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高速率生长c-BN薄膜 被引量:2
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作者 廖克俊 王万录 《科学通报》 EI CAS CSCD 北大核心 1995年第13期1184-1186,共3页
立方氮化硼(c-BN)类似于金刚石具有许多优异的化学和物理特性,例如它有高硬度(仅次于金刚石)、高热导率、良好的电绝缘性和宽带隙.立方氮化硼的分子结构和金刚石基本上相同,但它有更好的耐氧化性、耐热性和化学稳定性.所以c-BN可广泛用... 立方氮化硼(c-BN)类似于金刚石具有许多优异的化学和物理特性,例如它有高硬度(仅次于金刚石)、高热导率、良好的电绝缘性和宽带隙.立方氮化硼的分子结构和金刚石基本上相同,但它有更好的耐氧化性、耐热性和化学稳定性.所以c-BN可广泛用于电子、光学、机械、热沉、光电开关、工具及耐热、耐酸、耐蚀涂层等方面.特别是c-BN和Si单晶之间的晶格失配小于5%,可制备出性能良好的异质外延c-BN,为高温。 展开更多
关键词 c-bn薄膜 直流等离子体CVD 高生长速率
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立方氮化硼薄膜的形核与生长过程试验研究
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作者 蔡志海 张平 谭俊 《中国表面工程》 EI CAS CSCD 2005年第6期10-15,共6页
采用离子束辅助沉积法在硅片上成功制备了一定立方相含量的氮化硼薄膜,采用各种现代分析方法对沉积的薄膜进行了表征分析,包括傅立叶红外光谱(FTIR)、X射线光电子能谱(XPS)和原子力显微镜(AFM)等分析方法;并利用FTIR结果系统研究了衬底... 采用离子束辅助沉积法在硅片上成功制备了一定立方相含量的氮化硼薄膜,采用各种现代分析方法对沉积的薄膜进行了表征分析,包括傅立叶红外光谱(FTIR)、X射线光电子能谱(XPS)和原子力显微镜(AFM)等分析方法;并利用FTIR结果系统研究了衬底的表面清洁度和辅助能量、辅助束流、辅助气体中氮气含量、温度以及离子原子到达比等参数对膜中立方氮化硼含量的影响。试验结果表明:立方氮化硼薄膜成核与生长的条件窗口比较窄,要获得高质量的立方氮化硼薄膜,各种镀膜参数的相互合理调整与匹配是必要的。 展开更多
关键词 c-bn薄膜 离子束辅助沉积 形核 生长
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沉积参数对PACVD沉积c—BN薄膜形成的影响
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作者 可若 《等离子体应用技术快报》 1994年第7期16-17,共2页
关键词 等离子体 化学气相沉积 参数 c-bn薄膜
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热灯丝辅助射频等离子体CVD法生长立方氮化硼膜的研究 被引量:3
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作者 廖克俊 王万录 《微细加工技术》 1994年第2期47-50,共4页
本文对热灯丝(热电子)辅助射频等离子体CVD法制备的立方氮化硼(c-BN)薄膜进行了研究。实验结果表明,c-BN膜的质量与膜沉积条件有密切的关系。并对其结果作了简要讨论。
关键词 射频等离子体 氮化硼薄膜 热灯丝 c-bn薄膜
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立方氮化硼薄膜研究的新进展
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作者 陈光华 张兴旺 +1 位作者 王波 严辉 《物理》 CAS 1998年第7期429-431,共3页
低压下沉积c-BN薄膜是近年来凝聚态物理和材料科学研究的热门课题之一.我们应用热丝辅助射频等离子体化学气相沉积技术,在多种衬底上沉积了BN薄膜,并系统研究了热丝温度、衬底温度和射频电压等工艺参数对BN薄膜中立方相含量... 低压下沉积c-BN薄膜是近年来凝聚态物理和材料科学研究的热门课题之一.我们应用热丝辅助射频等离子体化学气相沉积技术,在多种衬底上沉积了BN薄膜,并系统研究了热丝温度、衬底温度和射频电压等工艺参数对BN薄膜中立方相含量的影响. 展开更多
关键词 半导体 c-bn薄膜 沉积参数 立方氮化硼 薄膜
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Electrical properties of sulfur-implanted cubic boron nitride thin films 被引量:2
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作者 Xingwang Zhang Zhigang Yin +3 位作者 Faitong Si Hongli Gao Xin Liu Xiulan Zhang 《Chinese Science Bulletin》 SCIE EI CAS 2014年第12期1280-1284,共5页
Cubic boron nitride(c-BN)thin films were deposited on Si substrates by applying ion beam assisted deposition and then doped by S ion implantation.To produce a uniform depth profile of S ions in c-BN films,the implanta... Cubic boron nitride(c-BN)thin films were deposited on Si substrates by applying ion beam assisted deposition and then doped by S ion implantation.To produce a uniform depth profile of S ions in c-BN films,the implantation was carried out for the multiple energies.A slight degradation of c-BN crystallinity resulted from ion implantation can be recovered by thermal annealing,keeping the cubic phase content as high as 92%.The resistance reduces from 1010X for the as-deposited c-BN film to 108X after an S implantation of 5 9 1014ions cm-2and annealing at 1,173 K,suggesting an electrical doping effect of S dopant.The electrical resistance of the S-doped c-BN thin film decreases with increasing temperature,indicating semiconductor characteristics.The activation energy of S dopant is estimated to be 0.28±0.01 eV from the temperature dependence of resistance. 展开更多
关键词 立方氮化硼薄膜 硫离子 电学性能 离子束辅助沉积 c-bn薄膜 离子注入 掺杂剂 半导体特性
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Research on the piezoelectric response of cubic and he- xagonal boron nitride films
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作者 陈希明 孙连婕 +2 位作者 杨保和 郭燕 吴小国 《Optoelectronics Letters》 EI 2012年第2期117-120,共4页
Boron nitride (BN) films for high-frequency surface acoustic wave (SAW) devices are deposited on Ti/AI/Si(111) wafers by radio frequency (RF) magnetron sputtering. The structure of BN films is investigated by ... Boron nitride (BN) films for high-frequency surface acoustic wave (SAW) devices are deposited on Ti/AI/Si(111) wafers by radio frequency (RF) magnetron sputtering. The structure of BN films is investigated by Fourier transform infrared (FrlR) spectroscopy and X-ray diffraction (XRD) spectra, and the surface morphology and piezoelectric properties of BN films are characterized by atomic force microscopy (AFM). The results show that when the flow ratio of nitrogen and argon is 2:18, the cubic BN (c-BN) film is deposited with high purity and c-axis orientation, and when the flow ratio of nitrogen and argon is 4:20, the hexagonal BN (h-BN) film is deposited with high c-axis orientation. Both particles are uniform and compact, and the roughnesses are 1.5 nm and 2.29 nm, respectively. The h-BN films have better piezoelectric response and distribu- tion than the c-BN films. 展开更多
关键词 Acoustic surface wave devices Atomic force microscopy Boron nitride Fourier transform infrared spectroscopy Magnetron sputtering PIEZOELECTRICITY X ray diffraction
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