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2002年IEEE国际可靠性物理年会论文集论文摘要（2）——假同晶GaAs和InGaAs／InAlAs／InP HEMT MMIC的高温加速寿命试验引起的DC和RF退化的演变
1
《电子产品可靠性与环境试验》 2003年第4期63-63,共1页
关键词 微波集成电路放大器 MMIC 加速寿命试验 RF退化 dc退化
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退化unipoly-Dedekind DC和的互反关系
2
作者 李红泽 罗玲玲 马元魁 《中国科学：数学》 CSCD 北大核心 2024年第9期1245-1264,共20页
借助退化unipoly-Euler函数和第二类退化unipoly-Euler函数,本文首次定义两类退化unipolyDedekind DC(Daehee-Changhee)和.利用unipoly函数的定义、两类退化Stirling数的定义、退化Genocchi多项式和退化Genocchi数等的定义得到退化unipo... 借助退化unipoly-Euler函数和第二类退化unipoly-Euler函数,本文首次定义两类退化unipolyDedekind DC(Daehee-Changhee)和.利用unipoly函数的定义、两类退化Stirling数的定义、退化Genocchi多项式和退化Genocchi数等的定义得到退化unipoly-Euler函数、第二类退化unipoly-Euler函数满足的一些组合恒等式和性质,并证明两类退化unipoly-Dedekind DC和满足互反关系. 展开更多
关键词 退化unipoly-Euler多项式 退化unipoly-Genocchi多项式 第二类退化unipoly-Euler多项式 第二类退化unipoly-Genocchi多项式 退化unipoly-Dedekind dc和 第二类退化unipoly-Dedekind dc和
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