IRIS发射光谱仪更换CID检测器后的性能研究

报道了IRIS/CID型等离子光谱仪更换半导体制冷CID3 8型检测器的技术改造 ,对于该仪器的电路、气路。

ICAP-AES等离子体发射光谱法测定氧化铁粉的杂质元素

介绍了ICP等离子体光谱仪的原理及测定高纯氧化铁中铝、钙、硫、钾、镁、锰、钠和钛等8种杂质元素的分析方法，考察了样品的溶解方案及工作曲线的选择，确定了仪器最佳工作条件和方法检出限。

X光谱分析法在测定萤石硫中的应用

萤石中硫的检测方法有硫酸钡重量法、红外线吸收法、燃烧碘量法、ICP法，因硫酸钡重量法耗时长且不易操作；燃烧碘量法出现较高含硫量的萤石样时燃烧不完全、低含量的样品终点颜色易滴定过量；用红外吸收法测定时，因氟离子的腐蚀导致碳硫仪气路管和金属过滤器堵塞，影响仪器的正常运行和数据出现较大偏差。本文介绍了利用x荧光压片法测定萤石中的硫，用ICP—AES电感耦合等离子体发射光谱法和x荧光光谱法进行比对，结果精密度和准确度较高。