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CoSiN薄膜的制备
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作者 张在玉 陈秀华 冯春杰 《安顺学院学报》 2013年第4期115-116,129,共3页
文章采用磁控溅射的方法在n型硅基底上制备了CoN和SiN薄膜,再用薄膜测厚仪和四探针测试仪(EPP)测出样品的厚度及方块电阻,得到制备CoN和SiN薄膜的优化条件,然后由CoN和SiN薄膜制备出CoSiN薄膜。
关键词 磁控溅射 con和sin薄膜 Cosin薄膜
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