本文分析了影响CMOS互补开关性能的主要因素,针对12位分段电阻型数模转换器(DAC)对传输开关导通电阻的要求,设计了一种工作在3.3V电源电压下的开关栅压自举电路。该电路产生的时钟信号将作为DAC中传输VDD/2附近电压时的CMOS互补开关的...本文分析了影响CMOS互补开关性能的主要因素,针对12位分段电阻型数模转换器(DAC)对传输开关导通电阻的要求,设计了一种工作在3.3V电源电压下的开关栅压自举电路。该电路产生的时钟信号将作为DAC中传输VDD/2附近电压时的CMOS互补开关的控制电压。基于CSMC 0.18μm DB BCD工艺,采用spectre对电路进行了仿真。仿真结果显示,由该电路产生的时钟信号所控制的CMOS采样开关有较高的可靠性和较小的导通电阻。展开更多
文摘本文分析了影响CMOS互补开关性能的主要因素,针对12位分段电阻型数模转换器(DAC)对传输开关导通电阻的要求,设计了一种工作在3.3V电源电压下的开关栅压自举电路。该电路产生的时钟信号将作为DAC中传输VDD/2附近电压时的CMOS互补开关的控制电压。基于CSMC 0.18μm DB BCD工艺,采用spectre对电路进行了仿真。仿真结果显示,由该电路产生的时钟信号所控制的CMOS采样开关有较高的可靠性和较小的导通电阻。