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CMOS集成电路IDD频谱图形测试理论与实践 被引量:2
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作者 李少平 肖庆中 《电子产品可靠性与环境试验》 2002年第2期60-62,共3页
分析了CMOS集成电路电源电流与集成电路芯片缺陷的相关性,介绍了CMOS集成电路新的测试方法--IDD频谱图形测试方法的测试原理,以及实现CMOS集成电路IDD频谱图形测试的测试框图。
关键词 cmos集成电路 idd频谱图形 互补金属氧化物半导体集成电路 电源电流 缺陷 测试原理
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