一种基于ATE的提高DSP测试覆盖率方法

DSP功能高覆盖率的测试是一个比较难的课题。本文以自主研发CATT-400大规模集成电路测试系统为测试平台,提出一种基于ATE (Automatic Test Equipment)的DSP的高覆盖率的测试方法;通过基于美国TI公司TMS320F28xx系列DSP,实现该测试方法开发验证,并实现自动测试设备与测试向量的自动匹配。该方法对于有微处理器的芯片测试有很大的推广意义。