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CeO_2/Si薄膜的紫/蓝光跃迁 被引量:5
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作者 柴春林 杨少延 +2 位作者 刘志凯 廖梅勇 陈诺夫 《科学通报》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第8期780-782,共3页
利用双离子束外延技术制备了CeO2/Si薄膜,观察到了CeO2室温蓝光发光以及低温紫光致发光(PL)现象.利用XRD和XPS对薄膜结构及价态进行分析后表明,CeO2的发光机制是由于电子的Ce4f→O2p跃迁和缺陷能级→O2p能级跃迁共同作用的结果,并且这... 利用双离子束外延技术制备了CeO2/Si薄膜,观察到了CeO2室温蓝光发光以及低温紫光致发光(PL)现象.利用XRD和XPS对薄膜结构及价态进行分析后表明,CeO2的发光机制是由于电子的Ce4f→O2p跃迁和缺陷能级→O2p能级跃迁共同作用的结果,并且这些缺陷能级位于Ce4f能级上下1 eV的范围内. 展开更多
关键词 ceo2/si薄膜 室温蓝光发光 低温紫光致发光 薄膜结构 发光机制 能级跃迁 双离子束外延技术
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CeO_2/Si薄膜PL谱的“紫移” 被引量:1
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作者 柴春林 杨少延 +3 位作者 刘志凯 廖梅勇 陈诺夫 王占国 《科学通报》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第18期1511-1513,共3页
利用双离子束外延技术制备了CeO2/Si薄膜, 椭圆偏振仪测得薄膜厚度为100 nm, 折射系数约为2.455. 实验中发现未经退火处理的CeO2室温光致发光(PL)谱存在着紫移现象, 其移动距离约为65 nm. 利用XRD和XPS对薄膜结构及价态进行分析后表明,... 利用双离子束外延技术制备了CeO2/Si薄膜, 椭圆偏振仪测得薄膜厚度为100 nm, 折射系数约为2.455. 实验中发现未经退火处理的CeO2室温光致发光(PL)谱存在着紫移现象, 其移动距离约为65 nm. 利用XRD和XPS对薄膜结构及价态进行分析后表明, PL谱的移动与氧化物中Ce离子价态有关. 当Ce离子价态发生Ce4+Ce3+变化时, 其PL谱峰位要从蓝光区向紫光区移动, 出现发光峰紫移现象. 展开更多
关键词 ceo2/si薄膜 PL谱 “紫移” 二氧化铈/硅薄膜 光致发光谱 薄膜结构 离子价态
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