Ti3O12薄膜 掺杂 漏电流
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在(001)SrRuO3/(001)SrTiO3上外延生长c轴取向Bi3.15Nd0.85Ti3O12铁电薄膜的显微结构研究
12
作者 王立华 李金华 +3 位作者 祁亚军 卢朝靖 YANG Hao JIA Quan-xi 《电子显微学报》 CAS CSCD 2008年第5期352-357,共6页
用脉冲激光沉积在(001)SrRuO3/(001)SrTiO3上外延生长了c轴取向的Bi3.15Nd0.85Ti3O12(BNdT)铁电薄膜。SrRuO3底电极层厚约117nm,BNdT薄膜厚~35nm。X射线衍射(XRD)和透射电镜(TEM)观察证实了SrRuO3层和BNdT薄膜的外延生长。通过TEM平面... 用脉冲激光沉积在(001)SrRuO3/(001)SrTiO3上外延生长了c轴取向的Bi3.15Nd0.85Ti3O12(BNdT)铁电薄膜。SrRuO3底电极层厚约117nm,BNdT薄膜厚~35nm。X射线衍射(XRD)和透射电镜(TEM)观察证实了SrRuO3层和BNdT薄膜的外延生长。通过TEM平面样品观察,在SrRuO3/BNdT界面附近看到了两种衬度处于不同高度的失配位错网,位错线沿<110>走向,其柏格斯矢量沿[110]或[110]方向有分量,在[001]方向上可能没有分量。讨论了位错的形成机制。 展开更多
关键词 BI3.15ND0.85TI3O12 铁电薄膜 外延生长 透射电镜 失配位错
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在(001)Y-ZrO_2上沿a/b轴取向生长Bi_(3.15)Nd_(0.85)TiO_(12)铁电薄膜
13
作者 孙旭辉 叶万能 +1 位作者 夏临华 卢朝靖 《青岛大学学报(自然科学版)》 CAS 2009年第1期41-44,共4页
用sol-gel工艺在(001)钇稳定ZrO2(YSZ)单晶衬底上制备了层状钙钛矿型Bi3.15Nd0.85Ti3O12(BNdT)铁电薄膜。X射线衍射结果显示,薄膜沿a/b轴择优取向生长,择优取向度约48%;透射电镜观察到薄膜厚约385 nm,其中晶粒呈柱状生长,晶粒横... 用sol-gel工艺在(001)钇稳定ZrO2(YSZ)单晶衬底上制备了层状钙钛矿型Bi3.15Nd0.85Ti3O12(BNdT)铁电薄膜。X射线衍射结果显示,薄膜沿a/b轴择优取向生长,择优取向度约48%;透射电镜观察到薄膜厚约385 nm,其中晶粒呈柱状生长,晶粒横向尺寸100-200 nm。分析发现,薄膜在结晶过程中快速升温有助于晶粒沿a/b轴取向生成核。 展开更多
关键词 溶胶-凝胶法 BI3.15ND0.85TI3O12 铁电薄膜 取向生长
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测试频率对钕掺杂钛酸铋铁电薄膜极化反转疲劳特性的影响
14
作者 张鹏展 沈明荣 陈丽莉 《苏州大学学报(自然科学版)》 CAS 2007年第3期37-41,共5页
首先介绍了铁电薄膜极化反转疲劳特性测试原理,然后研究了Bi3.54Nd0.46Ti3O12(BNT)铁电薄膜在不同测试频率下的极化反转时的疲劳特性.采用溶胶-凝胶法在Pt/Ti/SiO2/Si衬底上制备了BNT薄膜,发现其极化反转时的疲劳特性与外加测试频率之... 首先介绍了铁电薄膜极化反转疲劳特性测试原理,然后研究了Bi3.54Nd0.46Ti3O12(BNT)铁电薄膜在不同测试频率下的极化反转时的疲劳特性.采用溶胶-凝胶法在Pt/Ti/SiO2/Si衬底上制备了BNT薄膜,发现其极化反转时的疲劳特性与外加测试频率之间存在着极强的依赖关系.研究表明BNT薄膜抗疲劳特性随测试频率减小而变差.在外加反转电场强度为2倍矫顽场强时,测试频率分别为50 kHz1、00 kHz和1 MHz的情况下,经过6.7×108次极化反转后,薄膜的剩余极化值分别下降了36.1%、16.9%和7.1%.在相同条件下,测试了目前铁电存储器用的PbZr0.52Ti0.48O3(PZT)薄膜的疲劳特性,并与BNT的相比较,发现BNT薄膜的抗疲劳特性要明显优于PZT薄膜.文中对上述实验现象作了初步的解释. 展开更多
关键词 Bi3.54Nd0.46Ti3O12薄膜 测试频率 抗疲劳特性
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Nd掺杂Bi_4Ti_3O_(12)铁电单晶的铁电性能、介电性能(英文)
15
作者 闫绳贤 叶万能 冯志伟 《青岛大学学报(自然科学版)》 CAS 2018年第3期17-21,共5页
采用助溶剂法使用Bi_2O_3作为助溶剂生长出Bi_4Ti_3O_(12)和Bi_(3.5)Nd_(0.5)Ti_3O_(12)单晶。研究了Nd取代对Bi_4Ti_3O_(12)单晶铁电和介电性能的影响。Bi_4Ti_3O_(12)单晶的剩余极化(2Pr)和矫顽场(2Ec)分别约28μC/cm^2和71KV/cm,Bi_(... 采用助溶剂法使用Bi_2O_3作为助溶剂生长出Bi_4Ti_3O_(12)和Bi_(3.5)Nd_(0.5)Ti_3O_(12)单晶。研究了Nd取代对Bi_4Ti_3O_(12)单晶铁电和介电性能的影响。Bi_4Ti_3O_(12)单晶的剩余极化(2Pr)和矫顽场(2Ec)分别约28μC/cm^2和71KV/cm,Bi_(3.5)Nd_(0.5)Ti_3O_(12)单晶的2Pr和2Ec分别约20μC/cm^2/cm^2和41kV/cm。与Bi_4Ti_3O_(12)单晶相比,Bi_(3.5)Nd_(0.5)Ti_3O_(12)单晶具有较低的漏电流约为10^(-8) A/cm^2。Bi_4Ti_3O_(12)单晶介电常数和介电损耗的值分别为73和0.04,Bi_(3.5)Nd_(0.5)Ti_3O_(12)单晶的介电常数和介电损耗的值分别为105和0.018。结果表明,Bi_(3.5)Nd_(0.5)Ti_3O_(12)单晶的铁电和介电性能均随Nd含量的增加而降低。 展开更多
关键词 Bi4Ti3O12和Bi3.5Nd0.5Ti3O12单晶 铁电性能 介电性能
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Orientation of Bi_(3.2)La_(0.8)Ti_3O_(12) Ferroelectric Thin Films with Different Annealing Schedules
16
作者 贺海燕 《Journal of Wuhan University of Technology(Materials Science)》 SCIE EI CAS 2009年第3期359-362,共4页
Fatigue-free Bi3.2La0.8Ti3O12 ferroelectric thin films were successfully prepared on p-Si (100) substrates using metalorganic solution deposition process. The orientation and formation of 5-layers thin films were st... Fatigue-free Bi3.2La0.8Ti3O12 ferroelectric thin films were successfully prepared on p-Si (100) substrates using metalorganic solution deposition process. The orientation and formation of 5-layers thin films were studied under different processing conditions using XRD. Experimental results indicate that increase in annealing time at 700 ℃ after preannealing for 10 min at 400 ℃ can remarkably increase (200)-orientation of the films derived from the precursor solutions with two contents of citric acid. Meanwhile, high content of citric acid increases the film thickness and is conducive to the α-orientation of the films with the preannealing, and low concentration of the solution is conducive to the c-orientation of the films without the preannealing. 展开更多
关键词 Bi3.2La0.8Ti3O12 ferroelectric film technologic condition ORIENTATION
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非晶态Bi3.15Nd0.85Ti3O12薄膜的低波动阻变特性研究
17
作者 宋宏甲 薛旦 +1 位作者 钟向丽 王金斌 《湘潭大学学报(自然科学版)》 CAS 2019年第3期55-63,共9页
基于化学溶液法在Pt/Ti/SiO2/Si衬底上制备了非晶态Bi3.15Nd0.85Ti3O12薄膜,研究了其表面形貌、介电特性和阻变特性.结果表明:非晶态Bi3.15Nd0.85Ti3O12薄膜无明显晶界存在,其P-E和C-V曲线无滞后特征,其I-V曲线展示了双极性阻变行为.高... 基于化学溶液法在Pt/Ti/SiO2/Si衬底上制备了非晶态Bi3.15Nd0.85Ti3O12薄膜,研究了其表面形貌、介电特性和阻变特性.结果表明:非晶态Bi3.15Nd0.85Ti3O12薄膜无明显晶界存在,其P-E和C-V曲线无滞后特征,其I-V曲线展示了双极性阻变行为.高低阻态的导电机制研究表明该双极性阻变行为由氧缺陷导电细丝断开/连接主导.通过与氧缺陷导电细丝主导的晶态Bi3.15Nd0.85Ti3O12薄膜基阻变行为对比,发现非晶态Bi3.15Nd0.85Ti3O12薄膜阻变的波动性较小,这与其无晶界密切相关.该研究可为开发低波动的阻变器件提供一定指导. 展开更多
关键词 Bi3.15Nd0.85Ti3O12薄膜 非晶态 阻变特性 波动性
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Nd掺杂对Bi_4Ti_3O_(12)铁电薄膜的微结构和铁电性能的影响 被引量:6
18
作者 谭丛兵 钟向丽 +3 位作者 王金斌 廖敏 周益春 潘伟 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2007年第10期6084-6089,共6页
利用溶胶-凝胶法在Pt/Ti/SiO2/Si(100)衬底上制备了Nd掺杂Bi4Ti3O12(Bi4-xNdxTi3O12,x=0.00,0.30,0.45,0.75,0.85,1.00,1.50)铁电薄膜样品.研究了Nd掺杂对Bi4Ti3O12薄膜的微结构和铁电性能的影响.研究结果表明:Nd掺杂未改变Bi4Ti3O12薄... 利用溶胶-凝胶法在Pt/Ti/SiO2/Si(100)衬底上制备了Nd掺杂Bi4Ti3O12(Bi4-xNdxTi3O12,x=0.00,0.30,0.45,0.75,0.85,1.00,1.50)铁电薄膜样品.研究了Nd掺杂对Bi4Ti3O12薄膜的微结构和铁电性能的影响.研究结果表明:Nd掺杂未改变Bi4Ti3O12薄膜的基本晶体结构.在掺杂量x<0.45时,Nd3+只取代类钙钛矿层中的A位Bi3+.当x=0.45时,样品剩余极化强度达最大值,在270kV.cm-1的电场下为32.7μC.cm-2.掺杂量进一步增加时,结构无序度开始明显增大,Nd3+开始进入(Bi2O2)2+层,削弱其绝缘层和空间电荷库的作用,导致材料剩余极化逐渐下降.当掺杂量x达到1.50时,掺杂离子最终破坏(Bi2O2)2+层的结构,材料发生铁电-顺电相变. 展开更多
关键词 ND掺杂 BI4TI3O12 拉曼频移 铁电性能
原文传递
Si基铁电Bi_(3·15)Nd_(0·85)Ti_3O_(12)多层薄膜的一致取向生长和性能的研究 被引量:1
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作者 李少珍 李美亚 +2 位作者 徐文广 魏建华 赵兴中 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2006年第3期1472-1478,共7页
采用脉冲激光沉积(PLD)技术,利用LSCO/CeO2/YSZ多异质缓冲层,在Si(100)基片上成功地制备了c轴一致取向的Bi_(3·15)Nd_(0·85)Ti_3O_(12)(BNT)铁电薄膜.利用X射线衍射(XRD)和扫描电镜(SEM)分析测定了薄膜的相结构、取向和形貌特... 采用脉冲激光沉积(PLD)技术,利用LSCO/CeO2/YSZ多异质缓冲层,在Si(100)基片上成功地制备了c轴一致取向的Bi_(3·15)Nd_(0·85)Ti_3O_(12)(BNT)铁电薄膜.利用X射线衍射(XRD)和扫描电镜(SEM)分析测定了薄膜的相结构、取向和形貌特征,考察了沉积温度和氧分压对BNT薄膜微结构、取向和形貌的影响,确定了BNT薄膜的最佳沉积条件.对在优化的条件下制备得到的BNT薄膜的C-V曲线测试得到了典型的蝴蝶形曲线,表明该薄膜具有较好的电极化反转存储特性.最后讨论了BNT薄膜铁电性能与薄膜取向的相关性. 展开更多
关键词 BI3.15ND0.85TI3O12 铁电薄膜 多层异质结 脉冲激光沉积
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Bi_(3.15)Nd_(0.85)Ti_3O_(12)微米薄片的熔盐合成与显微结构分析
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作者 祁红艳 刘勇 +2 位作者 肖明 李丹 秦新燕 《电子元件与材料》 CAS CSCD 2015年第4期5-9,共5页
以水热合成的Bi3.15Nd0.85Ti3O12(BNdT)纳米颗粒为原料,用熔盐法合成了BNdT微米薄片,用X射线衍射和透射电镜研究了微米薄片的显微结构,讨论了片状结构的生长机理,并分析了微米薄片的紫外-可见光吸收性能。结果表明:合成的微米薄片是... 以水热合成的Bi3.15Nd0.85Ti3O12(BNdT)纳米颗粒为原料,用熔盐法合成了BNdT微米薄片,用X射线衍射和透射电镜研究了微米薄片的显微结构,讨论了片状结构的生长机理,并分析了微米薄片的紫外-可见光吸收性能。结果表明:合成的微米薄片是单晶的层状钙钛矿型结构,横向尺寸为0.2~2.0μm,光学带隙为3.12 e V;随反应温度的升高和反应时间的延长,BNdT微米片横向尺寸逐渐增大;随熔盐含量增加,晶粒尺寸几乎无变化;BNdT晶体结构的大各向异性使其容易形成片状结构。 展开更多
关键词 BI3.15ND0.85TI3O12 微米薄片 熔盐法 显微结构 层状钙钛矿型 光学带隙
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