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热处理GaSb衬底对近距离升华法制备CdZnTe外延膜的影响
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作者 李阳 曹昆 介万奇 《人工晶体学报》 CAS 北大核心 2024年第10期1705-1711,共7页
衬底的表面质量对生长膜层的质量有重要影响,衬底表面的粗糙度、均匀性、附着物残留及氧化层均是其表面质量的评价标准。本文报道了一种热处理方法,通过近距离升华设备原位去除GaSb(001)衬底上的氧化层后用于制备CdZnTe外延膜。通过控... 衬底的表面质量对生长膜层的质量有重要影响,衬底表面的粗糙度、均匀性、附着物残留及氧化层均是其表面质量的评价标准。本文报道了一种热处理方法,通过近距离升华设备原位去除GaSb(001)衬底上的氧化层后用于制备CdZnTe外延膜。通过控制热处理的温度和时间,获得洁净且平整的较优衬底状态。利用原子力显微镜和X射线光电子能谱表征了热处理对GaSb衬底形貌和成分的影响,采用双晶X射线摇摆曲线对经过热处理后的GaSb衬底上生长的CdZnTe外延膜的结晶质量进行了评价。为了深入研究这种异质界面附近微观缺陷的性质和外延形成机制,还对CdZnTe/GaSb截面进行了TEM分析研究。GaSb衬底在600℃经过180 s热处理后,可以去除衬底表面大部分氧化物且相对平整,提高了CdZnTe外延膜的结晶质量,在双晶X射线摇摆曲线中的半峰全宽为94″,接近已报道的块体CdZnTe晶体的结晶质量。 展开更多
关键词 cdznte GASB 外延生长 薄膜 物理气相沉积 热处理 半导体
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Numerical Study and Optimization of CZTS-Based Thin-Film Solar Cell Structure with Different Novel Buffer-Layer Materials Using SCAPS-1D Software
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作者 Md. Zamil Sultan Arman Shahriar +4 位作者 Rony Tota Md. Nuralam Howlader Hasibul Haque Rodro Mahfuja Jannat Akhy Md. Abir Al Rashik 《Energy and Power Engineering》 2024年第4期179-195,共17页
This study explored the performances of CZTS-based thin-film solar cell with three novel buffer layer materials ZnS, CdS, and CdZnS, as well as with variation in thickness of buffer and absorber-layer, doping concentr... This study explored the performances of CZTS-based thin-film solar cell with three novel buffer layer materials ZnS, CdS, and CdZnS, as well as with variation in thickness of buffer and absorber-layer, doping concentrations of absorber-layer material and operating temperature. Our aims focused to identify the most optimal thin-film solar cell structure that offers high efficiency and lower toxicity which are desirable for sustainable and eco-friendly energy sources globally. SCAPS-1D, widely used software for modeling and simulating solar cells, has been used and solar cell fundamental performance parameters such as open-circuited voltage (), short-circuited current density (), fill-factor() and efficiency() have been optimized in this study. Based on our simulation results, it was found that CZTS solar cell with Cd<sub>0.4</sub>Zn<sub>0.6</sub>S as buffer-layer offers the most optimal combination of high efficiency and lower toxicity in comparison to other structure investigated in our study. Although the efficiency of Cd<sub>0.4</sub>Zn<sub>0.6</sub>S, ZnS and CdS are comparable, Cd<sub>0.4</sub>Zn<sub>0.6</sub>S is preferable to use as buffer-layer for its non-toxic property. In addition, evaluation of performance as a function of buffer-layer thickness for Cd<sub>0.4</sub>Zn<sub>0.6</sub>S, ZnS and CdS showed that optimum buffer-layer thickness for Cd<sub>0.4</sub>Zn<sub>0.6</sub>S was in the range from 50 to 150nm while ZnS offered only 50 – 75 nm. Furthermore, the temperature dependence performance parameters evaluation revealed that it is better to operate solar cell at temperature 290K for stable operation with optimum performances. This study would provide valuable insights into design and optimization of nanotechnology-based solar energy technology for minimizing global energy crisis and developing eco-friendly energy sources sustainable and simultaneously. 展开更多
关键词 Thin-Film Solar Cell cztS Buffer-Layer Renewable Energy Green-House Gases Efficiency
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基于级数反演的弹载SAR下降段CZT成像算法 被引量:21
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作者 周鹏 周松 +2 位作者 熊涛 李亚超 邢孟道 《电子与信息学报》 EI CSCD 北大核心 2010年第12期2861-2867,共7页
导弹下降段飞行速度快、飞行轨迹复杂,并且弹上成像实时性要求较高,给弹载SAR成像算法提出了新的要求。针对上述问题,该文提出了基于级数反演的CZT成像算法。文中首先给出了下降段点目标斜距表达式,并用泰勒级数对斜距进行高阶展开,接... 导弹下降段飞行速度快、飞行轨迹复杂,并且弹上成像实时性要求较高,给弹载SAR成像算法提出了新的要求。针对上述问题,该文提出了基于级数反演的CZT成像算法。文中首先给出了下降段点目标斜距表达式,并用泰勒级数对斜距进行高阶展开,接着用级数反演法得到了信号2维频谱高阶近似表达式,然后详细分析了频谱中各项的空变性对成像的影响,并在此基础上推导了改进的CZT成像算法并分析了其运算量。该算法能够精确校正空变的距离徙动,所有操作都由快速傅里叶变换和相位点乘完成,具有较高的效率。仿真结果证明,该文算法能够在下降段实现全孔径高精度成像。 展开更多
关键词 弹载SAR 级数反演 czt算法
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原位退火对CdZnTe晶体性能的影响 被引量:2
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作者 张涛 闵嘉华 +3 位作者 梁小燕 滕家琪 时彬彬 王林军 《上海大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 2014年第6期701-706,共6页
采用改进的垂直布里奇曼生长法生长Cd Zn Te(CZT)单晶,并在晶体生长后期采取长时间的原位恒温退火.采用红外透射显微镜、I-V特性曲线以及多道能谱仪测试经过原位退火后的晶体内部Te夹杂相分布、电阻率大小以及能谱响应.结果表明,原位退... 采用改进的垂直布里奇曼生长法生长Cd Zn Te(CZT)单晶,并在晶体生长后期采取长时间的原位恒温退火.采用红外透射显微镜、I-V特性曲线以及多道能谱仪测试经过原位退火后的晶体内部Te夹杂相分布、电阻率大小以及能谱响应.结果表明,原位退火可以大幅降低CZT晶体内部大尺寸Te夹杂相的密度,晶体内绝大部分的Te夹杂都集中在5μm以内.此外,原位退火后的晶体电阻率从4.54×108Ω·cm上升至3.73×1010Ω·cm.原位退火后的CZT晶体对241Am@59.5 ke Vγ射线表现出了良好的能量分辨率,为7.29%. 展开更多
关键词 Te夹杂相 退火 cdznte 布里奇曼法 探测器
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CdZnTe探测器在便携式探测仪中的设计应用研究 被引量:10
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作者 郝魁红 王化祥 +2 位作者 马敏 何永勃 郝贵和 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第1期95-98,共4页
通过分析CdZnTe半导体射线探测器性能,并考虑到电荷灵敏放大器噪声特性,本文设计了用于便携式探测器中的低噪声、小尺寸电荷灵敏放大器。常温下3mm×7mm×3mm的CdZnTe探测器与小尺寸电荷灵敏前置放大器探测系统对于59.5 keV的2... 通过分析CdZnTe半导体射线探测器性能,并考虑到电荷灵敏放大器噪声特性,本文设计了用于便携式探测器中的低噪声、小尺寸电荷灵敏放大器。常温下3mm×7mm×3mm的CdZnTe探测器与小尺寸电荷灵敏前置放大器探测系统对于59.5 keV的241 Amγ源,其能量分辨率可达4.38%。 展开更多
关键词 便携式 电荷灵敏放大器 cdznte 能量分辨率
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用于卫星探测X、γ射线的大灵敏面积CdZnTe探测器的研发 被引量:10
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作者 孟欣 丁洪林 +1 位作者 郝晓勇 张万昌 《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第2期149-154,共6页
CdZnTe(CZT)探测器不需要低温制冷就可在30-600keV较宽的能量范围内得到较好的空间和能量分辨,已成为研究宇宙空间X、γ射线场重要的探测器。本工作研究将4个甄别级10mm×10mm×5mm CZT平面探测器进行改制,并将其并联拼接成... CdZnTe(CZT)探测器不需要低温制冷就可在30-600keV较宽的能量范围内得到较好的空间和能量分辨,已成为研究宇宙空间X、γ射线场重要的探测器。本工作研究将4个甄别级10mm×10mm×5mm CZT平面探测器进行改制,并将其并联拼接成20mm×20mm×5mm较大面积的CZT探测器。经测试,大面积CZT探测器对125^I、241^Am、57^Co、133^Ba、137^Cs具有较好的能量线性响应,对137^Cs的662keV7射线有较好的能量分辨。 展开更多
关键词 大面积czt探测器 弗里希栅czt探测器 能量分辨
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溶剂热合成球形Cu_2ZnSnS_4 (CZTS)微粉的研究 被引量:7
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作者 邹正光 曾彦 +2 位作者 龙飞 申玉芳 郑国源 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2012年第3期708-713,共6页
本文采用高压溶剂热法合成了铜锌锡硫(CZTS)粉体,采用XRD、SEM测试方法对合成产物的物相、形貌进行了表征。探讨了温度,时间以及表面活性剂等因素对溶剂热合成CZTS粉体形貌、物相和性能的影响。结果表明:高压溶剂热法制备的CZTS目标粉... 本文采用高压溶剂热法合成了铜锌锡硫(CZTS)粉体,采用XRD、SEM测试方法对合成产物的物相、形貌进行了表征。探讨了温度,时间以及表面活性剂等因素对溶剂热合成CZTS粉体形貌、物相和性能的影响。结果表明:高压溶剂热法制备的CZTS目标粉体纯度高,制备周期短,产物形貌为球形的片状集合体。反应进程随着反应温度的升高而加快,随着保温时间的延长而趋于完全。加入部分表面活性剂对团聚现象改善并不明显。 展开更多
关键词 溶剂热 cztS 球形微粉
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基于CdZnTe像素阵列探测技术的伽玛源成像 被引量:8
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作者 黎淼 肖沙里 +4 位作者 张流强 曹玉琳 陈宇晓 沈敏 王玺 《强激光与粒子束》 EI CAS CSCD 北大核心 2010年第9期2165-2170,共6页
根据高能射线针孔成像理论,采用CdZnTe像素阵列探测器建立了直接成像探测模式的伽玛源针孔探测系统。测试分析了CdZnTe像素阵列探测器的能量分辨力及峰值效率,讨论研究了针孔成像探测系统的调制传递函数和附加噪声特性,测试获得直径5mm1... 根据高能射线针孔成像理论,采用CdZnTe像素阵列探测器建立了直接成像探测模式的伽玛源针孔探测系统。测试分析了CdZnTe像素阵列探测器的能量分辨力及峰值效率,讨论研究了针孔成像探测系统的调制传递函数和附加噪声特性,测试获得直径5mm137Cs源的探测图像,采用Lucy-Richardson迭代算法得到了137Cs源的复原图像。实验结果表明:CdZnTe探测器对662keV137Cs源的能量分辨力为6.25%~7.50%,峰值效率65.0%~72.5%;成像系统探测图像存在一定扩散现象,所采用的Lucy-Richardson迭代复原算法能较好地修正图像扩散,提高探测图像中心区域细节分辨力;估算所得137Cs源尺寸误差约0.5mm,所建立的CdZnTe针孔成像探测系统能有效得到小尺寸伽玛源的辐照强度分布及尺寸信息。 展开更多
关键词 辐射成像探测 半导体探测器 cdznte 针孔成像 峰值效率
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Cd气氛退火对CdZnTe晶片质量影响 被引量:6
9
作者 张鹏举 赵增林 +4 位作者 胡赞东 万锐敏 岳全龄 王晓薇 姬荣斌 《红外技术》 CSCD 北大核心 2005年第5期379-383,共5页
在CdZnTe晶体生长时,有时会产生大颗粒的沉积相,严重的影响了CdZnTe晶片的质量,通过电子探针测试证明其为Cd沉积相。采用Cd气氛退火来消除Cd沉积相,可以改善CdZnTe晶片的质量。实验发现:在较高的温度(600℃)条件下,退火可以有效的消除... 在CdZnTe晶体生长时,有时会产生大颗粒的沉积相,严重的影响了CdZnTe晶片的质量,通过电子探针测试证明其为Cd沉积相。采用Cd气氛退火来消除Cd沉积相,可以改善CdZnTe晶片的质量。实验发现:在较高的温度(600℃)条件下,退火可以有效的消除大颗粒(>5μm)的Cd沉积相, 改善CdZnTe晶片红外透过率、X射线双晶回摆曲线半峰宽(FWHM)和腐蚀坑密度(EPD)。在此条件下对CdZnTe晶片进行退火,有助于提高CdZnTe晶片的性能。 展开更多
关键词 cdznte 退火 Cd沉积相 红外透过率
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籽晶垂直布里奇曼法生长大尺寸CdZnTe单晶体 被引量:10
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作者 徐亚东 介万奇 +1 位作者 王涛 刘伟华 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第6期1180-1184,共5页
采用改进的垂直布里奇曼(MVB)法并引入籽晶生长技术,成功生长出直径60mm,单晶体积超过200cm^2的CdZeTe(CZT)晶锭。根据CZT晶片在近红外(NIR)波段的透过谱,由截止波长推算Zn组分在晶片中的平均含量,进一步的拟合得出晶体生长过... 采用改进的垂直布里奇曼(MVB)法并引入籽晶生长技术,成功生长出直径60mm,单晶体积超过200cm^2的CdZeTe(CZT)晶锭。根据CZT晶片在近红外(NIR)波段的透过谱,由截止波长推算Zn组分在晶片中的平均含量,进一步的拟合得出晶体生长过程Zn沿晶锭轴向分凝因数约为1.30;分析了晶片在中红外波段内的红外透过率,发现波数在2000-4000cm^-1内透过率平直且较高,超过60%,而从2000cm^-1到500cm^-1随波数的减小透过率急速下降至零;由钝化后的Au/CZT晶片的I-V曲线,计算得到生长态C2T晶片的电阻率P达到1.8×10^9-2.6×10^10Ω·cm。 展开更多
关键词 cdznte 籽晶 垂直布里奇曼法 近红外光谱
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CdZnTe材料的表面钝化新工艺 被引量:4
11
作者 王昆黍 桑文斌 +4 位作者 闵嘉华 腾建勇 张奇 夏军 钱永彪 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第7期1475-1479,共5页
研究了一种新的钝化CdZnTe(CZT)器件表面的工艺,即先采用KOH KCl溶液对CZT表面进行处理,再用NH4F/H2O2溶液对其进行表面氧化的二步法钝化工艺.并借助俄歇电子能谱(AES)、微电流测试仪等手段对其表面钝化层的质量进行了鉴别,同时与KOH KC... 研究了一种新的钝化CdZnTe(CZT)器件表面的工艺,即先采用KOH KCl溶液对CZT表面进行处理,再用NH4F/H2O2溶液对其进行表面氧化的二步法钝化工艺.并借助俄歇电子能谱(AES)、微电流测试仪等手段对其表面钝化层的质量进行了鉴别,同时与KOH KCl和NH4F/H2O2两种工艺进行了比较.AES能谱分析表明,采用二步法工艺钝化,既可获得化学计量比较好的CZT表面,又可在表面形成一层起保护作用的氧化层.I V特性曲线显示,两步法钝化后CZT器件的漏电流与KOH KCl和NH4F/H2O2钝化相比都有一定程度的下降.说明文中提出的新工艺在CZT器件制备方面具有良好的应用前景. 展开更多
关键词 cdznte晶体 表面钝化 漏电流 KOH-KCl溶液 NH4F/H2O2溶液
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退火处理对CdZnTe晶体光电性能的影响 被引量:4
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作者 何亦辉 介万奇 +4 位作者 周岩 刘惠敏 徐亚东 王涛 查钢强 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2014年第2期269-274,共6页
研究了生长态CdZnTe晶体在经历了不同温度和时间的Cd/Zn和Te气氛退火后,其光电性能的变化规律。研究表明,在Cd/Zn气氛下退火180h后,CdznTe晶体中直径在5μm以上的Te夹杂的密度减小了1个数量级,晶体的体电阻率由10^10Ω·cm减... 研究了生长态CdZnTe晶体在经历了不同温度和时间的Cd/Zn和Te气氛退火后,其光电性能的变化规律。研究表明,在Cd/Zn气氛下退火180h后,CdznTe晶体中直径在5μm以上的Te夹杂的密度减小了1个数量级,晶体的体电阻率由10^10Ω·cm减小至~10^7Ω·cm。同时发现,Cd/Zn源区的温度决定了退火后晶体在500~4000cm^-1范围内红外透过率曲线的平直状态,这可能与晶体中的Cd间隙缺陷浓度相关,而与晶体中的载流子浓度和夹杂/沉淀相状态无关。在Te气氛下退火时,发现晶体的红外透过率的平直状态与晶体电阻率的对数lg(p)呈近似线性关系,同样可归因于退火过程中Cd间隙缺陷的浓度变化。 展开更多
关键词 cdznte晶体 红外透过率 Cd间隙 退火
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L-半胱氨酸修饰的水溶性掺杂型CdZnTe量子点的水热法制备和表征 被引量:4
13
作者 赵丹 李娇甜 +1 位作者 杨天鸣 陈煌 《中南民族大学学报(自然科学版)》 CAS 2013年第3期50-53,共4页
通过水热法,以Zn离子作为掺杂材料,L-半胱氨酸为稳定剂,制备出了水溶性的掺杂型CdZnTe量子点.应用高温高压的水热合成法,有效地减少了量子点表面的缺陷,过渡金属Zn的掺杂有效降低了CdTe量子点的毒性,结果表明:制备出的CdZnTe量子点含有... 通过水热法,以Zn离子作为掺杂材料,L-半胱氨酸为稳定剂,制备出了水溶性的掺杂型CdZnTe量子点.应用高温高压的水热合成法,有效地减少了量子点表面的缺陷,过渡金属Zn的掺杂有效降低了CdTe量子点的毒性,结果表明:制备出的CdZnTe量子点含有高比例掺杂剂,性质稳定、单分散性好、量子产率高,具有良好的生物相容性,可广泛应用于生化检测和生物医学研究. 展开更多
关键词 量子点 cdznte 水热法 掺杂
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HgCdTe外延用的CdZnTe衬底研制 被引量:6
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作者 刘克岳 王金义 +2 位作者 张学仁 赵宏 张健平 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2000年第2期38-42,共5页
阐述了 Cd Zn Te衬底在红外焦平面阵列探测器研究中的重要性 ;概括了 Cd Zn Te晶体生长的方法、原理和工艺步骤 ;分析了影响晶体质量 (单晶面积、组分及均匀性、结晶完整性、光电特性 )的因素 ,并提出了与质量相关的控制技术 ;介绍了 Cd... 阐述了 Cd Zn Te衬底在红外焦平面阵列探测器研究中的重要性 ;概括了 Cd Zn Te晶体生长的方法、原理和工艺步骤 ;分析了影响晶体质量 (单晶面积、组分及均匀性、结晶完整性、光电特性 )的因素 ,并提出了与质量相关的控制技术 ;介绍了 Cd Zn Te衬底制备过程中 ,晶片处理的工艺和步骤 (晶锭的定向切割、单晶划片、极性鉴别、磨抛、腐蚀 ) ;报道了目前 Cd Zn Te晶体的性能水平、晶片处理结果和 Cd Zn Te的应用情况。 展开更多
关键词 cdznte 晶体半底 红外探测器
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CdZnTe单晶的机械抛光及其表面损伤层的测定 被引量:9
15
作者 查钢强 介万奇 +1 位作者 李强 刘永勤 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第1期120-122,共3页
研究了CdZnTe单晶片的机械抛光工艺。采用SiO2和MgO进行分步机械抛光后的晶片光亮平整,在光学显微镜下观察没有划伤,采用New View5000TM测得抛光后晶片的表面粗糙度Ra为8.752nm。采用X射线摇摆曲线的半峰宽表征了表面损伤程度。通过分... 研究了CdZnTe单晶片的机械抛光工艺。采用SiO2和MgO进行分步机械抛光后的晶片光亮平整,在光学显微镜下观察没有划伤,采用New View5000TM测得抛光后晶片的表面粗糙度Ra为8.752nm。采用X射线摇摆曲线的半峰宽表征了表面损伤程度。通过分析不同时间腐蚀后晶片的质量和半峰宽值,计算出机械抛光产生的表面损伤层厚度约为26.7μm。 展开更多
关键词 cdznte 机械抛光 X射线摇摆曲线 表面损伤层
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钝化处理对CdZnTe Γ射线探测器漏电流的影响 被引量:4
16
作者 李万万 桑文斌 +3 位作者 闵嘉华 郁芳 张斌 王昆黍 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 2003年第5期312-315,共4页
表面漏电流引起的噪声会限制CdZnTe探测器的性能 ,尤其对于共面栅探测器 ,漏电噪声的大小与器件的电极设计和表面处理工艺密切相关。研究了化学钝化的工艺条件对CdZnTe表面状态的影响 ,借助原子力显微镜、电子探针和微电流测试仪等手段 ... 表面漏电流引起的噪声会限制CdZnTe探测器的性能 ,尤其对于共面栅探测器 ,漏电噪声的大小与器件的电极设计和表面处理工艺密切相关。研究了化学钝化的工艺条件对CdZnTe表面状态的影响 ,借助原子力显微镜、电子探针和微电流测试仪等手段 ,研究了CZT表面形貌、组成等特性与器件电学性能之间的关系 。 展开更多
关键词 cdznte晶体 Γ射线探测器 钝化处理 漏电流
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载流子输运性能对CdZnTe晶体脉冲X射线响应特性的影响 被引量:3
17
作者 徐亚东 王昌盛 +3 位作者 谷亚旭 郭榕榕 苏春磊 介万奇 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2014年第24期24078-24081,24086,共5页
采用生长态高电阻CdZnTe晶体制备出平面电极探测器,室温下测试了其在脉冲X射线作用下的诱导电流曲线。分析了脉冲电流的上升时间以及脉冲衰减过程,发现脉冲上升时间约为2 ns,且不受外加偏压影响,而脉冲衰减过程可分为3阶段。利用α粒子... 采用生长态高电阻CdZnTe晶体制备出平面电极探测器,室温下测试了其在脉冲X射线作用下的诱导电流曲线。分析了脉冲电流的上升时间以及脉冲衰减过程,发现脉冲上升时间约为2 ns,且不受外加偏压影响,而脉冲衰减过程可分为3阶段。利用α粒子结合飞行时间技术研究了CdZnTe晶体的载流子传输特性,分析了结构缺陷的散射和俘获-佉俘获对载流子传输特性的影响。同时对比了不同厚度的CdZnTe探测器在不同电压下对脉冲X射线的响应特性。结果表明,当外加电场强度增加时,诱导脉冲电流曲线的半峰宽呈指数衰减,但当探测器厚度大于0.2 mm时,随着探测器厚度的增加变化不明显。可能是由于材料中结构缺陷的浓度增加,对载流子的俘获和散射作用加剧,严重影响了载流子的传输过程和复合时间。 展开更多
关键词 cdznte 时间响应 脉冲X射线 载流子 俘获中心
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基于CZT变换分段频谱细化的鼠笼式异步电动机转子故障诊断 被引量:6
18
作者 尉宇 王涛 +1 位作者 刘振兴 张文武 《武汉科技大学学报》 CAS 2008年第6期643-647,共5页
提出一种基于CZT变换分段频谱细化的鼠笼式异步电动机转子故障监测和诊断方法。从理论上推导鼠笼式异步电动机转子故障时的电流信号模型,利用CZT变换的分段频谱细化性质,将故障电流信号进行分段频谱细化分析,达到消除电源基波和噪声影... 提出一种基于CZT变换分段频谱细化的鼠笼式异步电动机转子故障监测和诊断方法。从理论上推导鼠笼式异步电动机转子故障时的电流信号模型,利用CZT变换的分段频谱细化性质,将故障电流信号进行分段频谱细化分析,达到消除电源基波和噪声影响、突出故障特征的目的。同时采用CZT快速精确估计方法估计出故障特征频率成分。通过对样机实测信号进行分析处理,验证了CZT变换的分段频谱细化算法的有效性和优越性。 展开更多
关键词 鼠笼式异步电动机 故障诊断 czt变换算法 频率快速精确估计
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用于CdZnTe晶体生长的石英坩埚真空镀碳工艺研究 被引量:4
19
作者 陈军 闵嘉华 +3 位作者 梁小燕 张继军 王东 李辉 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2010年第5期1114-1118,共5页
采用原子力显微镜(AFM)、椭圆偏振光谱仪、Dage-Pc2400推理分析等测试方法研究了石英坩埚真空镀膜工艺获得的碳膜的表面状态、粗糙度,碳膜和石英坩埚的结合力,确定了用于CdZnTe晶体生长的石英坩埚真空镀碳的最优工艺参数。研究表明,以... 采用原子力显微镜(AFM)、椭圆偏振光谱仪、Dage-Pc2400推理分析等测试方法研究了石英坩埚真空镀膜工艺获得的碳膜的表面状态、粗糙度,碳膜和石英坩埚的结合力,确定了用于CdZnTe晶体生长的石英坩埚真空镀碳的最优工艺参数。研究表明,以乙醇为碳源,坩埚真空退火9 h后,碳源通入量为1.5 mL时,获得了厚度为0.7163μm,表面粗糙度为4.7 nm,结合力达8.11 kg的碳膜。采用此工艺镀膜的石英坩埚生长CdZnTe晶体后,碳膜附着完好,晶体表面平整光洁,位错密度降低。 展开更多
关键词 cdznte晶体 真空镀碳 粗糙度 结合力 位错密度
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平面型CdZnTe探测器电荷收集效率对能谱测量的影响 被引量:4
20
作者 李杨 罗文芸 +2 位作者 贾晓斌 张家磊 王林军 《上海大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 2016年第2期231-237,共7页
采用蒙特卡洛程序Geant4构建平面型CdZnTe探测器,模拟^(241)Am(59.5 keV)与^(137)Cs(662 keV)两种不同能量射线从阴极面垂直入射探测器.通过在Geant4中添加Hecht方程来计算探测器不同位置处的电荷收集效率.根据模拟输出的能谱,结合能量... 采用蒙特卡洛程序Geant4构建平面型CdZnTe探测器,模拟^(241)Am(59.5 keV)与^(137)Cs(662 keV)两种不同能量射线从阴极面垂直入射探测器.通过在Geant4中添加Hecht方程来计算探测器不同位置处的电荷收集效率.根据模拟输出的能谱,结合能量沉积分布、电子-空穴对分布及其相互作用类型,在考虑电荷收集效率的情况下,研究了探测器能谱测量的变化.结果发现,在考虑电荷收集效率后,能谱向低能部分偏移,偏移程度与最大电荷收集效率紧密相关. 展开更多
关键词 GEANT4 cdznte探测器 电子 空穴对 电荷收集效率 能谱
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