TD-LTE Cu卡接口一致性测试

TD-LTE技术在商用化进程中面临商用终端的短板,为解决这一问题,工业和信息化部电信研究院组织各芯片和仪表厂商成立了TD-LTE终端一致性工作组,这对加快终端一致性认证的步伐,包括协议一致性、射频一致性、RRM一致性、Cu卡接口一致性测试推进起到了很大的作用。重邮信科作为小组成员之一参与了部分工作。笔者主要对TD-LTE Cu卡接口一致性测试中的一些经验进行分享,内容包括TD-LTE Cu卡接口一致性测试内容、测试环境、测试方法的介绍,测试过程中常见问题的分析总结,测试过程中的注意事项等。

TD-SCDMA终端机卡接口一致性测试系统研究

文章全面深入分析TD-SCDMA终端机卡接口一致性测试系统。首先详细阐述系统所依据的国内外标准;再对测试系统测试内容深入分析,包括物理电气逻辑特性、USIM应用特性及USAT特性三大主要内容;最后对测试系统的结构及原理进行了研究介绍。

USIM卡的全面测试

就USIM相关的USIM/ME接口一致性测试、Cu接口USAT测试、USIM一致性测试从测试内容、测试依据规范以及测试所需仪表进行了相应介绍。