用大像元CMOS线阵光电探测器和插值法测量激光光斑中心位置

探讨了用大像元 (0 .8mm)CMOS线阵光电探测器确定激光光斑中心位置的插值方法 ,并对插值误差进行了理论分析和实验验证。采用线性插值可使测量分辨率提高 10倍以上。通过实测两种激光准直中光斑中心位置的漂移 ,验证了该探测器及插值方法的实用性。

基于线阵光电探测器的FBG传感解调算法分析

采用线阵光电探测器光谱采集系统,对光纤Bragg光栅(FBG)传感器反射谱进行数据采集。由于线阵光电探测器采样点数有限,为了研究不同数据个数对FBG反射谱寻峰精度的影响,基于Lab VIEW开发平台,对比分析了FBG传感解调系统中常用的三种寻峰算法:质心法、高斯拟合法和多项式拟合法;比较了不同数据个数下各种算法的性能。实验结果表明:利用反射波峰上7个采样点数据拟合精度最高,并且高斯拟合算法的精度和稳定性能较好。

硅光电探测器阵列

以获得高量子效率的pin硅光电探测器阵列为目标,对影响pin硅光电探测器阵列量子效率和暗电流的重要因素展开了分析,此外针对探测器入射面的抗反射层结构进行了理论分析与模拟的仿真研究。流片测试结果表明,实验样品LPD型硅光电探测器阵列的单像素暗电流为2-7 pA,低于滨松S11212型商用光电探测器;结电容为45-46 pF,光响应值为0.37-0.39 A/W（仅比S11212型器件低约0.25%）。LPD硅光电探测器阵列通过耦合碘化铯晶体并封装之后,放置在物品安检机上进行扫描成像,测试结果表明：LPD硅光电探测器阵列可以在X光机165 kV,0.8 m A时穿透40 mm厚的铅饼清晰成像。LPD硅光电探测器阵列的整体灵敏度和商用S11212型光电探测器性能相当,没有明显区别。

线阵探测器(LDA)的现状及发展趋势

本文概述了当前的线阵探测器(LDA)技术及未来发展, 同时详细说明了LDA的重要性能特征,并对不同应用下不同的阵列设计进行了讨论。目前芬兰探测技术公司已将该项技术成功应用于大型集装箱检测系统, 工业CT, 医用CT, L型双能探测器等工业医学应用中.

线阵CDD光电参量测试系统的研究

讨论了线阵ＣＣＤ光电参量测试系统的标定、调试以及ＣＣＤ光电量的测量方法。重点进行了以下几个方面的讨论：积分球光源色温标定原理、方法及结果验证；线阵ＣＣＤ光电参量测试系统的调试与标定（用标准探测器标定辐照度，用标准探测器标定参考探测器，用参考探测器标定辐照度，积分球出射光均匀性校正）；

用线阵CCD传感器测量工件外轮廓尺寸

本文阐述了用线阵CCD传感器测量工件外轮廓尺寸的原理及方法。

太阳光下可调谐激光脉冲的波长和入射方向的实时测试和系统研究(英文)

提出了在恶劣环境条件下,应用衍射光栅测量宽波长范围可调谐脉冲激光波长和入射方向的实时测试方法,并设计了实验系统,在该实验系统中,光电传感器采用了ATMEL公司的50MHz线阵探测器,由高速度数字信号处理器TMS320VC5509处理该传感器获得的信号,获得入射激光的波长和入射方向,实验结果表明,该系统能达到10ns的波长分辩率和1(°)的角度分辩率;该测试方法可用在相干探测激光告警接收机中.

宽谱光源平均波长测试系统光路设计仿真

利用像元分辨率公式和高斯光束传输理论,设计了一种基于线阵InGaAs光电探测器的宽谱光源平均波长测试系统光路结构。在Zemax光学软件中建立了宽谱光源平均波长测试系统的光路模型,并优化了该测试系统的光路结构参数。根据软件仿真建立的光路模型,分析了位置偏差对准直光束平行度及系统光能利用率的影响,得到了相应的变化曲线,为宽谱光源平均波长测试系统的结构设计和装配提供了指导。

基于多级衍射及自适应补偿的光纤光栅传感器解调技术

解调技术是决定光纤光栅传感解调系统速率、精度、容量等性能的关键因素。提出一种基于线阵光电探测器成像原理的光纤光栅传感器解调方案,通过多级衍射,结合弱曝光自适应超频技术和FPGA并行数据处理技术,实现了对传感信号的快速解调,同时可以实现对级联型光纤光栅传感器和长周期光纤光栅传感器信号的解调。使用温度、应力敏感光纤光栅传感器对搭建的铁路桥模型进行监测,实验结果表明,光纤光栅传感系统的解调精度可以达到10 pm量级,系统可测量光谱范围达50 nm,提高了传感系统的解调速率和精度,同时实现了光纤光栅解调设备的微型化。

小型高分辨率金属码盘光电编码器

研制了一种基于单圈金属码盘的小型绝对式光电编码器,其采用低刻划密度单圈绝对式编码方式和基于线阵图像探测器的译码方式。为进一步提高测角分辨率,提出了基于金属码盘的亚像素级差值细分算法,并阐述了精码与粗码的衔接方法;使用金属码盘设计了小型绝对式光电编码器,并对其进行了测试。试制了光电编码器,在直径为38mm的金属码盘上刻划了256条单圈绝对式码道;采用亚像素级细分实现了2048倍的角度细分。所设计的单圈绝对式光电编码器外径小于50mm,分辨率达到2.47″。通过实验得到测角误差均方差为16.3″。该编码器的研制提高了小型光电编码器的抗震动和抗冲击性能,为特种编码器的研制提供了技术基础。