期刊文献+
共找到62篇文章
< 1 2 4 >
每页显示 20 50 100
溶剂热合成多级结构的Cu_3SnS_4月季花状微球 被引量:2
1
作者 胡寒梅 邓崇海 +1 位作者 孙梅 张克华 《无机化学学报》 SCIE CAS CSCD 北大核心 2010年第7期1189-1194,共6页
以CuCl2·2H2O、SnCl2和硫脲为原料,在乙二醇溶剂热条件下,制得具有多级结构的月季花状Cu3SnS4微球。粉体用XRD、XPS、FESEM、TEM、UV-Vis和PL进行了表征及光学性能测试。结果表明:粉体Cu3SnS4产品为四方相结构的月季花状微球,球... 以CuCl2·2H2O、SnCl2和硫脲为原料,在乙二醇溶剂热条件下,制得具有多级结构的月季花状Cu3SnS4微球。粉体用XRD、XPS、FESEM、TEM、UV-Vis和PL进行了表征及光学性能测试。结果表明:粉体Cu3SnS4产品为四方相结构的月季花状微球,球直径约7~10μm,结构稳定性好。微球由一定厚度的片状花瓣从同一成核中心向四周辐射生长组装而成,而花瓣则是由具有单晶结构的纳米薄片通过范德华力堆叠起来的。粉体的室温光致发光测试表明在紫外区出现2个发射带,可能与花球的多级结构有关。并对纳米片-花瓣-微球三级结构的组装机制进行了初步探讨。 展开更多
关键词 cu3snS4 月季花球 溶剂热合成
下载PDF
微电子封装中全Cu_3Sn焊点形成过程中的组织演变及生长形貌 被引量:1
2
作者 梁晓波 李晓延 +2 位作者 姚鹏 李扬 金凤阳 《材料工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2018年第8期106-112,共7页
在3D封装中,全Cu_3Sn焊点逐渐得到广泛应用。选择270℃,1N分别作为钎焊温度和钎焊压力,在不同钎焊时间下制备焊点,分析其组织演变过程,分别观察不同钎焊温度和钎焊时间下Cu_6Sn_5立体形貌,以研究Cu_6Sn_5生长规律及温度对其生长形貌的... 在3D封装中,全Cu_3Sn焊点逐渐得到广泛应用。选择270℃,1N分别作为钎焊温度和钎焊压力,在不同钎焊时间下制备焊点,分析其组织演变过程,分别观察不同钎焊温度和钎焊时间下Cu_6Sn_5立体形貌,以研究Cu_6Sn_5生长规律及温度对其生长形貌的影响。结果表明:钎焊30min后Cu基板与液态Sn之间形成扇贝状Cu_6Sn_5,Cu_6Sn_5与Cu基板之间出现一层较薄的Cu_3Sn。当钎焊时间增加到60min后,液态Sn全部被消耗,上下两层Cu_6Sn_5形成一个整体。继续增加钎焊时间,Cu_3Sn以Cu_6Sn_5的消耗为代价不断长大,直到480min时Cu_6Sn_5全部转化成Cu_3Sn。Cu_6Sn_5长大增厚过程为表面形核、长大、小晶粒融合、包裹初始大晶粒。随着钎焊温度的增加,Cu_6Sn_5的形貌逐渐由多面体状变为匍匐状。 展开更多
关键词 cu3sn焊点 cu6sn5 组织演变 形貌
下载PDF
Cu/Sn比率对Cu_2SnSe_3薄膜若干物理性质的影响 被引量:1
3
作者 张伟 陈顺礼 汪渊 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2012年第5期630-634,共5页
利用射频(RF)磁控溅射在玻璃基片上共溅射沉积Cu-Sn预制膜。采用固态硒化法,制备Cu/Sn化学计量比在1.87~2.22之间的Cu2SnSe3薄膜。研究了Cu/Sn比率对Cu2SnSe3薄膜的晶体结构、微结构、光学性能以及电学性能的影响。X射线衍射(XRD)结果... 利用射频(RF)磁控溅射在玻璃基片上共溅射沉积Cu-Sn预制膜。采用固态硒化法,制备Cu/Sn化学计量比在1.87~2.22之间的Cu2SnSe3薄膜。研究了Cu/Sn比率对Cu2SnSe3薄膜的晶体结构、微结构、光学性能以及电学性能的影响。X射线衍射(XRD)结果表明,所制备的Cu2SnSe3薄膜为立方晶体结构,具有(111)择优取向;贫铜的Cu2SnSe3薄膜光学带隙Eg随着Cu/Sn比率增大而增大;富铜的Cu2SnSe3薄膜光学带隙Eg随着Cu/Sn比率增大而不变。薄膜电阻率为1.67~4.62mΩ.cm。 展开更多
关键词 cu2snSe3薄膜 cu/sn比率 硒化 物理性质
下载PDF
Cu_2SnS_3薄膜的制备及性能研究 被引量:2
4
作者 杜金会 于振瑞 +2 位作者 张加友 王妍妍 李正群 《光电子技术》 CAS 2004年第3期151-155,158,共6页
采用 LBL(layer- by- layer)法制备了 Cu2 Sn S3 薄膜。即首先采用电化学方法在 Sn O2 衬底上制备 Sn S薄膜 ,然后又在其上用化学沉积法制备 Cu S薄膜 ,最后进行退火处理得到厚度约为960 nm的 Cu2 Sn S3 薄膜。探讨了薄膜的制备机理、... 采用 LBL(layer- by- layer)法制备了 Cu2 Sn S3 薄膜。即首先采用电化学方法在 Sn O2 衬底上制备 Sn S薄膜 ,然后又在其上用化学沉积法制备 Cu S薄膜 ,最后进行退火处理得到厚度约为960 nm的 Cu2 Sn S3 薄膜。探讨了薄膜的制备机理、生长速度、结构和光学特性。制备的薄膜为多晶(Cu2 Sn S3 ) 72 z(三斜或假单斜晶系 )结构 ,其直接光学带隙约为 1 .0 5 e V。 展开更多
关键词 cu2snS3薄膜 LBL(1ayer-by-layer)法 结构特性 光学特性
下载PDF
Cu_2Sn(S,Se)_3薄膜的溶液法制备及其光电性能研究
5
作者 陈建彪 常乐 +2 位作者 赵雲 李燕 王成伟 《西北师范大学学报(自然科学版)》 CAS 北大核心 2019年第2期50-54,共5页
采用低廉、简便及易于控制元素组成的溶液法在钠钙玻璃和钼玻璃基底上沉积Cu-Sn-S前驱体膜,随后在N_2保护下硒化获得到Cu_2Sn(S,Se)_3薄膜,并通过调控前驱薄膜的硒化退火温度,实现了对薄膜形貌、物相结构、电学及光学性能的有效调制.研... 采用低廉、简便及易于控制元素组成的溶液法在钠钙玻璃和钼玻璃基底上沉积Cu-Sn-S前驱体膜,随后在N_2保护下硒化获得到Cu_2Sn(S,Se)_3薄膜,并通过调控前驱薄膜的硒化退火温度,实现了对薄膜形貌、物相结构、电学及光学性能的有效调制.研究结果表明,适当的硒化退火温度,如480℃,可得到表面平整、结晶度高、晶粒致密和双层结构(上层大、下层小晶粒)的Cu_2Sn(S,Se)_3薄膜,其带隙为1.28 eV,载流子浓度可低至6.780×10^(17) cm^(-3),迁移率高达18.19 cm^2·V^(-1)·S^(-1),可用于薄膜太阳能电池的光吸收层. 展开更多
关键词 cu2sn(S Se)3薄膜 溶液法 硒化温度
下载PDF
Cu-Sn、Ni-Cr、Co烧结助剂对Ni_(3)Al基金刚石复合材料性能的影响
6
作者 卢家锋 张凤林 陈晓昀 《热加工工艺》 北大核心 2024年第15期44-48,共5页
采用真空热压法制备了Ni_(3)Al基金刚石复合材料,研究了不同烧结助剂对复合材料力学性能和微观结构的影响,并对Ni_(3)Al基金刚石钻头的钻孔性能进行了测试。结果表明,在添加0~30vol%的Cu-Sn、Ni-Cr、Co烧结助剂后,Ni_(3)Al基金刚石刀头... 采用真空热压法制备了Ni_(3)Al基金刚石复合材料,研究了不同烧结助剂对复合材料力学性能和微观结构的影响,并对Ni_(3)Al基金刚石钻头的钻孔性能进行了测试。结果表明,在添加0~30vol%的Cu-Sn、Ni-Cr、Co烧结助剂后,Ni_(3)Al基金刚石刀头的致密度、抗弯强度、硬度得到提高。Ni3Al基金刚石复合材料的抗弯强度随着Ni-Cr、Co烧结助剂含量的增加而提高。Cu-Sn、Ni-Cr烧结助剂中的Cr元素在金刚石的表面出现了富集现象。将添加Cu-Sn、Ni-Cr烧结助剂的Ni_(3)Al基金刚石复合材料制备成工具进行钻削测试,发现Ni_(3)Al基金刚石复合材料的失效形式可以分为微破碎、磨耗、宏观破碎3种形式,钻削试验中并没有发现整颗金刚石脱落的现象,表明Ni_(3)Al基对金刚石的把持力较大,强度较高。 展开更多
关键词 Ni_(3)Al cu-sn NI-CR 金刚石 复合材料 磨损
下载PDF
空位对Cu/Sn焊点中Cu_(3)Sn层元素扩散的影响 被引量:2
7
作者 任二花 李晓延 +1 位作者 张虎 韩旭 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2022年第4期381-386,共6页
为了探究温度和空位浓度对Cu_(3)Sn层中各元素扩散行为的影响,基于分子动力学方法,使用LAMMPS软件模拟了Cu_(3)Sn层上空位浓度以及温度对各元素扩散系数的影响。结果表明,Cu_(3)Sn层各元素的扩散系数均随温度的升高而增大。与不含空位相... 为了探究温度和空位浓度对Cu_(3)Sn层中各元素扩散行为的影响,基于分子动力学方法,使用LAMMPS软件模拟了Cu_(3)Sn层上空位浓度以及温度对各元素扩散系数的影响。结果表明,Cu_(3)Sn层各元素的扩散系数均随温度的升高而增大。与不含空位相比,当Cu_(3)Sn层中存在10%空位时,原子运动更加剧烈,扩散系数增大。进一步研究发现,在一定的温度下(900 K),空位含量增大,扩散系数随之增大。然而,空位含量变化不如温度对扩散系数的影响大。最后,在相同条件下,Cu1和Cu2原子的扩散系数相差不大,且均大于Sn的扩散系数,Cu_(3)Sn层中的主要扩散元素是Cu。 展开更多
关键词 扩散 空位 cu_(3)sn 扩散系数 分子动力学模拟
下载PDF
基于分子动力学的Cu_3Sn/Cu界面元素扩散行为数值模拟 被引量:1
8
作者 余波 李晓延 +1 位作者 姚鹏 朱永鑫 《焊接学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2017年第8期50-54,共5页
文中采用修正的嵌入原子势函数(modified embedded atomic method,MEAM)的分子动力学模拟,研究了无铅焊点中Cu_3Sn/Cu界面元素的扩散过程,对界面元素的扩散行为进行了分析计算,获得了界面各元素的扩散激活能,根据元素扩散的经验公式得... 文中采用修正的嵌入原子势函数(modified embedded atomic method,MEAM)的分子动力学模拟,研究了无铅焊点中Cu_3Sn/Cu界面元素的扩散过程,对界面元素的扩散行为进行了分析计算,获得了界面各元素的扩散激活能,根据元素扩散的经验公式得出界面过渡区的厚度表达式.结果表明,扩散过程中主要是铜晶格中Cu原子向Cu_3Sn晶格中扩散.其中,铜晶格内原子以较慢的速率扩散,但可以深入Cu_3Sn晶格内部,Cu_3Sn中原子以较快的速率扩散,但难以进入铜晶格内部.结合阿伦尼乌斯关系和爱因斯坦扩散定律,计算得到界面处铜晶格原子的扩散激活能为172.76 k J/mol,界面处Cu_3Sn晶格中Cu原子扩散激活能为52.48 k J/mol,Sn原子扩散激活能为77.86 k J/mol. 展开更多
关键词 微电子封装 扩散 cu3sn/cu界面 分子动力学
下载PDF
Ce_3Cu_4X_4(X=Sn,Ge)的晶场效应研究
9
作者 路莹 《湛江师范学院学报》 2008年第6期20-23,共4页
基于点电荷的晶场理论模型,通过对O.Zaharko等人磁化率倒数与温度关系曲线的模拟,得到了稀土化合物Ce3Cu4Sn4和Ce3Cu4Ge4的晶场分裂能和相应波函数.计算表明,Kramers离子Ce3+在晶场效应的作用下,基态简并部分消除得到了双基态,模拟得到... 基于点电荷的晶场理论模型,通过对O.Zaharko等人磁化率倒数与温度关系曲线的模拟,得到了稀土化合物Ce3Cu4Sn4和Ce3Cu4Ge4的晶场分裂能和相应波函数.计算表明,Kramers离子Ce3+在晶场效应的作用下,基态简并部分消除得到了双基态,模拟得到的二化合物的磁化率倒数与温度关系曲线和实验曲线吻合较好.并且得到的Ce3Cu4Sn4的晶场分裂能较Ce3Cu4Ge4为低也与O.Zaharko等人由比热数据得出的结果相符. 展开更多
关键词 Ce3cu4sn4 Ce3cu4Ge4 磁化率 晶场效应
下载PDF
全Cu_(3)Sn焊点在高温时效下的组织及力学性能 被引量:1
10
作者 朱阳阳 李晓延 +2 位作者 张伟栋 张虎 何溪 《材料工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2022年第9期169-176,共8页
对全Cu_(3)Sn焊点进行620℃下不同持续时间的时效处理,研究时效过程中接头微观组织演变,并利用纳米压痕实验及剪切实验表征时效后焊点的力学性能变化。结果表明:在时效过程中,Cu/Cu_(3)Sn界面以平面状析出Cu_(20)Sn_(6)并持续生长,直至C... 对全Cu_(3)Sn焊点进行620℃下不同持续时间的时效处理,研究时效过程中接头微观组织演变,并利用纳米压痕实验及剪切实验表征时效后焊点的力学性能变化。结果表明:在时效过程中,Cu/Cu_(3)Sn界面以平面状析出Cu_(20)Sn_(6)并持续生长,直至Cu_(3)Sn被完全消耗。随后Cu_(20)Sn_(6)向Cu_(20)Sn_(6)和Cu_(13.7)Sn组成的两相层转变,Cu_(13.7)Sn通过消耗两相层在Cu/两相层的界面处以波浪状析出并继续生长,直至占据整个界面区,该过程中伴随着焊缝中间位置孔洞数量和尺寸的生长,最终聚合成微裂纹。Cu_(20)Sn_(6),Cu_(3)Sn,Cu_(13.7)Sn相的硬度分别为9.62,7.15,4.67 GPa,弹性模量分别为146.5,134.0,133.2 GPa。随时效时间的增加,焊点的抗剪强度呈先增大后减小的趋势,在120 min内保持大于20.1 MPa;其断口形貌和断裂路径也随之发生变化。 展开更多
关键词 cu_(3)sn焊点 高温时效 瞬时液相扩散焊 微观组织 抗剪强度
下载PDF
不同取向Cu/Cu_(3)Sn界面处原子扩散行为的分子动力学模拟
11
作者 李姗珊 李晓延 +2 位作者 张伟栋 杨刚力 张虎 《电子元件与材料》 CAS 北大核心 2023年第4期467-475,共9页
为研究不同取向对Cu/Cu3Sn界面原子扩散行为的影响,建立了(100)Cu_(3)Sn//(100)Cu、(100)Cu_(3)Sn//(110)Cu以及(010)Cu_(3)Sn//(112)Cu三种界面结构的模型。运用分子动力学方法模拟了900~1100 K下各模型Cu/Cu3Sn界面处的原子扩散,观察... 为研究不同取向对Cu/Cu3Sn界面原子扩散行为的影响,建立了(100)Cu_(3)Sn//(100)Cu、(100)Cu_(3)Sn//(110)Cu以及(010)Cu_(3)Sn//(112)Cu三种界面结构的模型。运用分子动力学方法模拟了900~1100 K下各模型Cu/Cu3Sn界面处的原子扩散,观察具体的扩散情况并计算了扩散系数。结果表明,温度和界面取向均对扩散系数有影响。温度升高,界面原子的紊乱程度加剧。同一模型的扩散系数随温度升高而增大。三种界面结构在同一温度下界面偏移程度不同,Cu晶体中的Cu原子扩散速度要低于Cu_(3)Sn中的Cu1、Cu2和Sn1原子,其中Cu原子是Cu_(3)Sn相中界面扩散的主要原子。对于Cu晶体,(110)Cu取向上的Cu原子扩散速度最快。Cu3Sn晶体在900~1000 K时,(010)Cu_(3)Sn//(112)Cu模型界面的Cu1、Cu2和Sn1原子由于扩散激活能垒最低而显得扩散速度最快;在高于1000 K时,(100)Cu_(3)Sn//(110)Cu模型的Cu1、Cu2和Sn1原子由于原子排列稀疏、扩散阻力最小而扩散速度最快。三种Cu/Cu_(3)Sn界面结构取向模型扩散速度的差异是界面原子排列及相应原子的扩散激活能不同导致的。 展开更多
关键词 取向 cu/cu_(3)sn 分子动力学模拟 扩散系数
下载PDF
MEMS封装中全Cu_(3)Sn焊点组织演变及剪切性能
12
作者 梁晓波 黄漫国 +3 位作者 刘德峰 高云端 李欣 张鹏斐 《测控技术》 2023年第1期40-44,50,共6页
对Cu/Sn+Sn/Cu结构进行了低温键合,在不同的键合时间下制备焊点,分析了键合时间对焊点界面组织演变的影响和全Cu_(3)Sn焊点制备过程中界面反应机理,对焊点的剪切性能进行了分析和研究。结果表明,随着键合时间的增加,Cu_(6)Sn_(5)逐渐变... 对Cu/Sn+Sn/Cu结构进行了低温键合,在不同的键合时间下制备焊点,分析了键合时间对焊点界面组织演变的影响和全Cu_(3)Sn焊点制备过程中界面反应机理,对焊点的剪切性能进行了分析和研究。结果表明,随着键合时间的增加,Cu_(6)Sn_(5)逐渐变成扇贝状并不断长大。键合时间达到90 min时,Sn完全被消耗,继续增加键合时间,Cu_(3)Sn以Cu_(6)Sn_(5)的消耗为代价不断长大,最终全部转变成Cu_(3)Sn。随着加载速率的增加,全Cu3Sn焊点的抗剪切强度值逐渐减小,焊点界面两侧Cu3Sn界面处沿晶断裂占焊点断裂模式的比例越来越大,因为这种沿晶断裂的抗剪切能力较小,所以焊点的抗剪切强度随着加载速率的增加而下降。 展开更多
关键词 MEMS封装 cu_(3)sn焊点 组织演变 剪切性能
下载PDF
Sn位Ge等电子替换对Cu_2Sn_(0.8)Zn_(0.2)S_3热电性能的影响
13
作者 杨军 潘林 +1 位作者 王一峰 陈长春 《南京工业大学学报(自然科学版)》 CAS 北大核心 2018年第4期7-12,34,共7页
通过固相法结合放电等离子烧结法(SPS)制备Cu_2Sn_(0.8-x)Ge_xZn_(0.2)S_3(x=0,0.2,0.4,0.6)陶瓷块体,着重研究Ge在Sn位等电子替换对材料的晶相组成及热电性能的影响。结果表明:除生成少量的Cu2GeS3相外,大部分Ge可替代基体相中的Sn。G... 通过固相法结合放电等离子烧结法(SPS)制备Cu_2Sn_(0.8-x)Ge_xZn_(0.2)S_3(x=0,0.2,0.4,0.6)陶瓷块体,着重研究Ge在Sn位等电子替换对材料的晶相组成及热电性能的影响。结果表明:除生成少量的Cu2GeS3相外,大部分Ge可替代基体相中的Sn。Ge元素的增加导致了晶胞收缩,Zn元素在Sn位的掺杂量相应降低,导致载流子浓度和电导率下降,而赛贝克系数基本保持不变。相比于未替换样品,Ge替换后热导率的进一步下降主要归结于Ge替换引起结构变化(质量波动、晶格畸变与微应力)从而导致声子平均自由程的缩小。在723 K时,x=0.4的样品获得最大热电优值(0.55),相对于x=0的样品提高了约25%。 展开更多
关键词 cu2snS3 等电子替换 热电性能
下载PDF
射频磁控溅射法制备Cu_2SnS_3薄膜结构和光学特性的研究
14
作者 李学留 刘丹丹 +1 位作者 史成武 梁齐 《真空科学与技术学报》 CSCD 北大核心 2017年第4期400-408,共9页
利用射频磁控溅射法并经快速退火处理制备Cu_2SnS_3薄膜,研究了使用SnS_2、Cu_2S混合靶(摩尔比分别为1∶1、1∶1.5、1∶2)及在不同溅射功率(40和80W)条件下所制备Cu_2SnS_3薄膜的晶体结构、物相组成、化学组分、表面形貌和光学特性。结... 利用射频磁控溅射法并经快速退火处理制备Cu_2SnS_3薄膜,研究了使用SnS_2、Cu_2S混合靶(摩尔比分别为1∶1、1∶1.5、1∶2)及在不同溅射功率(40和80W)条件下所制备Cu_2SnS_3薄膜的晶体结构、物相组成、化学组分、表面形貌和光学特性。结果表明:混合靶的SnS_2、Cu_2S最佳摩尔比为1∶1.5,利用该靶所制备薄膜均结晶;在溅射功率为80 W条件下,所制备薄膜结晶质量和择优取向度高,应变最小,Cu∶Sn∶S摩尔比为1.89∶1∶2.77,平均颗粒直径和平均粗糙度分别为332和0.742 nm,吸收系数达到10~4cm^(-1),禁带宽度为1.32 eV。制备了n-Si/p-CTS异质结器件,器件具有良好的整流特性和光电流响应特性。 展开更多
关键词 cu2snS3薄膜 射频磁控溅射 快速退火 晶体结构 光学特性
下载PDF
In掺杂对Cu_2SnS_3结构和电输运性能的影响
15
作者 沈亚伟 潘林 王一峰 《南京工业大学学报(自然科学版)》 北大核心 2017年第3期21-25,共5页
通过固相合成法制备In掺杂p型Cu_2SnS_3的致密块体Cu_2Sn_(1-x)In_xS_3,考察其晶体结构和电输运特性。结果表明:In置换Sn引入空穴极大地提高电导率,且增加价带顶的简并度(三重),进而得到合适的赛贝克系数。x=0.20时Cu_2Sn_(0.8)In_(0.2_... 通过固相合成法制备In掺杂p型Cu_2SnS_3的致密块体Cu_2Sn_(1-x)In_xS_3,考察其晶体结构和电输运特性。结果表明:In置换Sn引入空穴极大地提高电导率,且增加价带顶的简并度(三重),进而得到合适的赛贝克系数。x=0.20时Cu_2Sn_(0.8)In_(0.2_S_3的功率因子在673 K时达到0.75 mW/(m·K^2)。随着In掺杂量的增大,Cu_2SnS_3的晶体结构从有序的单斜相向无序的立方相和四方相结构转变,有效地抑制声子传播。利用理论最低晶格热导和Wiedemann-Franz定律计算的电子热导估算量纲为1的热电优值(ZT),在673 K时Cu_2Sn_(0.8)Zn_(0.2)S_3的ZT高达0.8,显示Cu_2SnS_3作为新型环保型热电材料的巨大潜力。 展开更多
关键词 cu2snS3 In掺杂 结构转变 功率因子
下载PDF
Synthesis of Cu_2ZnSnS_4 thin film from mixed solution of Cu_2SnS_3 nanoparticles and Zn ions
16
作者 Zheng-fu TONG Jia YANG +6 位作者 Chang YAN Meng-meng HAO Fang-yang LIU Liang-xing JIANG Yan-qing LAI Jie LI Ye-xiang LIU 《Transactions of Nonferrous Metals Society of China》 SCIE EI CAS CSCD 2016年第8期2102-2108,共7页
The Cu2ZnSnS4 thin film was prepared by a facile solution method without vacuum environment and toxic substance. The formation mechanism of the film was studied by transmission electron microscopy (TEM), X-ray diffrac... The Cu2ZnSnS4 thin film was prepared by a facile solution method without vacuum environment and toxic substance. The formation mechanism of the film was studied by transmission electron microscopy (TEM), X-ray diffraction (XRD), scanning electron microscopy (SEM), energy dispersive X-ray spectroscopy (EDS), and Raman scattering measurements. Through cyclic voltammetry and photo-electricity tests, the electrocatalytic activity of the prepared film as the counter electrode of dye-sensitizedsolar cell was also studied. The results show that the mixed precursor solution mainly consists of Cu2SnS3 nanoparticles and Zn ions.After 550 °C annealing process on the precursor film prepared from the mixed solution, Cu2ZnSnS4 thin film is obtained. Besides, itis found that the prepared Cu2ZnSnS4 thin film has the electrocatalytic activity toward the redox reaction of I3?/I? and the dye-sensitized solar cell with the prepared Cu2ZnSnS4 thin film as the counter electrode achieves the efficiency of 1.09%. 展开更多
关键词 cu2ZnsnS4 thin film cu2snS3 nanoparticle Zn ion ELECTROCATALYTIC dye-sensitized solar cells
下载PDF
Sn-3.5Ag-0.5Cu/Cu界面的显微结构 被引量:17
17
作者 王烨 黄继华 +1 位作者 张建纲 齐丽华 《中国有色金属学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第3期495-499,共5页
研究了热剪切循环条件下Sn-3.5Ag-0.5Cu钎料/Cu界面的显微结构,分析了界面金属间化合物的生长行为,并与恒温时效后的Sn-3.5Ag-0.5Cu/Cu界面进行了对比。结果表明:恒温时效至100 h,Sn-3.5Ag-0.5Cu/Cu界面上已形成Cu6Sn5和Cu3Sn两层金属... 研究了热剪切循环条件下Sn-3.5Ag-0.5Cu钎料/Cu界面的显微结构,分析了界面金属间化合物的生长行为,并与恒温时效后的Sn-3.5Ag-0.5Cu/Cu界面进行了对比。结果表明:恒温时效至100 h,Sn-3.5Ag-0.5Cu/Cu界面上已形成Cu6Sn5和Cu3Sn两层金属间化合物;而热剪切循环至720周Sn-3.5Ag-0.5Cu/Cu界面上只存在Cu6Sn5金属间化合物层,无Cu3Sn层生成,在界面近域的钎料内,颗粒状的Ag3Sn聚集长大成块状;在热剪切循环和恒温时效过程中,界面金属间化合物的形态初始都为扇贝状,随着时效时间的延长逐渐趋于平缓,最终以层状形式生长。 展开更多
关键词 热-剪切循环 恒温时效 sn-3.5Ag-0.5cu/cu界面 金属间化合物
下载PDF
微量稀土元素对Sn3.0Ag0.5Cu无铅焊料合金组织与性能的影响 被引量:4
18
作者 栗慧 卢斌 王娟辉 《热加工工艺》 CSCD 北大核心 2011年第9期31-35,共5页
研究稀土元素对Sn3Ag0.5Cu无铅焊料合金显微组织及性能的影响。结果表明:当稀土含量(wRE)为0.05%~0.25%时,对该无铅焊料合金的导电性和腐蚀性影响不大,但使其熔化区间温度降低;可以提高焊料的铺展面积,细化组织,提高其力学性能。比... 研究稀土元素对Sn3Ag0.5Cu无铅焊料合金显微组织及性能的影响。结果表明:当稀土含量(wRE)为0.05%~0.25%时,对该无铅焊料合金的导电性和腐蚀性影响不大,但使其熔化区间温度降低;可以提高焊料的铺展面积,细化组织,提高其力学性能。比较Ce、Er、Y、Sc四种稀土元素对焊料合金的影响,发现Ce元素可以更好地提高焊料合金的综合性能,Er次之。 展开更多
关键词 无铅焊料 sn3Ag0.5cu 稀土元素 组织 性能
下载PDF
电子封装中Cu/Cu3Sn/Cu焊点的制备工艺及组织演变 被引量:3
19
作者 梁晓波 李晓延 +2 位作者 姚鹏 余波 牛兰强 《电子元件与材料》 CAS CSCD 2017年第2期69-76,共8页
采用电镀的方法在Cu基板沉积4μm厚Sn层作为钎料,在不同参数下对双钎料Cu/Sn+Sn/Cu三明治结构进行钎焊连接,得到可形成全Cu_3Sn焊点的最优工艺参数组合为:Ar气保护下300℃,3 h,1 N。然后研究了全Cu3Sn焊点形成过程中不同金属间化合物(Cu... 采用电镀的方法在Cu基板沉积4μm厚Sn层作为钎料,在不同参数下对双钎料Cu/Sn+Sn/Cu三明治结构进行钎焊连接,得到可形成全Cu_3Sn焊点的最优工艺参数组合为:Ar气保护下300℃,3 h,1 N。然后研究了全Cu3Sn焊点形成过程中不同金属间化合物(Cu_6Sn_5和Cu_3Sn)的生长形貌和界面反应机理。结果表明,钎焊10 min后在Cu-Sn界面形成了扇贝状的Cu_6Sn_5,并且在Cu基板与Cu_6Sn_5之间有一层很薄的Cu_3Sn出现,Cu/Cu_3Sn和Cu3Sn/Cu_6Sn_5界面较为平整。随着时间延长,上下两层Cu6Sn5相互接触并融为一体,直至液态Sn完全被消耗,而Cu_3Sn通过消耗Cu_6Sn_5而快速增长,直到界面区全部形成Cu_3Sn。 展开更多
关键词 cu3sn焊点 钎焊 金属间化合物 扇贝状 界面反应 组织演变
下载PDF
应用于3D集成的高密度Cu/Sn微凸点键合技术 被引量:2
20
作者 独莉 宿磊 +3 位作者 陈鹏飞 张昆 廖广兰 史铁林 《半导体光电》 CAS 北大核心 2015年第3期403-407,共5页
3D-IC技术被看作是应对未来半导体产业不断增长的晶体管密度最有希望的解决方案,而微凸点键合技术是实现3D集成的关键技术之一。采用电镀工艺制作了直径为50μm、间距为130μm的高密度Cu/Sn微凸点,分析了不同预镀时间及电流密度对Cu微... 3D-IC技术被看作是应对未来半导体产业不断增长的晶体管密度最有希望的解决方案,而微凸点键合技术是实现3D集成的关键技术之一。采用电镀工艺制作了直径为50μm、间距为130μm的高密度Cu/Sn微凸点,分析了不同预镀时间及电流密度对Cu微凸点形成质量的影响,并使用倒装焊机实现了高密度Cu/Sn微凸点的键合。利用直射式X射线、分层式X射线对键合样片进行无损检测,结果表明键合对准精度高,少量微凸点边缘有锡被挤出,这是由于锡层过厚导致。观察键合面形貌,可以发现Cu和Sn结合得不够紧密。进一步对键合面金属间化合物进行能谱分析,证实存在Cu6Sn5和Cu3Sn两种物质,说明Cu6Sn5没有与Cu充分反应生成稳态产物Cu3Sn,可以通过增加键合时间、减少Sn层厚度或增加退火工艺来促进Cu3Sn的生成。 展开更多
关键词 3D集成 cu/sn微凸点 电镀 键合 金属间化合物
下载PDF
上一页 1 2 4 下一页 到第
使用帮助 返回顶部