介绍了一种基于现场可编程门阵列(FPGA,field programmable gate array)的高性能数模转换器(DAC,digital to analog converter)性能参数的回路测试方法。以FPGA、DAC和模数转换器(ADC,analog to digital converter)等元器件为硬件测试平...介绍了一种基于现场可编程门阵列(FPGA,field programmable gate array)的高性能数模转换器(DAC,digital to analog converter)性能参数的回路测试方法。以FPGA、DAC和模数转换器(ADC,analog to digital converter)等元器件为硬件测试平台,将待测数字信号转换成模拟信号再转换成数字信号,经过Matlab计算和分析后得到DAC芯片的静态特性参数和动态特性参数。其中失调误差为0.036%,增益误差为3.63%,信号噪声比为58 dB,信号噪声及失真比为57.75 dB,无杂散动态范围为62.84 dB,有效位数为9.3。测试结果表明:测试方法通用性好,精确度高,成本低。展开更多
文摘介绍了一种基于现场可编程门阵列(FPGA,field programmable gate array)的高性能数模转换器(DAC,digital to analog converter)性能参数的回路测试方法。以FPGA、DAC和模数转换器(ADC,analog to digital converter)等元器件为硬件测试平台,将待测数字信号转换成模拟信号再转换成数字信号,经过Matlab计算和分析后得到DAC芯片的静态特性参数和动态特性参数。其中失调误差为0.036%,增益误差为3.63%,信号噪声比为58 dB,信号噪声及失真比为57.75 dB,无杂散动态范围为62.84 dB,有效位数为9.3。测试结果表明:测试方法通用性好,精确度高,成本低。
