基于UVM的可重用SoC功能验证环境

现在系统级芯片(So C)系统集成度和复杂度不断提高,验证环节消耗时间占用了芯片研发时间的70%,芯片验证已经成为芯片研发中最关键的环节。目前业界验证方法大多有覆盖率低和通用性差等缺点,基于上述原因提出了一种新的验证方法。与传统验证方法和单纯的通用验证方法学(UVM)不同,该方法结合系统级芯片验证和模块级验证的特点,并且融合UVM和知识产权验证核(VIP)模块验证的验证技术,且使用了So C系统功能仿真模型以提高验证覆盖率和准确性。验证结果表明,同一架构系列So C芯片可以移植于该验证平台中,并且可大幅缩短平台维护与开发时间,采用该验证方法的代码覆盖率为98.9%,功能覆盖率为100%。