基于伏安特性方程的CMOS数字电路电压传输特性研究

本文从MOS晶体管的伏安特性方程出发,以CMOS反相器为例,以有别于传统定性或者半定量的分析方法,详细研究了CMOS电路的电压传输特性,并以分段函数的形式给出了该传输特性曲线的函数表达式,其数值模拟结果与实际测量结果相当吻合。

CMOS运算放大器内部电路电离辐射损伤研究测试系统

为了从内部研究ＣＭＯＳ运算放大器的电离辐射损伤机理，用由计算机控制的运算放大器内部单元电路损伤试验测试系统测量运放电路整体性能参数在电离辐射环境中的变化，观察电路内部各功能单元电路和ＭＯＳＦＥＴ的辐照损伤特性；该系统能将不同功能单元电路的损伤对电路整体性能的影响进行测试。

CMOS电路的特性分析

当前,除了ECL电路因具有超高速性能外,其他各种类型的数字集成电路无不受到CMOS电路的挑战和冲击,一些早期应用较广泛的集成电路,如标准TTL、HTL及PMOS逐渐取代。因此了解和掌握CMOS电路的原理和应用就越来越重要了。本文重点介绍CMOS电路的主要特性及应用要点,这可为学习和应用好CMOS电路打下很好的基础。电路结构、传输特性和噪声容限组成各种CMOS数字电路的基本单元是反相器和模拟开关(传输门)。这就是说,任何一种CMOS电路,不管其复杂程度如何,总是由这两种或其中一种基本单元构成。要想了解CMOS的原理和特性,也需要从此入手进行分析。

高速二阶Σ-ΔA/D调制器的设计

文章对二阶Σ-ΔA/D调制器的原理、系统性能及稳定性进行了分析,给出噪声传递函数和信噪比。并根据实际的器件参数和设计准则,应用CMOS开关电容和高速模拟电路技术,用0.6μm工艺实现了一个高速二阶Σ-Δ调制器。

提高瞬态电流自动测试生成时间效率的方法

瞬态电流测试可以检测一些用电压测试和稳态电流测试不能检测的故障。对每一个故障都进行一次测试生成所花费的时间太多,而且没有必要。针对用瞬态电流测试来检测晶体管开路故障(Stuck-open Fault),研究精简故障数目,提高测试生成效率的方法。通过从靠近电路原始输出端向原始输入端逐渐进行测试生成以及其他一些办法,可以明显提高测试生成的时间效率。模拟实验结果表明,测试生成算法执行时间大约减少了70%。

单片式三相四线供电断相断零报警器

在三相四线制供电系统中，断相或断零故障导致三相负载失去平衡，如不及时发现并处理，将造成大范围电器烧毁。本文利用一片六门CMOS数字电路设计制作一款三相供电断相、断零声光报警电路，具有电路简单、工作可靠、功耗低、造价低廉、制作和调试方便等特点。