C_(36)聚合体电子结构的理论研究

采用PM3 和DFT/B3LYP方法对2D六方网状,以及1D链状C36聚合体的构型进行全优化,探讨了其电子结构和稳定性;并在从头算水平上计算了相应的能带结构。研究发现,C36形成聚合体后构型发生了显著变化; 与0D 的结构比较,C36聚合为1D或2D结构后,笼内CC键长变化明显。计算表明C36聚合后稳定性提高,呈半导体或绝缘体性质。聚合后C36内部CC键定域化程度的增强是其稳定性提高的主要因素。