CuI晶体及其缺陷态电子结构的模拟

利用相对论密度泛函理论和嵌入分子团簇方法 ,模拟计算了具有闪锌矿结构的γ态CuI晶体及其缺陷态的电子结构。结果显示晶体的本征能级结构 :价带顶主要由I5p和Cu3d轨道杂化组成 ,导带底由Cu4s轨道组成 ,禁带宽度为 3.1eV ,该结果与实验相符。在不同缺陷态的计算中 ,四面体间隙铜缺陷相对其他间隙缺陷更易于在晶体中形成 ,其中Cu3d→ 4s跃迁能量为 3.2eV 。