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微机C—V测试系统
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作者 武希君 《自动化与仪表》 1989年第1期22-24,共3页
本文介绍用TP—801单板机与高频C—V特性测试仪组成的数据检测和处理系统。对TP—801单板机在数据处理方面的应用作了进一步的探讨,并介绍了系统的硬件配置和应用软件。图3幅。
关键词 c-v测试系统 微机 检测 半导体材料
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