Cu-Cr合金中点阵参数的精确测定与真实固溶度估算

采用气雾化制粉法制备一系列不同固溶浓度的Cu-Cr合金粉体,对样品进行X射线衍射分析,XRD图谱采用纳尔逊外推函数(sin1θ+θ1)cos2θ/2进行图解外推,求得合金粉体的点阵参数。实验发现制备Cu-Cr合金在一定成分范围内,固溶度与点阵参数的变化呈良好线性关系,吻合校正后的Vegard定律。测量了实验条件下Cr在Cu中的固溶度范围,分析固溶度扩展的原因,讨论固溶度的扩展极限,提出用XRD测定Cr在Cu中真实固溶度的方法及计算公式。