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应用于COF的无胶基材尺寸稳定性研究
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作者 何为 薛卫东 +1 位作者 王守绪 周国云 《电子电路与贴装》 2010年第3期12-14,共3页
COF技术由于具备诸多优势,已经成为LCD驱动IC的主要封装技术。对三种无胶基材进行实验,通过测量孔径和误差之间的关系,得出1.5mm孔为引入误差最小的孔;测量真空层压后基材的尺寸稳定性,三种基材能够符合COF技术要求。
关键词 cof 无胶基材 尺寸稳定性
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