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IMPROVED FABRICATION METHOD FOR CARBON NANOTUBE PROBE OF ATOMIC FORCE MICROSCOPY(AFM) 被引量:1
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作者 XU Zongwei DONG Shen +1 位作者 GUO Liqiu ZHAO Qingliang 《Chinese Journal of Mechanical Engineering》 SCIE EI CAS CSCD 2006年第3期373-375,共3页
An improved arc discharge method is developed to fabricate carbon nanotube probe of atomic force microscopy (AFM) here. First, silicon probe and carbon nanotube are manipulated under an optical microscope by two hig... An improved arc discharge method is developed to fabricate carbon nanotube probe of atomic force microscopy (AFM) here. First, silicon probe and carbon nanotube are manipulated under an optical microscope by two high precision microtranslators. When silicon probe and carbon nanotube are very close, several tens voltage is applied between them. And carbon nanotube is divided and attached to the end of silicon probe, which mainly due to the arc welding function. Comparing with the arc discharge method before, the new method here needs no coat silicon probe with metal film in advance, which can greatly reduce the fabrication's difficulty. The fabricated carbon nanotube probe shows good property of higher aspect ratio and can more accurately reflect the true topography of silicon grating than silicon probe. Under the same image drive force, carbon nanotube probe had less indentation depth on soft triblock copolymer sample than silicon probe. This showed that carbon nanotube probe has lower spring constant and less damage to the scan sample than silicon probe. 展开更多
关键词 carbon nanotube (CNT) atomic force microscope (AFM) Probe Fabrication
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Carbon nanotubes as tips for atomic force microscopy
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作者 国立秋 徐宗伟 +3 位作者 赵铁强 赵清亮 张飞虎 董申 《Journal of Harbin Institute of Technology(New Series)》 EI CAS 2004年第2期223-227,共5页
Ordinary AFM probes'characters prevent the AFM' s application in various scopes. Carbon nanotubes represent ideal AFM probe materials for their higher aspect ratio, larger Young's modulus, unique chemical ... Ordinary AFM probes'characters prevent the AFM' s application in various scopes. Carbon nanotubes represent ideal AFM probe materials for their higher aspect ratio, larger Young's modulus, unique chemical structure, and well-defined electronic property. Carbon nanotube AFM probes are obtained by using a new method of attaching carbon nanotubes to the end of ordinary AFM probes, and are then used for doing AFM experiments. These experiments indicated that carbon nanotube probes have higher elastic deformation, higher resolution and higher durability. And it was also found that carbon nanotube probes ean accurately reflect the morphology of deep narrow gaps, while ordinary probes can not reflect. 展开更多
关键词 carbon nanotube atomic force microscope (AFM) PROBE
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THEORETICAL ANALYSIS AND EXPERIMENTAL STUDY OF CARBON NANOTUBE PROBE AND CONVENTIONAL ATOMIC FORCE MICROSCOPY PROBE ON SURFACE ROUGHNESS
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作者 WANG Jinghe WANG Hongxiang XU Zongwei DONG Shen WANG Shiqian ZHANG Huali 《Chinese Journal of Mechanical Engineering》 SCIE EI CAS CSCD 2008年第5期62-64,共3页
In this paper, three different tips are employed, i.e., the carbon nanotube tip, monocrystalline silicon tip and silicon nitride tip. Resorting to atomic force microscope (AFM), they are used for measuring the surfa... In this paper, three different tips are employed, i.e., the carbon nanotube tip, monocrystalline silicon tip and silicon nitride tip. Resorting to atomic force microscope (AFM), they are used for measuring the surface roughness of indium tin oxide (ITO) film and the immunoglobulin G (IgG) proteins within the scanning area of 10 μm×10 μm and 0.5 μm×0.5 μm, respectively. Subsequently, the scanned surface of the ITO film and IgG proteins are analyzed by using fractal dimension. The results show that the ffactal dimension measured by carbon nanotube tip is biggest with the highest frequency components and the most microscopic information. Therefore, the carbon nanotube tip is the ideal measuring tool for measuring super-smooth surface, which will play a more and more important role in the high-resolution imaging field. 展开更多
关键词 atomic force microscope carbon nanotube probes Fractal dimension
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An improved fabrication method for carbon nanotube probe
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作者 徐宗伟 国立秋 +1 位作者 董申 赵清亮 《Journal of Harbin Institute of Technology(New Series)》 EI CAS 2008年第5期690-693,共4页
An improved arc discharge method is developed to fabricate the carbon nanotube probe. In this method, the silicon probe and the carbon nanotube were manipulated under an optical microscope. When the silicon probe and ... An improved arc discharge method is developed to fabricate the carbon nanotube probe. In this method, the silicon probe and the carbon nanotube were manipulated under an optical microscope. When the silicon probe and the carbon nanotube were very close, 30-60 V dc or ae was applied between them, and the carbon nanotube was divided and attached to the end of the silicon probe. Comparing with the arc discharge method, the new method need not coat the silicon probe with metal in advance, which can greatly reduce the fabrication difficulty and cost. The fabricated carbon nanotube probe exhibits the good property of high aspect ratio and can reflect the true topography more accurately than the silicon probe. 展开更多
关键词 carbon nanotube (CNT) atomic force microscope (AFM) PROBE FABRICATION
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Pulse gas alignment and AFM manipulation of single-wall carbon nanotube 被引量:4
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作者 TUNG Steve 《Chinese Science Bulletin》 SCIE EI CAS 2008年第22期3590-3596,共7页
In the fabrication process of nanoelectronic device arrays based on single-wall carbon nanotube (SWCNT), oriented alignment of SWCNTs and property modification of metallic SWCNTs in the array are the key problems to b... In the fabrication process of nanoelectronic device arrays based on single-wall carbon nanotube (SWCNT), oriented alignment of SWCNTs and property modification of metallic SWCNTs in the array are the key problems to be solved. Pulse gas alignment with substrate downward tilt is proposed to realize the controllable alignment of SWCNTs. Experimental results demonstrate that 84% SWCNTs are aligned in -15°―15° angular to the pulse gas direction. A modified nanomanipulation technology based on atomic force microscope (AFM) is utilized to perform various kinds of SWCNT manipulation, such as SWCNT separation from the "Y" CNT, catalyst removal from the SWCNT end, continual nano buckles fabrication on SWCNT and even stretching to break, which provides a feasible way to modify the size, shape and the electrical property of SWCNTs. 展开更多
关键词 SWCNT 碳纳米管 显微镜 AFM
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Effect of dilute acid treatment on adhesion properties of Longmaxi black shale 被引量:1
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作者 Pan-Pan Zhang Shou-Ceng Tian +4 位作者 Mao Sheng Tian-Yu Wang Waleed Ali Khan Quan Xu Li-Zhi Xiao 《Petroleum Science》 SCIE CAS CSCD 2019年第6期1320-1331,共12页
Properties of shale in an acid environment are important when acid or CO2 is injected into geologic formations as a working fluid for enhanced oil and gas recovery,hydraulic fracturing and reduced fracture initiation ... Properties of shale in an acid environment are important when acid or CO2 is injected into geologic formations as a working fluid for enhanced oil and gas recovery,hydraulic fracturing and reduced fracture initiation pressure.It has previously been shown that acid fluids can enhance the formation conductivity and decrease the hardness of shale.However,less is known about the effect of dilute acid on the adhesion properties of shale.In the study,shale samples are characterized in detail with advanced analysis.Adhesion properties of shale via dilute acid treatment were revealed by atomic force microscopy(AFM)for the first time.Results indicate that acid treatment can greatly enhance adhesion forces of the shale surface.After acid treatment,the average adhesion forces show a platform-like growth with an increase in loading force.Through analysis of results from AFM,scanning electron microscopy,and X-ray diffraction,we affirm that the enhanced adhesion forces are mainly from increased specific surface area and reduced elastic modulus.The results presented in this work help understand the adhesion properties of shale oil/gas present in an acidic environment,which have great significance in unconventional resources development. 展开更多
关键词 SHALE acid carbonATES atomic force microscope Adhesion force
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基于聚焦离子束铣削的复杂微纳结构制备 被引量:13
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作者 徐宗伟 房丰洲 +2 位作者 张少婧 韩涛 李建明 《天津大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第1期91-94,共4页
聚焦离子束铣削是一种灵活且高精度的微加工方法,探索通过聚焦离子来铣削进行复杂微纳米结构的加工过程.通过聚焦离子束铣削加工,利用灰度值精确控制离子束加工时间,实现闪耀光栅以及正弦结构等复杂微纳结构的加工过程.同时,利用聚焦离... 聚焦离子束铣削是一种灵活且高精度的微加工方法,探索通过聚焦离子来铣削进行复杂微纳米结构的加工过程.通过聚焦离子束铣削加工,利用灰度值精确控制离子束加工时间,实现闪耀光栅以及正弦结构等复杂微纳结构的加工过程.同时,利用聚焦离子束对原子力显微镜纳米管探针的长度进行高精度调控,其长度控制精度可以小于50nm.聚焦离子束铣削技术为制备在各种科学工程领域应用的多种复杂微结构提供了有效途径. 展开更多
关键词 聚焦离子束 微加工 铣削 碳纳米管探针 原子力显微镜
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纳米管探针机械性能在纳米表征中的优势研究 被引量:4
8
作者 徐宗伟 张少婧 +2 位作者 房丰洲 董申 陈耘辉 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第1期157-161,共5页
碳纳米管探针是原子力显微镜新一代探针,在纳米表征领域有重要的应用价值。本文系统的研究了碳纳米管原子力显微镜探针和普通硅探针的机械性能对探针表征能力的影响。通过对比两种探针的耐磨损实验及对小鼠IgG蛋白成像研究发现,碳纳米... 碳纳米管探针是原子力显微镜新一代探针,在纳米表征领域有重要的应用价值。本文系统的研究了碳纳米管原子力显微镜探针和普通硅探针的机械性能对探针表征能力的影响。通过对比两种探针的耐磨损实验及对小鼠IgG蛋白成像研究发现,碳纳米管探针具有良好的弹性弯曲能力,耐磨损,而且能显著减小成像时对柔软的生物样品的损伤。发现纳米管探针具有很好的塑性,利用聚焦离子束的照射可以精确优化纳米管探针的角度,解决了碳纳米管探针角度精确调控的技术瓶颈,充分发挥纳米管探针的高分辨率优势。 展开更多
关键词 原子力显微镜 纳米管探针 柔韧性 角度控制 聚焦离子束
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原子力显微镜在生命科学研究中的应用 被引量:4
9
作者 郁毅刚 徐如祥 +2 位作者 蔡颖谦 姜晓丹 柯以铨 《第一军医大学学报》 CSCD 北大核心 2005年第2期143-147,共5页
原子力显微镜(AFM)是目前最新的生物成像操纵技术之一,制样简单,可以在多种环境条件下原子分辨率三维成像以及进行生物分子之间力的测定及操纵调控。目前国际上AFM主要应用于组织、细胞微生物、生物大分子纳米水平形态结构功能研究及生... 原子力显微镜(AFM)是目前最新的生物成像操纵技术之一,制样简单,可以在多种环境条件下原子分辨率三维成像以及进行生物分子之间力的测定及操纵调控。目前国际上AFM主要应用于组织、细胞微生物、生物大分子纳米水平形态结构功能研究及生物单分子相互作用、生物过程操纵调控等研究领域。虽然存在着针尖碳纳米管衍化、柔软生物样品硬化、结果解释待改进等局限性,但AFM必将成为生命科学研究的重要手段。 展开更多
关键词 原子力显微镜 三维结构 生物大分子 单分子操纵 碳纳米管
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碳纳米管原子力显微镜针尖的制作研究 被引量:1
10
作者 国立秋 董申 +3 位作者 董小瑛 赵铁强 赵清亮 张飞虎 《中国机械工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第15期1329-1330,共2页
研究在光学显微镜下 ,运用两个独立的三维工作台分别控制针尖和碳纳米管的位置 ,将碳纳米管吸附在传统的原子力显微镜针尖上。首先将碳纳米管粘附在导电的胶带上 ,然后用涂胶的针尖与其接触将碳纳米管粘附到针尖上 ,最后运用电蚀的方法... 研究在光学显微镜下 ,运用两个独立的三维工作台分别控制针尖和碳纳米管的位置 ,将碳纳米管吸附在传统的原子力显微镜针尖上。首先将碳纳米管粘附在导电的胶带上 ,然后用涂胶的针尖与其接触将碳纳米管粘附到针尖上 ,最后运用电蚀的方法优化碳纳米管针尖的长度 ,以达到高分辨率的要求。运用制作的碳纳米管针尖对硅表面的深槽进行成像 。 展开更多
关键词 碳纳米管 原子力显微镜 针尖长度 纳米尺度
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运用碳纳米管原子力显微镜针尖减小长程力作用的研究 被引量:1
11
作者 国立秋 梁吉 +1 位作者 董申 赵清亮 《机械工程学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第10期15-18,共4页
减小探针和样品表面之间的长程宏观力是原子力显微镜获得高分辨率成像的关键。首先通过理论分析得出影响长程力的主要因素是探针的几何形状和尺寸。然后分别运用几何形状和尺寸不同的原子力显微镜的传统Si针尖和碳纳米管针尖对样品进行... 减小探针和样品表面之间的长程宏观力是原子力显微镜获得高分辨率成像的关键。首先通过理论分析得出影响长程力的主要因素是探针的几何形状和尺寸。然后分别运用几何形状和尺寸不同的原子力显微镜的传统Si针尖和碳纳米管针尖对样品进行扫描试验研究,结果显示碳纳米管针尖较传统针尖获得了高分辨率的图像。这一结果表明,碳纳米管针尖减小了成像中宏观长程作用力的影响,是理想的原子力显微镜针尖。 展开更多
关键词 原子力显微镜 碳纳米管 针尖 长程力
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应用聚焦离子束/电子束技术的碳纳米管探针制备工艺研究 被引量:1
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作者 韩涛 徐宗伟 +1 位作者 房丰洲 张少婧 《现代制造工程》 CSCD 北大核心 2010年第3期5-8,118,共5页
提出利用电子束诱导铂沉积和聚焦离子束铣削技术,实现碳纳米管原子力显微镜探针针尖的制备和结构优化研究。结合高分辨率扫描电子显微镜观测和纳米操纵仪,利用电子束诱导铂沉积实现碳纳米管固定到普通原子力显微镜探针末端,可实现直径... 提出利用电子束诱导铂沉积和聚焦离子束铣削技术,实现碳纳米管原子力显微镜探针针尖的制备和结构优化研究。结合高分辨率扫描电子显微镜观测和纳米操纵仪,利用电子束诱导铂沉积实现碳纳米管固定到普通原子力显微镜探针末端,可实现直径小于10nm的纳米管探针制备。提出基于聚焦离子束铣削和照射技术实现对纳米管针尖的长度、角度的精确调控优化,纳米管探针的角度调控精度优于1°。 展开更多
关键词 碳纳米管探针 原子力显微镜 聚焦离子束 微纳制造
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碳纳米管原子力显微镜针尖对脱氧核糖核酸高分辨率成像研究
13
作者 国立秋 王秀凤 +3 位作者 王锐 徐化明 陈皓明 梁吉 《分析化学》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2005年第10期1439-1441,共3页
运用自制的碳纳米管原子力显微镜针尖,在液体中观察了脱氧核糖核酸(DNA)分子的精细结构。结果表明,运用碳纳米管针尖获得的DNA分子的高度与电子显微镜的结果非常接近,且没有造成样品的变形损伤;碳纳米管针尖得到的DNA分子的宽度与真实... 运用自制的碳纳米管原子力显微镜针尖,在液体中观察了脱氧核糖核酸(DNA)分子的精细结构。结果表明,运用碳纳米管针尖获得的DNA分子的高度与电子显微镜的结果非常接近,且没有造成样品的变形损伤;碳纳米管针尖得到的DNA分子的宽度与真实值相近,减小了原子力显微镜成像的增宽效应,这是用传统的硅针尖无法获得的。DNA分子精细结构的高分辨率图像的获得为研究其功能提供了有价值的信息。 展开更多
关键词 碳纳米管 原子力显微镜 脱氧核糖核酸 碳纳米管针尖 高分辨率成像 DNA分子 高分辨率图像 精细结构 电子显微镜 变形损伤
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运用功能化修饰的碳纳米管针尖测量配体-受体的作用力
14
作者 国立秋 王锐 +1 位作者 徐化明 梁吉 《分析化学》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2006年第3期359-361,共3页
电弧法自制碳纳米管原子力显微镜针尖,对其末端进行功能化修饰,然后测量配体-受体之间的作用力。运用没有功能化修饰的碳纳米管针尖与修饰有亲和素分子的基底进行接触测量时,没有粘滞力出现;而运用末端修饰生物素分子的碳纳米管针尖测量... 电弧法自制碳纳米管原子力显微镜针尖,对其末端进行功能化修饰,然后测量配体-受体之间的作用力。运用没有功能化修饰的碳纳米管针尖与修饰有亲和素分子的基底进行接触测量时,没有粘滞力出现;而运用末端修饰生物素分子的碳纳米管针尖测量时,有粘滞力产生。功能化的碳纳米管针尖直接测得的粘滞力均大约200pN,此值符合一对配体生物素和受体亲和素之间的作用力。这一结果很难用传统的针尖获得,功能化修饰的碳纳米管针尖能够克服传统针尖在力测量中的局限,在生物学和化学领域有着广泛的应用前景。 展开更多
关键词 原子力显微镜 碳纳米管 单分子力谱 粘滞力
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碳纳米管探针对小鼠IgG蛋白的纳米表征
15
作者 徐宗伟 房丰洲 +1 位作者 赵铁强 董申 《天津大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第10期919-922,共4页
碳纳米管探针是原子力显微镜新一代探针,在柔软生物样品的微观形貌表征领域有重要的应用价值.研究和分析了碳纳米管原子力显微镜探针和普通硅探针对小鼠IgG蛋白形貌的表征能力.通过原子力显微镜实验对比研究发现,普通硅探针容易对IgG蛋... 碳纳米管探针是原子力显微镜新一代探针,在柔软生物样品的微观形貌表征领域有重要的应用价值.研究和分析了碳纳米管原子力显微镜探针和普通硅探针对小鼠IgG蛋白形貌的表征能力.通过原子力显微镜实验对比研究发现,普通硅探针容易对IgG蛋白产生显著的压痕,而碳纳米管探针具有良好的柔韧性,能显著减小成像时对柔软的生物样品的损伤.硅探针与样品间存在较大的毛细力,会降低探针的分辨率;由于碳纳米管疏水,纳米管探针能显著减小毛细力的影响,能高分辨率地检测IgG蛋白,充分发挥纳米管探针的高分辨率优势. 展开更多
关键词 原子力显微镜 碳纳米管探针 柔韧性 IgG蛋白 疏水性
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碳纳米管针尖制造的关键技术研究
16
作者 国立秋 王锐 +1 位作者 徐化明 梁吉 《中国机械工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第13期1181-1183,共3页
通过理论分析得出,碳纳米管针尖的长度过长会影响其成像的稳定性的结论,然后在原子力显微镜上运用电蚀的方法对碳纳米管针尖的长度进行优化,结果显示,截短后的碳纳米管针尖能够获得稳定的高分辨率成像,从而解决了碳纳米管针尖制造中针... 通过理论分析得出,碳纳米管针尖的长度过长会影响其成像的稳定性的结论,然后在原子力显微镜上运用电蚀的方法对碳纳米管针尖的长度进行优化,结果显示,截短后的碳纳米管针尖能够获得稳定的高分辨率成像,从而解决了碳纳米管针尖制造中针尖长度优化这一关键技术问题。 展开更多
关键词 碳纳米管 针尖制造 长度优化 原子力显微镜
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Gemini表面活性剂与DNA在气/液界面上的相互作用 被引量:6
17
作者 康雪丽 陈启斌 +1 位作者 尚亚卓 刘洪来 《物理化学学报》 SCIE CAS CSCD 北大核心 2011年第6期1467-1473,共7页
在气/液界面上,阳离子表面活性剂可以通过静电作用与阴离子型的脱氧核糖核酸(DNA)分子形成复合膜,并压缩沉积得到LB(Langmuir-Blodget)膜.利用表面压-表面积(π-A)曲线、原子力显微镜(AFM)和石英晶体18-微s-天18平,s=(Q3,C4M,6),研8,究1... 在气/液界面上,阳离子表面活性剂可以通过静电作用与阴离子型的脱氧核糖核酸(DNA)分子形成复合膜,并压缩沉积得到LB(Langmuir-Blodget)膜.利用表面压-表面积(π-A)曲线、原子力显微镜(AFM)和石英晶体18-微s-天18平,s=(Q3,C4M,6),研8,究10了,1阳2)离与子DNGAe(m双in链i表DN面A(活ds性DN剂A()[,C单18H链37D(CNHA3)(2sNsD+-N(CAH))2之)s-N间+的(C相H3互)2C作18用H3,7]·并2对Br1-8,-简s-1写8为在不同下相表面的分子面积进行了比较.实验结果表明连接基团和下相的DNA对Gemini表面活性剂在气/液界面上的性质有很大影响.此外,Gemini表面活性剂在界面上对DNA的吸附能力与它们之间的相互作用方式密切相关. 展开更多
关键词 GEMINI表面活性剂 脱氧核糖核酸 π-A等温线 原子力显微镜 石英晶体微天平
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扫描探针显微技术中脱氧核糖核酸样品的设备 被引量:2
18
作者 于力华 吴爱国 +2 位作者 王宏达 李壮 索全玲 《分析化学》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2001年第12期1470-1477,共8页
评述了近年来原子力显微镜和扫描隧道显微镜应用于脱氧核糖核酸研究领域的样品制备过程。主要内容涉及基底的选择与处理、样品的固定与展开方法。
关键词 原子力显微镜 扫描隧道显微镜 脱氢核糖核酸 DNA 样品制备
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应用Fe^3+在裸云母表面制作DNA分子的AFM样品的方法 被引量:1
19
作者 牛冬校 冯晓录 +2 位作者 周星飞 蔡翔舟 沈文庆 《电子显微学报》 CAS CSCD 2008年第3期250-254,共5页
原子力显微镜(AFM)既是观测生物大分子的有力工具,也是生物单分子操纵的有力工具。脱氧核糖核酸分子(DNA)是记载了生物信息的重要生命分子,同时也是在分子器件领域具有极大潜力的天然纳米材料。利用AFM对DNA分子观察和操纵时,制样是关... 原子力显微镜(AFM)既是观测生物大分子的有力工具,也是生物单分子操纵的有力工具。脱氧核糖核酸分子(DNA)是记载了生物信息的重要生命分子,同时也是在分子器件领域具有极大潜力的天然纳米材料。利用AFM对DNA分子观察和操纵时,制样是关键。云母具有原子级平整的表面可作为观测DNA分子时的基底,但由于其表面负电性而不能和DNA分子很好地结合,所以通常需要对云母进行表面修饰。本文给出一种通过加入适量三价铁离子溶液在裸云母表面制作DNA样品的方法,可取代传统的云母表面修饰。该制样方法既可应用到基于AFM技术的DNA分子的形貌观察,也可应用在基于AFM技术的对DNA的单分子操纵。 展开更多
关键词 原子力显微镜(AFM) 生物单分子操纵 三价铁离子 脱氧核糖核酸分子(DNA) 云母
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用原子力显微镜表征DNA纯化效果的实验研究
20
作者 熊洁 陈宝安 +9 位作者 巴龙 高峰 高冲 丁家华 孙耘玉 程坚 王骏 赵刚 杜鹃 陆祖宏 《东南大学学报(医学版)》 CAS 2006年第3期197-200,共4页
目的:运用原子力显微镜(AFM)表征3种DNA纯化试剂盒对DNA的纯化效果。方法:PCR扩增K562/A02细胞mdr1基因DNA,分别以3种不同的DNA纯化试剂盒对PCR产物进行纯化后,按终浓度为10 ng.μl-1固定在用1 ng.μl-1L型多聚赖氨酸预先处理过的新剥... 目的:运用原子力显微镜(AFM)表征3种DNA纯化试剂盒对DNA的纯化效果。方法:PCR扩增K562/A02细胞mdr1基因DNA,分别以3种不同的DNA纯化试剂盒对PCR产物进行纯化后,按终浓度为10 ng.μl-1固定在用1 ng.μl-1L型多聚赖氨酸预先处理过的新剥离的云母片上,用AFM获取DNA扫描图像,分析评价3种DNA试剂盒对DNA的纯化效果。结果:用AFM成功表征3种纯化试剂盒纯化后DNA片段,获得了清晰的DNA图像。对3种DNA纯化试剂盒的纯化效果作出评价,建议其中的两种DNA纯化试剂盒的DNA纯化产物可用于AFM的DNA分析。结论:用AFM表征DNA时对DNA的纯度要求较高。通过对3种DNA纯化试剂盒纯化效果的比较,为AFM观测DNA样本的纯化方法提供了较好的方案。 展开更多
关键词 原子力显微镜 表征 脱氧核糖核酸 纯化
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