薄片PIN探测器及其阵列的灵敏度和上升时间测定

利用CΓC67实验装置测量了薄片PIN探测器及其二元和三元阵列的低能g射线灵敏度和上升时间。实验证实,三元阵列灵敏度比单个探测器提高到近3倍,但上升时间也随之增大到近2倍。