基于MRTD的微带天线的辐射分析

应用基于光滑的、紧支撑的Cohen-Daubechies-Feauveau(CDF)双正交尺度函数的时域多分辨分析(MRTD)方法分析天线的辐射,推导了MRTD迭代方程及各向异性理想匹配层(APML)吸收边界公式,并对天线的重要参数如:S参数,输入阻抗,辐射方向图等进行计算。计算结果显示:MRTD的结果与传统的FDTD的结果相比一致,说明MRTD在不牺牲精度情况下,节省大量计算资源。