CdTe-Al荧光探针测定小龙虾中的恩诺沙星残留

基于Al3+能显著增敏恩诺沙星荧光强度的特性,建立了CdTe-Al荧光探针高灵敏检测小龙虾中恩诺沙星残留的新方法.在最优实验条件下,恩诺沙星在7.19×10^-4mg/kg^3.59×10^-3mg/kg浓度范围内与体系的荧光强度呈良好的线性关系,线性方程为:IF=30.774C-155.4,相关系数R2为0.9996,方法检出限为1.44×10^-4mg/kg,样品各加入2.00×10^-3mg/kg标准物后回收率为98.5~104.0%,结果良好.方法具有灵敏度高、检出限低、操作方便等优点,适用于小龙虾中恩诺沙星残留的快速检测分析.

CdTe-Al荧光探针痕量检测水体中环丙沙星含量

基于Al3+能显著增敏环丙沙星荧光强度的特性,建立了CdTe-Al荧光探针高灵敏检测水体中环丙沙星含量的新方法。在最优实验条件下,环丙沙星在2.0×10-9~1.0×10-8mol·L-1浓度范围内与体系的荧光强度呈良好的线性关系,线性方程为:IF=107.55C-158.5,相关系数R2为0.9993,方法检出限为4.0×10-10mol·L-1,样品各加入2.00μg·L-1标准物后回收率为97.5%~106.0%,结果良好。方法具有灵敏度高、检出限低、操作方便等优点,适用于水体中微量环丙沙星的快速检测分析。

磁控溅射法制备的CdS:Al薄膜的性质研究

采用Al和CdS双靶共溅射的方法,调控Al和CdS源的沉积速率,制备出不同Al掺杂浓度的CdS:Al薄膜。通过XRD、SEM、AFM、紫外–可见透射光谱分析、常温霍尔测试对CdS:Al薄膜的结构、形貌、光学和电学性质进行表征。XRD结果表明,不同Al掺杂浓度的CdS:Al薄膜均为六方纤锌矿结构的多晶薄膜,并且在(002)方向择优生长。SEM和AFM结果表明,CdS:Al薄膜的表面均匀致密,表面粗糙度随着Al掺杂浓度的增加略有增加。紫外–可见透射光谱分析表明,CdS:Al薄膜禁带宽度在2.42~2.46 eV之间,随着Al掺杂浓度的增加而略微减小。常温霍尔测试结果证明,掺Al对CdS薄膜的电学性质影响显著,掺Al原子浓度3.8%以上的CdS薄膜,载流子浓度增加了3个数量级,电阻率下降了3个数量级。掺Al后的CdS薄膜n型更强,有利于与CdTe形成更强的内建场,从而提高太阳电池效率。用溅射方法制备的CdS:Al薄膜的性质适合用作CdTe薄膜太阳电池的窗口层。