期刊文献+
共找到9篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
Carbon Film Coating Used in CdZnTe Crystal Growth
1
作者 侯清润 高炬 +1 位作者 王金义 陈纪安 《Rare Metals》 SCIE EI CAS CSCD 1997年第2期35-37,共3页
A simple method of carbon film coating used in CdZnTe crystal growth was developed. The optimum parameters were selected. Breakdown of carbon film was commonly seen if Cd reservoir was not used in the crystal growth. ... A simple method of carbon film coating used in CdZnTe crystal growth was developed. The optimum parameters were selected. Breakdown of carbon film was commonly seen if Cd reservoir was not used in the crystal growth. The carbon film was in good condition when the vapor pressure of Cd was kept around 0.1 MPa during crystal growth. 展开更多
关键词 carbon film coating cdznte crystal growth
下载PDF
用于CdZnTe晶体生长的石英坩埚真空镀碳工艺研究 被引量:4
2
作者 陈军 闵嘉华 +3 位作者 梁小燕 张继军 王东 李辉 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2010年第5期1114-1118,共5页
采用原子力显微镜(AFM)、椭圆偏振光谱仪、Dage-Pc2400推理分析等测试方法研究了石英坩埚真空镀膜工艺获得的碳膜的表面状态、粗糙度,碳膜和石英坩埚的结合力,确定了用于CdZnTe晶体生长的石英坩埚真空镀碳的最优工艺参数。研究表明,以... 采用原子力显微镜(AFM)、椭圆偏振光谱仪、Dage-Pc2400推理分析等测试方法研究了石英坩埚真空镀膜工艺获得的碳膜的表面状态、粗糙度,碳膜和石英坩埚的结合力,确定了用于CdZnTe晶体生长的石英坩埚真空镀碳的最优工艺参数。研究表明,以乙醇为碳源,坩埚真空退火9 h后,碳源通入量为1.5 mL时,获得了厚度为0.7163μm,表面粗糙度为4.7 nm,结合力达8.11 kg的碳膜。采用此工艺镀膜的石英坩埚生长CdZnTe晶体后,碳膜附着完好,晶体表面平整光洁,位错密度降低。 展开更多
关键词 cdznte晶体 真空镀碳 粗糙度 结合力 位错密度
下载PDF
氮化碳薄膜的X射线衍射分析 被引量:2
3
作者 吴大维 何孟兵 +3 位作者 范湘军 郭怀喜 范炜 傅德君 《材料导报》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第3期43-45,27,共4页
研究了生长在硅片、合金钢片上的氮化碳薄膜的X射线衍射谱(XPD)。实验结果表明在硅片上先生长Si_3N_4过渡层和对样品进行热处理,有利于β-C_3N_4晶体的生成。不同晶面的硅衬底,生长C_3N_4薄膜的晶面不同。合金钢片上C_3N_4薄膜,出现七个... 研究了生长在硅片、合金钢片上的氮化碳薄膜的X射线衍射谱(XPD)。实验结果表明在硅片上先生长Si_3N_4过渡层和对样品进行热处理,有利于β-C_3N_4晶体的生成。不同晶面的硅衬底,生长C_3N_4薄膜的晶面不同。合金钢片上C_3N_4薄膜,出现七个β-C_3N_4衍射峰和六个α-C_3N_4衍射峰,这些结果与β-C_3N_4和α-C_3N_4的晶面数据计算值相符合。 展开更多
关键词 氮化碳薄膜 X射线衍射谱 晶体生长 晶体结构
下载PDF
用于AgGaS_2晶体生长的石英安瓿镀碳工艺研究 被引量:1
4
作者 张建军 王高潮 江洪流 《南昌航空大学学报(自然科学版)》 CAS 2007年第2期72-75,共4页
采用金相显微镜、推力分析仪等测试手段研究了石英安瓿内壁镀碳工艺对所镀碳膜的表面形貌、碳膜和石英安瓿结合力的影响。获得了一个较佳的镀碳工艺,即在气体流量为600 ml/min,镀碳温度在1060℃-1100℃之间,镀碳时间为30 min,冷却时间为... 采用金相显微镜、推力分析仪等测试手段研究了石英安瓿内壁镀碳工艺对所镀碳膜的表面形貌、碳膜和石英安瓿结合力的影响。获得了一个较佳的镀碳工艺,即在气体流量为600 ml/min,镀碳温度在1060℃-1100℃之间,镀碳时间为30 min,冷却时间为11 h的条件下可获得均匀、致密而且与石英安瓿内壁结合牢固的碳膜层。采用该工艺镀膜的石英安瓿生长的AgGaS2晶体完整,表面光洁透明,位错密度低,约为6×10^4cm^-2。 展开更多
关键词 AgGaS2晶体 镀碳 工艺 镀碳膜分析
下载PDF
镀碳石英坩埚生长ZnGeP_2单晶体
5
作者 赵欣 李梦 +1 位作者 朱世富 吴小娟 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2016年第2期356-360,共5页
在熔体法生长ZnGeP2单晶体的过程中,如何解决熔体与坩埚的粘连问题是一个研究关键。本文研究了石英坩埚的镀碳工艺,采用化学气相沉积法成功在坩埚内壁镀上结合牢固且均匀的碳膜。采用垂直布里奇曼法,并结合适时补温技术,在内部镀碳的双... 在熔体法生长ZnGeP2单晶体的过程中,如何解决熔体与坩埚的粘连问题是一个研究关键。本文研究了石英坩埚的镀碳工艺,采用化学气相沉积法成功在坩埚内壁镀上结合牢固且均匀的碳膜。采用垂直布里奇曼法,并结合适时补温技术,在内部镀碳的双层坩埚中成功生长出Ф20 mm×50 mm外观完整,无裂纹的ZnGeP2单晶体。经XRD,TEM,FTIR分析结果表明:生长的ZnGeP2晶体缺陷少,结构完整,红外透过率高,是质量较高的单晶体。 展开更多
关键词 磷锗锌 单晶生长 镀碳 双层坩埚
下载PDF
石英生长坩埚镀碳工艺研究
6
作者 吴小娟 《化工新型材料》 CAS CSCD 北大核心 2014年第9期39-41,共3页
研究了在AgGaS2晶体生长石英坩埚内壁镀碳的工艺,包含了镀碳温度、镀碳时间及冷去时间对碳膜质量的影响,从而获得了最佳镀碳工艺,即采用高纯甲烷在1040℃的高温下,热解60min,并冷却12h。采用该工艺镀碳的石英坩埚解决了AgGaS2晶体在高... 研究了在AgGaS2晶体生长石英坩埚内壁镀碳的工艺,包含了镀碳温度、镀碳时间及冷去时间对碳膜质量的影响,从而获得了最佳镀碳工艺,即采用高纯甲烷在1040℃的高温下,热解60min,并冷却12h。采用该工艺镀碳的石英坩埚解决了AgGaS2晶体在高温下与石英坩埚的粘连问题,防止了坩埚杂质向晶体中的扩散,生长出表面光滑,完整性好,大尺寸的AgGaS2晶体。 展开更多
关键词 镀碳工艺 生长坩埚 AgGaS2晶体
下载PDF
晶体生长用石英玻璃管镀膜工艺的正交实验研究 被引量:3
7
作者 沈涛 刘俊成 +1 位作者 翟慎秋 张国栋 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第1期271-275,共5页
运用正交设计,对CdZnTe晶体生长用高纯石英坩埚内壁镀膜过程中的镀膜温度、镀膜时间、气体流量、冷却时间四个因素进行了研究和优化。用金相显微镜,扫描电镜观察分析了不同镀膜工艺条件下得到的碳膜表面形貌,用WS-2005自动划痕仪对碳膜... 运用正交设计,对CdZnTe晶体生长用高纯石英坩埚内壁镀膜过程中的镀膜温度、镀膜时间、气体流量、冷却时间四个因素进行了研究和优化。用金相显微镜,扫描电镜观察分析了不同镀膜工艺条件下得到的碳膜表面形貌,用WS-2005自动划痕仪对碳膜与石英管壁之间的结合力进行了测试。实验结果表明,镀膜温度对碳膜质量影响最为显著,其次是镀膜时间,再次为冷却时间,而气体流量对碳膜质量的影响甚小。镀膜工艺的优化参数:镀膜温度为1010℃,气体流量为6 L/h,镀膜时间为4 h,冷却时间为18 h。该工艺参数得到的碳膜较为均匀,且与石英管壁结合强度高。 展开更多
关键词 正交设计 碳膜 cdznte 晶体生长
下载PDF
AgGaS_2单晶生长石英安瓿镀碳工艺研究 被引量:2
8
作者 雷勇波 赵北君 +4 位作者 朱世富 陈宝军 谭波 吴小娟 黄毅 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第1期25-28,共4页
研究了镀碳工艺参数对碳膜的表面形貌、厚度、碳膜与石英管内壁结合力的影响,发现在气体流量为30~40ml/min,镀碳温度为1040~1060℃,镀碳时间为30~40min,冷却时间为10~12h的条件下,可获得均匀、致密且结合牢固的碳膜层。用此工艺镀... 研究了镀碳工艺参数对碳膜的表面形貌、厚度、碳膜与石英管内壁结合力的影响,发现在气体流量为30~40ml/min,镀碳温度为1040~1060℃,镀碳时间为30~40min,冷却时间为10~12h的条件下,可获得均匀、致密且结合牢固的碳膜层。用此工艺镀碳的石英安瓿生长出的AgGaS2晶体表面光洁,完整性好,缺陷较少。 展开更多
关键词 红外非线性光学材料 硫镓银单晶体 生长安瓿 镀碳工艺
下载PDF
CdZnTe晶体生长用石英管的镀碳工艺研究 被引量:4
9
作者 闵嘉华 桑文斌 +3 位作者 钱永彪 李万万 刘洪涛 樊建荣 《功能材料与器件学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第2期255-258,共4页
使用金相显微镜、推力分析仪测试等手段研究了镀碳工艺参数对碳膜的表面形貌、碳膜和石英结合力的影响。获得了一个优化的镀碳工艺参数,即在镀碳温度为950~1100℃,气体流量为4~7ml/h,镀碳时间为6h,冷却时间为12h的条件下得到的碳膜较... 使用金相显微镜、推力分析仪测试等手段研究了镀碳工艺参数对碳膜的表面形貌、碳膜和石英结合力的影响。获得了一个优化的镀碳工艺参数,即在镀碳温度为950~1100℃,气体流量为4~7ml/h,镀碳时间为6h,冷却时间为12h的条件下得到的碳膜较为均匀,而且和石英结合的较好。使用该工艺条件镀膜的石英管生长出的CdZnTe晶体表面光洁,位错密度低,约为4×104cm-2。 展开更多
关键词 镀碳 推力分析 cdznte晶体
原文传递
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部