TDI CCD光谱响应曲线测量技术研究

光谱响应曲线是探测器的重要技术参数之一,随着探测技术的发展,精确测量探测器的光谱响应曲线变得越来越重要.为了解决TDI CCD光谱响应曲线检测精度较低、检测方法不够准确等问题,提出了一套科学而准确的高精度TDI CCD光谱响应曲线检测方法.分析了TDI CCD光谱响应曲线的测量原理,采用了直接比较法测定待测TDI CCD的光谱响应曲线,基于具有稳定性高、优异响应能力的LED组,建立了光谱响应曲线的测量装置.计算所有波长的LED对应的TDI CCD光谱响应度,绘制在405～890 nm波长范围的光谱响应曲线.实验获取了TDI CCD光谱响应曲线,从曲线中可以看出,TDI CCD光谱响应范围为：405～890 nm.不确定度分析结果显示,TDI CCD相对光谱响应度曲线的最大不确定度约为4.15％,满足测量要求.

CID与CCD检测器在ICP光谱应用中的比较

通过对CID和CCD两种电荷转移检测器结构和工作原理的描述,详细地分析了两种检测器读出方式的异同,并结合其各自特点阐述了在ICP光谱应用中的优缺点。

小型辉光放电光谱分析系统的研制及应用

辉光放电光谱分析仪器可直接分析固体样品,并可对样品表面进行沿深度方向的逐层分析,可用于材料表面成分分析、产品质量检验等研究领域。文中研究了一种小型辉光放电光谱系统,研制了辉光放电激发源,并采用射频电源驱动。采用AvaSpec-ULS2048型便携式CCD全光谱检测器,代替传统的多道分光检测系统,简化了仪器结构并减小了体积,更适合应用于小型的实验室和学校研究室等一些场合。通过实验确定了此系统分析铜基、铁基块状样品的最优工作参数,为射频功率50 W、氩气压强270 Pa。采用本系统对铜基、铁基块状样品进行了分析精密度实验,Cu基样品中的P、S、Al、Si元素测试结果的相对标准偏差值(RSD)均≤2.13%,Fe基样品中的Cu、C、Al、Si元素测试结果的相对标准偏差值(RSD)均≤2.08%。采用该系统对20.86μm镀锌层样品进行了深度剖面分析,给出了Zn、Fe、C、P、Al、Si元素的光谱强度分析曲线。

钢渣探测系统中探测器选择的研究

根据热辐射基本理论,对远红外、中红外、近红外波段探测器的工作原理进行了理论分析,从而得出近红外波段探测器是一种可行的选择,并提出了用低照度近红外CCD作为一种廉价的钢渣探测器。