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压应力作用下Cu-Ta非晶薄膜表面纳米晶化的可能机制
1
作者
曾飞
李晓伟
+2 位作者
高阳
李凌
潘峰
《稀有金属》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2005年第5期747-751,共5页
用磁控溅射技术制备了Cu-Ta合金非晶薄膜,并采用扫描电子显微镜研究了压应力导致非晶薄膜表面形变和纳米晶化现象。结果表明:在纳米压头的作用下,非晶薄膜表面压痕的锯齿流边沿处形成了纳米级颗粒(纳米晶化)结构,且压痕外沿的颗粒尺寸...
用磁控溅射技术制备了Cu-Ta合金非晶薄膜,并采用扫描电子显微镜研究了压应力导致非晶薄膜表面形变和纳米晶化现象。结果表明:在纳米压头的作用下,非晶薄膜表面压痕的锯齿流边沿处形成了纳米级颗粒(纳米晶化)结构,且压痕外沿的颗粒尺寸大于内沿的颗粒尺寸。导致上述微观结构变化的主要原因可能是非晶自由体积流变膨胀过程中,压头的压应力使材料内部自由体积发生移动,在非晶基体中汇集成一些空位或气团,纳米晶粒在这些空位或气团处形核并长大;当气团积累到一定体积发生爆裂,导致屈服变形,纳米晶粒被挤到压痕锯齿流的前沿。
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关键词
cu—ta非晶薄膜
纳米压痕
纳米晶化
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职称材料
题名
压应力作用下Cu-Ta非晶薄膜表面纳米晶化的可能机制
1
作者
曾飞
李晓伟
高阳
李凌
潘峰
机构
清华大学材料系先进材料教育部重点实验室
出处
《稀有金属》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2005年第5期747-751,共5页
基金
国家自然科学基金(10405013
50325105)
科技部973计划(G2000067207-1)资助项目
文摘
用磁控溅射技术制备了Cu-Ta合金非晶薄膜,并采用扫描电子显微镜研究了压应力导致非晶薄膜表面形变和纳米晶化现象。结果表明:在纳米压头的作用下,非晶薄膜表面压痕的锯齿流边沿处形成了纳米级颗粒(纳米晶化)结构,且压痕外沿的颗粒尺寸大于内沿的颗粒尺寸。导致上述微观结构变化的主要原因可能是非晶自由体积流变膨胀过程中,压头的压应力使材料内部自由体积发生移动,在非晶基体中汇集成一些空位或气团,纳米晶粒在这些空位或气团处形核并长大;当气团积累到一定体积发生爆裂,导致屈服变形,纳米晶粒被挤到压痕锯齿流的前沿。
关键词
cu—ta非晶薄膜
纳米压痕
纳米晶化
Keywords
cu
-
ta
amorphous films
nano-inden
ta
tion
nanocrys
ta
lline
分类号
TN65 [电子电信—电路与系统]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
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1
压应力作用下Cu-Ta非晶薄膜表面纳米晶化的可能机制
曾飞
李晓伟
高阳
李凌
潘峰
《稀有金属》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2005
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职称材料
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