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LVDS两种终端模式在93K Smart Scale system的转换
1
作者
田爱国
崔海龙
《中国集成电路》
2019年第7期83-85,共3页
LVDS接口终端有两种模式,一种为在PN管脚间短接100欧电阻(Crosstermination);一种为PN管脚各接50欧姆电阻到中间电平(Center-taptermination)。在爱德万93KSmartScalesystem中,硬件设置仅支持后一种终端模式,但在LVDS测试中,有些电参数...
LVDS接口终端有两种模式,一种为在PN管脚间短接100欧电阻(Crosstermination);一种为PN管脚各接50欧姆电阻到中间电平(Center-taptermination)。在爱德万93KSmartScalesystem中,硬件设置仅支持后一种终端模式,但在LVDS测试中,有些电参数需要在第一种模式下测试,在分析LVDS电路原理和仿真实验基础上,通过软件配置实现了Crosstermination的终端设置。
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关键词
LVDS测试
93K
Crosstermination
center-taptermination
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职称材料
题名
LVDS两种终端模式在93K Smart Scale system的转换
1
作者
田爱国
崔海龙
机构
中国电子科技集团公司第五十四研究所
出处
《中国集成电路》
2019年第7期83-85,共3页
文摘
LVDS接口终端有两种模式,一种为在PN管脚间短接100欧电阻(Crosstermination);一种为PN管脚各接50欧姆电阻到中间电平(Center-taptermination)。在爱德万93KSmartScalesystem中,硬件设置仅支持后一种终端模式,但在LVDS测试中,有些电参数需要在第一种模式下测试,在分析LVDS电路原理和仿真实验基础上,通过软件配置实现了Crosstermination的终端设置。
关键词
LVDS测试
93K
Crosstermination
center-taptermination
Keywords
LVDS test
93K
Cross termination
Center-tap termination
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
LVDS两种终端模式在93K Smart Scale system的转换
田爱国
崔海龙
《中国集成电路》
2019
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