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基于Chapman函数反演电离层电子密度 被引量:1
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作者 刘伟 郑作亚 +1 位作者 郭英 徐运广 《大地测量与地球动力学》 CSCD 北大核心 2013年第2期120-123,共4页
利用Chapman函数结合球谐函数建立电离层反演计算方法,并以静日下中国区域GPS CORS实测数据反演中国区域上空的电离层电子密度值,反演得到的电离层的延迟量与已知值比较,其残差中误差为0.311 m;对垂直方向上和一定高度层面上的电离层电... 利用Chapman函数结合球谐函数建立电离层反演计算方法,并以静日下中国区域GPS CORS实测数据反演中国区域上空的电离层电子密度值,反演得到的电离层的延迟量与已知值比较,其残差中误差为0.311 m;对垂直方向上和一定高度层面上的电离层电子密度变化的研究表明,运用该方法计算的电子密度具有较高的精度,并能较为直观地反映出电离层不同层间电子密度变化的一致性。 展开更多
关键词 GPS 电离层 chapman函数 球谐函数 电子密度
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Chapman函数在实际模式大气中的数值积分计算
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作者 陈耀武 徐秀娟 洪儒珍 《空间科学学报》 CAS CSCD 北大核心 1990年第4期265-273,共9页
本文对Chapman阳光掠射函数[Ch(z_p,χ)]进行了数值积分,求得了其在实际模式大气中随观测高度z_p及天顶角χ的变化.计算并讨论了低热层高温度梯度、分子与湍流扩散、重力场及太阳活动对 Ch(z_p,χ)的影响.结果表明,在150 km以下,Ch(z_p,... 本文对Chapman阳光掠射函数[Ch(z_p,χ)]进行了数值积分,求得了其在实际模式大气中随观测高度z_p及天顶角χ的变化.计算并讨论了低热层高温度梯度、分子与湍流扩散、重力场及太阳活动对 Ch(z_p,χ)的影响.结果表明,在150 km以下,Ch(z_p,χ)与前人用等标高模式及等标高梯度模式的计算结果差别较大.其中高温度梯度的影响起主导作用.特别是太阳活动对Chapman函数影响较显著,高年与低年之间可变化10—40%(在大天顶角时),这有可能推动热层大气中辐射-光化学-动力学耦合关系的变化. 展开更多
关键词 太阳 辐射 chapman函数 日地关系
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基于Chapman函数的电离层TEC同化模型构建
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作者 宋福成 时爽爽 冯建迪 《武汉大学学报(信息科学版)》 EI CSCD 北大核心 2016年第6期784-790,共7页
电离层总电子含量TEC(total electron content)是影响卫星导航定位的主要误差源之一。为了构建精确的电离层TEC模型,基于Chapman函数建立了基于物理机制的电离层TEC同化模型背景场,并着重以IGS发布的2008年4个时段低纬度、中纬度和高纬... 电离层总电子含量TEC(total electron content)是影响卫星导航定位的主要误差源之一。为了构建精确的电离层TEC模型,基于Chapman函数建立了基于物理机制的电离层TEC同化模型背景场,并着重以IGS发布的2008年4个时段低纬度、中纬度和高纬度地区的电离层TEC数据为样本,同化稀疏点上的已知电离层TEC值,分析模型计算值的残差和相对精度分布,利用模型对电离层TEC进行了2h短期预报和1d预报,并将1d的预报值和IGS发布值进行对比。实验结果表明:(1)由同化模型计算得到的TEC残差值超过92%分布在±2TECU以内,并且除边缘区域外,同化模型TEC计算值的相对精度均在90%以上;(2)2h和1d预报残差小于±3TECU的比例分别为81.8%和81.5%。 展开更多
关键词 电离层 TEC chapman函数 数据同化 残差分析 相对精度分析
原文传递
面向电离层反演的参数平滑迭代层析方法
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作者 余接情 王颖 +2 位作者 朱砚宇 黄英麒 吴立新 《地球物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2023年第6期2263-2274,共12页
层析是电离层三维结构反演的重要技术.增加约束可缓解层析模型的病态问题.然而,迭代层析中,大量无射线穿过的网格易对施加的约束产生与真实意图相违背的约束结果(称负面约束).针对该问题,提出了一种参数平滑的迭代层析方法(iterative to... 层析是电离层三维结构反演的重要技术.增加约束可缓解层析模型的病态问题.然而,迭代层析中,大量无射线穿过的网格易对施加的约束产生与真实意图相违背的约束结果(称负面约束).针对该问题,提出了一种参数平滑的迭代层析方法(iterative tomography method via parameters smoothing, ITPS).每次迭代中,先用Chapman函数及最小二乘法拟合及改正每一垂直剖面,获取关于Chapman函数参数的二维图像,然后用移动窗口法平滑各参数图像并以此改正各网格的电子密度.实验表明:ITPS方法可一定程度上减少负面约束并抑制层像的扰动.相对于MART和CMART算法,ITPS方法在垂直剖面、F2层临界频率(f_(o)F_(2))、F_(2)层峰值高度(h_(m)F_(2))、斜电子总含量(Slant Total Electron Content, STEC)及h_(m)F_(2)以上电子密度等方面均具有更佳的表现.相对于精度较高的CMART算法,ITPS方法在f_(o)F_(2)与h_(m)F_(2)的平均优化率分别为7.49%及6.60%,STEC的平均优化率为5.19%,h_(m)F_(2)以上电子密度的平均优化率为11.41%. 展开更多
关键词 电离层电子密度 电离层层析 迭代层析 chapman函数 水平光滑 MART算法
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