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基于CMOS集成电路闩锁效应理论的实践 被引量:5
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作者 樊海霞 朱纯仁 《电子测试》 2015年第9X期42-43,共2页
本文针对CMOS集成电路的闩锁效应产生的原因,结合实际调试过程中的案例,探索芯片内部发生闩锁效应后的故障表现并提出避免方法以及解决方案。
关键词 coms集成电路 闩锁 单片机
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LCOS显示技术的现状及发展 被引量:3
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作者 沈培宏 《光电技术》 2002年第3期53-56,68,共5页
LCOS显示技术是LCD与COMS集成电路有机结合的反射型新型显示技术,LCOS作为新型显示器件具备大屏幕、高亮度、高分辩率、省电等诸多优势,其应用产品被广大消费者和业内人士看好,LCOS可能是HDTV的背投影技术发展的主要方向。在大屏幕... LCOS显示技术是LCD与COMS集成电路有机结合的反射型新型显示技术,LCOS作为新型显示器件具备大屏幕、高亮度、高分辩率、省电等诸多优势,其应用产品被广大消费者和业内人士看好,LCOS可能是HDTV的背投影技术发展的主要方向。在大屏幕投影显示中具有重要地位,由于经济和轻便。它将成为大屏幕投影电视机的主要竞争者。随着HDTV的推广应用将加快其产业化进程。本文介绍了LCOS显示技术的基本原理和特性,还介绍了近年来的发展及未来动向。 展开更多
关键词 LCD coms集成电路 LCOS显示技术 发展 反射式投影显示
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I_(DDQ)测试方法的研究与实现
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作者 吴丹 石坚 周红 《计算机与数字工程》 2000年第2期32-35,共4页
I_(DDQ)测试是当前倍受国内外业界人士关注的一种新的CMOS集成电路测试方法和技术。这种测试是在多种输入逻辑条件下测试CMOS电路的静态电源电流参数值,它可以有效地检测出早期失效器件。I_(DDQ)测试的关键技术是测试向量自动生成及高... I_(DDQ)测试是当前倍受国内外业界人士关注的一种新的CMOS集成电路测试方法和技术。这种测试是在多种输入逻辑条件下测试CMOS电路的静态电源电流参数值,它可以有效地检测出早期失效器件。I_(DDQ)测试的关键技术是测试向量自动生成及高效的测试实现技术。围绕这两大课题,本文提出了一种基于ITS9000测试系统的功能I_(DDQ)测试方法和技术,并在ITS9000上进行了测试试验。实践表明,这种功能I_(DDQ)测试方法,可以自动生成测试向量集和测试程序,测试效率高,测量结果精确,测试操作简便易行。 展开更多
关键词 coms集成电路 测试方法 IDDQ
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基于bq2031的开关型铅酸蓄电池充电控制器
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作者 陈鹏 耿读艳 +1 位作者 李志军 杨彦杰 《国外电子元器件》 2002年第11期24-26,共3页
文章在介绍了铅酸蓄电池充电特性的基础上 ,详细介绍了TI(TexasInstruments)公司的单片COMS集成电路bq2031开关型充电控制器的工作原理和工作过程 ,给出了一种基于bq2031两阶段恒流充电控制器的设计电路。
关键词 铅酸蓄电池 充电控制器 bq2031 单片coms集成电路
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