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LDO类IC基准项测试及熔丝修调方法探讨 被引量:2
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作者 吴熙文 《电子与封装》 2015年第12期8-11,共4页
LDO类IC(低压差线性稳压器)作为新一代集成电路稳压器,以其低噪声、高电源抑制比、低成本、高效率等特性,目前正广泛应用于各种供电系统中。输出电压(基准值)作为低压差线性稳压器最重要的参数是测试过程中最为重要也是最为关注的一项。... LDO类IC(低压差线性稳压器)作为新一代集成电路稳压器,以其低噪声、高电源抑制比、低成本、高效率等特性,目前正广泛应用于各种供电系统中。输出电压(基准值)作为低压差线性稳压器最重要的参数是测试过程中最为重要也是最为关注的一项。在CP测试时,一旦输出电压因各种原因出现了偏差,将造成难以挽回的后果。探讨了提高LDO类IC基准值测试精度的一些方法。 展开更多
关键词 低压差线性稳压器 基准值 cp测试 测试精度
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基于ATE的电源芯片Multi-Site测试设计与实现 被引量:3
2
作者 唐彩彬 《电子与封装》 2016年第11期14-17,26,共5页
介绍了电源芯片的多Site测试设计与实现。基于CTA8280测试系统,通过对芯片CP(晶圆测试)要求进行分析,设计了8 Site测试电路外围,能够实现对晶圆进行8 Die并行测试。测试结果显示,该方案能够有效提升该电源芯片的测试效率,降低测试成本。
关键词 CTA8280 cp测试 MULTI-SITE 测试效率
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基于FPGA的RFID晶圆并行测试系统设计 被引量:5
3
作者 张慧雷 景为平 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2015年第11期866-871,共6页
针对高频射频识别(RFID)晶圆在中测(CP)阶段单通道串行测试效率低下的问题,设计了一种基于现场可编程门阵列(FPGA)的多通道并行测试系统以提高测试效率。鉴于RFID晶圆上没有集成天线,提出了一种新的基于探针技术的射频耦合式的晶圆检测... 针对高频射频识别(RFID)晶圆在中测(CP)阶段单通道串行测试效率低下的问题,设计了一种基于现场可编程门阵列(FPGA)的多通道并行测试系统以提高测试效率。鉴于RFID晶圆上没有集成天线,提出了一种新的基于探针技术的射频耦合式的晶圆检测方法,模拟芯片实际工作。系统选用FPGA为微控制器,配以多路射频耦合通信电路,实现测试向量生成及快速信号处理。再结合上位机与探针台高速并行的通用接口总线(GPIB)通信接口,以实现晶圆级RFID芯片测试。经实际测试,该系统能够实现16通道并行测试,与单通道串行测试系统相比,效率提升了97%,可靠性好,稳定性高,可应用高密度RFID晶圆的中测。 展开更多
关键词 并行测试 高频射频识别(RFID) 晶圆测试(cp) 射频耦合 现场可编程门阵列(FPGA)
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晶圆测试中BIN分设置的一种应用 被引量:1
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作者 顾汉玉 张立荣 《电子测试》 2012年第8期68-73,共6页
本文介绍了一种集成电路晶圆测试过程中自动测试设备测试程序的BIN分设置的改善方案。通过设置多个PASSBIN,巧妙地应用了自动测试设备的BIN分类功能,从晶圆测试的汇总结果中直接得到关键参数的分布规律,避免了原来需要通过分析自动测试... 本文介绍了一种集成电路晶圆测试过程中自动测试设备测试程序的BIN分设置的改善方案。通过设置多个PASSBIN,巧妙地应用了自动测试设备的BIN分类功能,从晶圆测试的汇总结果中直接得到关键参数的分布规律,避免了原来需要通过分析自动测试设备记录的详细数据才能得到分布规律的情况,省去了集成电路工程晶圆需要进行二次测试才能进行分类的步骤,对缩短集成电路工程品的测试周期、加强量产产品的工艺监控、提升晶圆测试的品质具有重要意义。 展开更多
关键词 集成电路 晶圆测试(cp) 自动测试设备(ATE) BIN分设置
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国产专用芯片应用质量分析及控制
5
作者 肖培森 郭小波 +1 位作者 何兰 高原 《中国安全防范认证》 2017年第5期41-45,共5页
由我国自主研发的出入境证件专用芯片,经过市、省以及全国试点,如质量得到验证并满足应用要求即可开展大规模批量应用。本文针对国产专用芯片在应用中的质量问题,首先根据应用环节进行了分类,分别介绍稳定性和一致性问题现象。然后对不... 由我国自主研发的出入境证件专用芯片,经过市、省以及全国试点,如质量得到验证并满足应用要求即可开展大规模批量应用。本文针对国产专用芯片在应用中的质量问题,首先根据应用环节进行了分类,分别介绍稳定性和一致性问题现象。然后对不同环节的稳定性和一致性问题进行分析,得出解决方案。最后,从整体质量控制的角度,对国产专用芯片的整体产品质量进行统一管理,提升应用效果,达到千万级规模应用要求。 展开更多
关键词 cp测试 一致性 稳定性 兼容性 质量控制 体系标准
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B→K0^*(1430)K Decays in Perturbative QCD Approach
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作者 刘新 肖振军 《Communications in Theoretical Physics》 SCIE CAS CSCD 2010年第3期540-544,共5页
In this article, we calculate the branching ratios of B→K0^* (1430)K decays by employing the pertur-bative QCD (pQCD) approach at leading order. We perform the evaluations in the two scenarios for the scalar mes... In this article, we calculate the branching ratios of B→K0^* (1430)K decays by employing the pertur-bative QCD (pQCD) approach at leading order. We perform the evaluations in the two scenarios for the scalar meson spectrum. We find that (i) The leading order pQCD predictions for the branching ratio Br(B^+→K^+K0^*(1430)^0)are in good agreement with the experimental upper limit in both scenarios, while the pQCD predictions for other considered B→K0^*(1430)K decay modes are also presented and will be tested by the LHC experiments; (ii) The annihilation contributions play an important role in these considered decays, for B^0→K0^*(1430)^±K^± decays,for example,which are found to be (1-4)×10^-6. 展开更多
关键词 B meson decays branching ratios the perturbative QCD approach
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