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Co-Si金属间化合物深过冷快速凝固及组织演化机理研究
被引量:
1
1
作者
危立娜
顾申翔宇
+4 位作者
时晓
信丽
王潇韩
杜振铭
陈正
《精密成形工程》
2019年第6期189-195,共7页
目的探究Co-Si金属间化合物在深过冷条件下产生的再辉现象及对应组织的演化阶段,并分析其形成机理。方法为获得深过冷,结合了两种热力学方法:循环过热法及熔融玻璃净化法,实现了Co2Si金属间化合物(Co-33at%Si)、CoSi金属间化合物(Co-50a...
目的探究Co-Si金属间化合物在深过冷条件下产生的再辉现象及对应组织的演化阶段,并分析其形成机理。方法为获得深过冷,结合了两种热力学方法:循环过热法及熔融玻璃净化法,实现了Co2Si金属间化合物(Co-33at%Si)、CoSi金属间化合物(Co-50at%Si)的深过冷快速凝固,并通过光学显微镜、扫描电子显微镜和XRD进行分析。结果发现Co-33at%Si金属间化合物凝固过程中存在两次再辉现象,晶粒尺寸随着过冷度的增加而减小,ΔT=190 K时,二次枝晶间距大约为0.5μm,层片间距为0.289μm,而Co-50at%Si金属间化合物凝固过程仅有一次再辉现象,且随过冷度增加,晶粒尺寸减小。ΔT<50K时,微观组织形貌为树枝晶;ΔT>90 K时,微观组织形貌为细小等轴晶。结论 Co-33at%Si中一次再辉对应于初始枝晶形成及细化过程,二次再辉对应于晶粒间残余液相二次凝固,即晶间细小树枝状共晶的形成。而Co-50at%Si中唯一一次再辉现象则对应枝晶向等轴晶的转变。
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关键词
co-si
金属间
化合物
深过冷快速凝固
组织演化
下载PDF
职称材料
退火温度对IBAD合成Co—Si化合物薄膜结构影响研究
2
作者
杨杰
阎忻水
《薄膜科学与技术》
1994年第2期151-154,共4页
关键词
离子束辅助淀积
co-si化合物
薄膜
退火
下载PDF
职称材料
Si衬底上Co薄膜氧化观察
3
作者
张灶利
肖治纲
杜国维
《金属学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
1994年第6期B270-B272,共3页
用透射电子显微镜和X射线衍射方法研究Si衬底上的Co薄膜氧化.发现:在550℃以下,薄膜氧化产物是CoO;在900℃再次进行真空热处理,CoO能转变为硅化物.薄膜氧化,对Co/Si界面硅化物转变有影响.
关键词
薄膜
co-si化合物
氧化
下载PDF
职称材料
题名
Co-Si金属间化合物深过冷快速凝固及组织演化机理研究
被引量:
1
1
作者
危立娜
顾申翔宇
时晓
信丽
王潇韩
杜振铭
陈正
机构
枣庄职业学院机电工程系
中国矿业大学材料科学与工程学院
出处
《精密成形工程》
2019年第6期189-195,共7页
文摘
目的探究Co-Si金属间化合物在深过冷条件下产生的再辉现象及对应组织的演化阶段,并分析其形成机理。方法为获得深过冷,结合了两种热力学方法:循环过热法及熔融玻璃净化法,实现了Co2Si金属间化合物(Co-33at%Si)、CoSi金属间化合物(Co-50at%Si)的深过冷快速凝固,并通过光学显微镜、扫描电子显微镜和XRD进行分析。结果发现Co-33at%Si金属间化合物凝固过程中存在两次再辉现象,晶粒尺寸随着过冷度的增加而减小,ΔT=190 K时,二次枝晶间距大约为0.5μm,层片间距为0.289μm,而Co-50at%Si金属间化合物凝固过程仅有一次再辉现象,且随过冷度增加,晶粒尺寸减小。ΔT<50K时,微观组织形貌为树枝晶;ΔT>90 K时,微观组织形貌为细小等轴晶。结论 Co-33at%Si中一次再辉对应于初始枝晶形成及细化过程,二次再辉对应于晶粒间残余液相二次凝固,即晶间细小树枝状共晶的形成。而Co-50at%Si中唯一一次再辉现象则对应枝晶向等轴晶的转变。
关键词
co-si
金属间
化合物
深过冷快速凝固
组织演化
Keywords
co-si
intermetallic compounds
rapid solidification at high under cooling
microstructure evolution
分类号
TG115.21 [金属学及工艺—物理冶金]
TG146 [金属学及工艺—金属材料]
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职称材料
题名
退火温度对IBAD合成Co—Si化合物薄膜结构影响研究
2
作者
杨杰
阎忻水
出处
《薄膜科学与技术》
1994年第2期151-154,共4页
关键词
离子束辅助淀积
co-si化合物
薄膜
退火
分类号
TN304.205 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
Si衬底上Co薄膜氧化观察
3
作者
张灶利
肖治纲
杜国维
机构
北京科技大学
出处
《金属学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
1994年第6期B270-B272,共3页
文摘
用透射电子显微镜和X射线衍射方法研究Si衬底上的Co薄膜氧化.发现:在550℃以下,薄膜氧化产物是CoO;在900℃再次进行真空热处理,CoO能转变为硅化物.薄膜氧化,对Co/Si界面硅化物转变有影响.
关键词
薄膜
co-si化合物
氧化
Keywords
film, cobalt-silicide, oxidation
分类号
TN304.055 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
Co-Si金属间化合物深过冷快速凝固及组织演化机理研究
危立娜
顾申翔宇
时晓
信丽
王潇韩
杜振铭
陈正
《精密成形工程》
2019
1
下载PDF
职称材料
2
退火温度对IBAD合成Co—Si化合物薄膜结构影响研究
杨杰
阎忻水
《薄膜科学与技术》
1994
0
下载PDF
职称材料
3
Si衬底上Co薄膜氧化观察
张灶利
肖治纲
杜国维
《金属学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
1994
0
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职称材料
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0
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