基于C控制图的电能表检定过程MSA稳定性分析方法研究

借助控制图对电子式电能表检定装置进行测量系统分析(MSA)稳定性分析的前提是检定装置的误差测量数据服从正态分布。本文针对电能表检定装置特定条件下(非轻载)误差测量数据不能顺利通过正态性检验的原因进行了原理性分析,发现其误差数据取值范围过窄且数据间隔过大,导致其不适用于基于连续性变量的计量型控制图进行测量系统稳定性分析。本文在不损失原有数据信息的条件下提出了一种通用的数据取整处理方法,并借助计数型控制图中的C控制图完成对测量系统稳定性的分析。经实例验证,该方法具有良好的可行性,对基于相对误差计算的测量系统的稳定性分析具有一定的借鉴价值。

半导体制造中颗粒污染的控制方法研究

首先分析了半导体制造中颗粒污染的来源,然后介绍了用C控制图进行颗粒污染控制的方法及其不足,进而提出了用多元回归分析进行颗粒污染控制的方法及实施。