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3-D MCM封装技术及其应用 被引量:3
1
作者 王玉菡 曹全喜 《电子科技》 2006年第3期9-12,16,共5页
介绍了超大规模集成电路(VLSI)用的3-DMCM封装技术的最新发展,重点介绍了3-DMCM封装垂直互连工艺,分析了3-DMCM封装技术的硅效率、复杂程度、热处理、互连密度、系统功率与速度等问题,并对3-DMCM封装的应用作了简要说明。
关键词 3-d mcm技术 封装 垂直互连 热处理 互连密度
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3-D MCM 的种类
2
作者 胡永达 杨邦朝 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2002年第4期23-27,30,共6页
介绍了3-D MCM封装的种类,其中包括芯片垂直互连和2-D MCM的垂直互连。芯片的垂直互连,包括芯片之间通过周边进行互连,以及芯片之间通过贯穿芯片进行垂直互连(面互连);2-D MCM模块垂直互连,包括2-D MCM之间通过周边进行互连,以及面互连... 介绍了3-D MCM封装的种类,其中包括芯片垂直互连和2-D MCM的垂直互连。芯片的垂直互连,包括芯片之间通过周边进行互连,以及芯片之间通过贯穿芯片进行垂直互连(面互连);2-D MCM模块垂直互连,包括2-D MCM之间通过周边进行互连,以及面互连的模式。 展开更多
关键词 2-dmcm 3-dmcm 叠层 集成电路芯片 封装技术
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3-DMCM实用化的进展 被引量:1
3
作者 杨邦朝 胡永达 《电子元件与材料》 CAS CSCD 2000年第4期28-32,共5页
介绍了 3- D MCM的四种封装模式的应用实例 ,详细讨论了各种模式的工艺 ,优点及存在的问题。 3-D MCM是未来微电子封装的发展趋势。
关键词 mcm 封装模式 集成电路
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MCM-D多层金属布线互连退化模式和机理 被引量:2
4
作者 何小琦 徐爱斌 章晓文 《电子产品可靠性与环境试验》 2002年第5期6-10,共5页
介绍了MCM-D多层金属互连结构的工艺及材料特点,并就Cu薄膜布线导体的结构特点和元素扩散特性,说明了多层布线互连退化的模式和机理,以及防止互连退化的技术措施。实验分析表明,Au/Ni/Cu薄膜布线结构的互连退化原因是,Cu元素沿导带缺陷... 介绍了MCM-D多层金属互连结构的工艺及材料特点,并就Cu薄膜布线导体的结构特点和元素扩散特性,说明了多层布线互连退化的模式和机理,以及防止互连退化的技术措施。实验分析表明,Au/Ni/Cu薄膜布线结构的互连退化原因是,Cu元素沿导带缺陷向表层扩散后,被氧化腐蚀,导致互连电阻增大,而Cu元素在温度应力作用下向PI扩散,导致PI绝缘电阻下降。 展开更多
关键词 mcm-d 多层金属布线 多芯片组件 通孔 退化
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MCM-41分子筛催化D-葡萄糖酸制备D-葡萄糖酸-δ-内酯的研究 被引量:4
5
作者 张军 林鹿 《现代食品科技》 EI CAS 2011年第1期60-62,66,共4页
以MCM-41分子筛为催化剂,由D-葡萄糖酸制备D-葡萄糖酸-δ-内酯。考察了反应温度、反应时间、催化剂用量以及催化剂循环使用次数对D-葡萄糖酸-δ-内酯产率的影响。实验结果表明,MCM-41是制备D-葡萄糖酸-δ-内酯较好的催化剂。最佳工艺条... 以MCM-41分子筛为催化剂,由D-葡萄糖酸制备D-葡萄糖酸-δ-内酯。考察了反应温度、反应时间、催化剂用量以及催化剂循环使用次数对D-葡萄糖酸-δ-内酯产率的影响。实验结果表明,MCM-41是制备D-葡萄糖酸-δ-内酯较好的催化剂。最佳工艺条件为:催化剂用量为30%,反应温度80℃,反应时间2 h,D-葡萄糖酸-δ-内酯产率达到90.39%。 展开更多
关键词 mcm-41分子筛 d-葡萄糖酸 d-葡萄糖酸-δ-内酯
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基于MCM-D工艺的3D-MCM工艺技术研究 被引量:2
6
作者 刘欣 谢廷明 +2 位作者 罗驰 刘建华 唐哲 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2010年第2期291-294,299,共5页
基于MCM-D薄膜工艺,开展了3D-MCM相关的无源元件内埋置、芯片减薄、芯片叠层组装、低弧度金丝键合、芯片凸点,以及板级叠层互连装配等工艺技术研究。通过埋置型基板、叠层芯片组装、板级叠层互连,实现了3D-MCM结构,制作出薄膜3D-MCM样品... 基于MCM-D薄膜工艺,开展了3D-MCM相关的无源元件内埋置、芯片减薄、芯片叠层组装、低弧度金丝键合、芯片凸点,以及板级叠层互连装配等工艺技术研究。通过埋置型基板、叠层芯片组装、板级叠层互连,实现了3D-MCM结构,制作出薄膜3D-MCM样品;探索出主要的工艺流程及关键工序控制方法,实现了薄膜3D-MCM封装。 展开更多
关键词 3d-mcm 内埋置基板 叠层型结构 三维叠层互连
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MCM-D技术电热特性综述
7
作者 杨建生 《电子与封装》 2005年第7期17-22,共6页
本文主要说明了淀积型多芯片组件(MCM-D)技术所使用的主要材料的热特性。此技术采用倒装片技术把硅芯片安装到硅基板上。阐述了薄膜电阻和接触电阻的测量与所使用金属的温度范围-28℃-100℃的比较。一套典型的试验结构诸如开尔文接触、... 本文主要说明了淀积型多芯片组件(MCM-D)技术所使用的主要材料的热特性。此技术采用倒装片技术把硅芯片安装到硅基板上。阐述了薄膜电阻和接触电阻的测量与所使用金属的温度范围-28℃-100℃的比较。一套典型的试验结构诸如开尔文接触、横桥电阻(CBR)及Van der Pauw 结构不仅已用于此技术,而且为了测试通过球倒装片连接的接触电阻,采用一新的开尔文式结构。已获得MCM封装的热模型,并考虑由此类封装增加的所有的热电阻。 展开更多
关键词 凸点压焊 电试验结构 mcmd 多芯片组件 热分析
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一种MCM12位A/D转换器的设计和研制
8
作者 何遐龄 曾大富 《微电子学》 CAS CSCD 1996年第6期390-397,共8页
介绍了一种MCM12位逐次逼近型A/D转换器SAD503的特点和工作原理,探讨了它的系统设计、电路设计、工艺技术,阐述了其研制及应用。这种A/D转换器在36.5mm×10.5mm的双层薄膜布线陶瓷基板上组装了18... 介绍了一种MCM12位逐次逼近型A/D转换器SAD503的特点和工作原理,探讨了它的系统设计、电路设计、工艺技术,阐述了其研制及应用。这种A/D转换器在36.5mm×10.5mm的双层薄膜布线陶瓷基板上组装了18个IC裸芯片和其他片式器件及电阻网络,并封装于32引出端双列直插式陶瓷管壳中。线性误差±1/2LSB,微分线性误差<±1LSB,转换时间6μs。 展开更多
关键词 模拟电路 多芯片组件 模/数转换器 设计
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Fe_3O_4@MCM-48–SO_3H:合成苯并[f]色烯并[2,3-d]嘧啶酮的高效、可磁性分离纳米催化剂(英文) 被引量:1
9
作者 Hassan Kefayati Mostafa Golshekan +1 位作者 Shahab Shariati Mahsa Bagheri 《催化学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2015年第4期572-578,共7页
Sulfonic acid groups were grafted onto three different types of synthesized magnetic nanoparticles, namely Fe3O4, Fe3O4@SiO2, and Fe3O4@MCM-48. The sulfonic acid-functionalized nanoparticles were evaluated as catalyst... Sulfonic acid groups were grafted onto three different types of synthesized magnetic nanoparticles, namely Fe3O4, Fe3O4@SiO2, and Fe3O4@MCM-48. The sulfonic acid-functionalized nanoparticles were evaluated as catalysts for the synthesis of 5-aryl-1H-benzo[f]chromeno[2,3-d]pyrimidine-2,4(3H,5H)-dione derivatives in terms of activity and recyclability. Their catalytic activities were compared with that of the homogeneous acid catalyst 1-methylimidazolium hydrogen sulfate([HMIm][HSO4]). The activity of Fe3O4@MCM-48–SO3H was comparable to those of the other heter-ogeneous and homogeneous catalysts. 展开更多
关键词 mcm-48 Fe3O4 纳米催化剂 嘧啶酮 合成 磁性纳米颗粒 均相催化剂 分离
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高密度多层基板3D—MCM的结构与工艺制作
10
作者 杜松 周冬莲 陈锋 《集成电路通讯》 2010年第3期28-32,共5页
本文以一种具有系统级功能的信号处理电路为例。介绍多层MCM基板层间通过焊球垂直互连的3D—MCM结构设计和工艺制作,该型3D—MCM模块的元器件封装效率超过200%,在与I/O端子(PGA引线、BGA焊球)一体化封装的3层LTCC基板的表面上及... 本文以一种具有系统级功能的信号处理电路为例。介绍多层MCM基板层间通过焊球垂直互连的3D—MCM结构设计和工艺制作,该型3D—MCM模块的元器件封装效率超过200%,在与I/O端子(PGA引线、BGA焊球)一体化封装的3层LTCC基板的表面上及其腔体内组装了432只外贴元器件,封装外形尺寸仅为32mm×32mm×15mm。 展开更多
关键词 3dmcm 结构设计 一体化封装 BGA(焊球阵列) 互连
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三维(3-D)封装技术 被引量:12
11
作者 何金奇 《微电子技术》 2001年第4期32-41,共10页
3 -D多芯片组件 (MCM)是未来微电子封装的发展趋势。本文介绍了超大规模集成(VLSI)用的 3-D封装技术的最新进展 ,详细报导了垂直互连技术 ,概括讨论了选择 3-D叠层技术的一些关键问题 ,并对 3-D封装和 2
关键词 集成电路 三维封装 微电子封装
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MCM:从二维到三维
12
作者 杨邦朝 胡永达 《电子元器件应用》 2000年第11期21-24,34,共5页
三維多芯片组件(3-D MCM)是在二维多芯片组件(2-D MCM)基础上发展起来的,是90年代微组装技术的标志。由于它的封装密度高,结构紧凑,延迟时间短,日益受到国际微电子工业界的重视。本文阐述了3-D MCM的优点,并且指出了需要进一步完善的方面。
关键词 mcm 多芯片组件 集成电路
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MCM封装技术新进展 被引量:4
13
作者 胡燕妮 《电子与封装》 2016年第3期12-14,共3页
MCM封装是多芯片组件,它可以将裸芯片在Z方向叠层,更加适合电子产品轻、薄、短、小的特点。介绍了MCM封装技术的3种分类——MCM-L、MCM-C及MCM-D。其中MCM-L成本低且制作技术成熟,但热传导率及热稳定性低。MCM-C热稳定性好且单层基板价... MCM封装是多芯片组件,它可以将裸芯片在Z方向叠层,更加适合电子产品轻、薄、短、小的特点。介绍了MCM封装技术的3种分类——MCM-L、MCM-C及MCM-D。其中MCM-L成本低且制作技术成熟,但热传导率及热稳定性低。MCM-C热稳定性好且单层基板价位低,但难以制成多层结构。MCM-D为薄膜封装技术的应用,它也是目前电子封装行业极力研究、开发的技术之一。最后讨论了MCM封装技术在多芯片组件等方面的最新进展。 展开更多
关键词 封装 mcm—L mcm—C mcmd
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固定化苯丙氨酸脱氨酶拆分D,L苯丙氨酸制备D苯丙氨酸
14
作者 房月芹 朱龙宝 +4 位作者 黄楠 周丽 丁重阳 刘颖 周哲敏 《食品工业科技》 CAS CSCD 北大核心 2015年第11期243-246,共4页
为了建立新的D-苯丙氨酸生产工艺,对固定化苯丙氨酸解氨酶(PAL)拆分D,L-苯丙氨酸进行了研究。以介孔材料(MCM-41)为载体固定PAL,将其用于拆分消旋体D,L-苯丙氨酸制备高光学纯的D-苯丙氨酸。最佳的固定化条件是载酶量为50mg/g、壳聚糖浓... 为了建立新的D-苯丙氨酸生产工艺,对固定化苯丙氨酸解氨酶(PAL)拆分D,L-苯丙氨酸进行了研究。以介孔材料(MCM-41)为载体固定PAL,将其用于拆分消旋体D,L-苯丙氨酸制备高光学纯的D-苯丙氨酸。最佳的固定化条件是载酶量为50mg/g、壳聚糖浓度为0.1%(w/v)、戊二醛浓度为0.05%(v/v),固定化酶的活性达到最大,酶活保留达到92%,重复利用20次后,活性仍能保持85%。将制备的固定化酶应用于D,L-苯丙氨酸的拆分,反应24h L-苯丙氨酸转化率达到98%,D-苯丙氨酸的ee值达到96%,且连续拆分10个批次后固定化酶对L-苯丙氨酸的转化率仍保持在95%以上。因此,高效稳定的固定化PAL在拆分D,L-苯丙氨酸生产D-苯丙氨酸中具有良好的应用前景。 展开更多
关键词 苯丙氨酸脱氨酶 介孔材料mcm-41 固定化 d L-苯丙氨酸拆分
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三维多芯片组件 被引量:5
15
作者 张经国 杨邦朝 《电子元件与材料》 CAS CSCD 1999年第2期28-30,共3页
三维多芯片组件系统集成技术具有组装密度、组装效率及性能更高,系统功能更多等优点,是实现电子装备系统集成的有效途径及关键技术。介绍了3DMCM主要结构(埋置型、有源基板型及叠层型)的特点,并对一些应用实例作了说明。
关键词 三维多芯片组件 系统集成 WSI 组装 单片IC
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三维封装叠层技术 被引量:2
16
作者 郝旭丹 金娜 王明皓 《微处理机》 2001年第4期16-18,共3页
三维封装技术是一种符合电子系统轻重量、小体积、高性能、低功耗的发展趋势的先进的封装技术。本文对三维封装技术进行了简要介绍 ,重点介绍了三维封装的叠层工艺和互连技术 ,阐述了三维封装技术的优点 。
关键词 三维封装 裸芯片叠层 PCB 集成电路芯片
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高密度三维封装技术 被引量:5
17
作者 李秀清 《半导体情报》 1998年第6期25-31,共7页
简要介绍为满足日益增长的低功耗、轻重量、小体积系统的应用需求而涌现出的多种裸芯片封装与多芯片叠层封装技术。详细讨论三维封装的垂直互连工艺。主要分析三维封装技术的硅效率、复杂程度、热处理、互连密度、系统功率与速度等问题。
关键词 三维封装 垂直互连 裸芯片叠层 半导体电路
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薄膜高密度互连技术及其应用 被引量:3
18
作者 云振新 《电子与封装》 2006年第4期1-5,14,共6页
高密度互连(HDI)基片在微电子集成技术中用来缩小尺寸、减轻重量和提高电气性能。薄膜技术是获得高密度互连的最佳技术。文章介绍了薄膜高密度互连技术的概念、特点、设计与工艺考虑,并指出其主要领域的应用情况。
关键词 高密度互连 薄膜技术 淀积薄膜型多芯片组件
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