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CESI-Verigy集成电路测试验证实验室在北京成立
1
作者
章从福
《半导体信息》
2007年第5期4-4,共1页
关键词
cesi-verigy
测试验证
半导体科技
高档化
瑞捷
半导体测试
设计电路
胡燕
研发周期
专利侵权
原文传递
“CESI-Verigy集成电路测试验证实验室”在北京正式成立
2
作者
章从福
《半导体信息》
2007年第6期3-3,共1页
关键词
测试验证
cesi-verigy
瑞捷
半导体科技
半导体测试
设计电路
芯片测试
半导体企业
第三方测试
副总裁
原文传递
题名
CESI-Verigy集成电路测试验证实验室在北京成立
1
作者
章从福
出处
《半导体信息》
2007年第5期4-4,共1页
关键词
cesi-verigy
测试验证
半导体科技
高档化
瑞捷
半导体测试
设计电路
胡燕
研发周期
专利侵权
分类号
F426.63 [经济管理—产业经济]
原文传递
题名
“CESI-Verigy集成电路测试验证实验室”在北京正式成立
2
作者
章从福
出处
《半导体信息》
2007年第6期3-3,共1页
关键词
测试验证
cesi-verigy
瑞捷
半导体科技
半导体测试
设计电路
芯片测试
半导体企业
第三方测试
副总裁
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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1
CESI-Verigy集成电路测试验证实验室在北京成立
章从福
《半导体信息》
2007
0
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2
“CESI-Verigy集成电路测试验证实验室”在北京正式成立
章从福
《半导体信息》
2007
0
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