SPLC093C驱动显示不良的DC参数测试与分析

本文简单介绍了液晶显示驱动芯片SPLC093C的功能,并对其应用时出现的几种显示不良现象进行检测与分析,以便更快地找出此类芯片损坏的原因,避免在生产过程中出现相同的损坏,提高产品良率。

基于OPC技术的DCS测试系统数据通讯的设计实现

介绍了一种基于OPC规范构建的通用测试系统,该系统采用OPC接口程序,OPC配置以及与接口程序对OPC Server访问等技术,实现了通用DCS测试系统的数据交换。

FPSO与固定平台间DCS微波链路不稳定原因分析及WiMAX微波系统性能测试

分析了秦皇岛某油田绕单点旋转的FPSO与周边固定平台传输DCS生产数据、关断信号的微波链路不稳定的故障原因,并对拟采用的海底光缆和WiMAX微波技术建立链路的2种可能方案进行了比选,最终推荐采用WiMAX微波技术实现该油田FPSO与固定平台间的链路传输。性能测试结果表明,WiMAX微波系统可在旋转的FPSO与固定平台间建立可靠的传输链路,能够满足该油田生产和作业的需要。

一款三相可控硅控制器芯片的测试

介绍了一款自主研发的基于Chartered 0.35μm CMOS工艺的用于三相交流调压和可控整流的可控硅控制器芯片。基于Chroma公司3360D测试台(ATE)对封装后芯片进行了测试,并详细阐述了DC、AC、DFT、功能测试等的测试方法,芯片测试良率达到94.7%。最后,通过现场板级验证,进一步验证了芯片工作的有效性。

Verigy 93000中直流参数的并行测试方法

本文阐述了一种在Verigy 93000上进行直流参数测试的测试方法,并与传统方法进行了比较分析,结果表明该方法在测试中能完全并行使用硬件资源,使测试时间有效降低。

控制系统验收与测试过程的探讨

主要探讨控制系统验收测试的要求,包括工作内容、涉及的各参与方及其责任、文档要求及各测试阶段的主要目标等。

DC/DC芯片输出电压测试不确定度计算

输出电压是DC/DC芯片测试中的重要参数之一,输出电压不确定度可根据DC/DC芯片测试系统的系统模型和其它影响因素构建的数学模型计算得出。依据建立的数学模型,结合各不确定度实测数据和校验报告数据,可计算得出输出电压的测试标准不确定度和扩展不确定度。