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题名基于运动补偿的DMD无掩模光刻拼接误差校正
被引量:3
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作者
姜旭
杨絮
刘红
胡俊
王英志
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机构
长春理工大学电子信息工程学院
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出处
《光电工程》
CAS
CSCD
北大核心
2020年第6期43-48,共6页
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基金
吉林省科技发展计划项目(20170204053GX)。
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文摘
在DMD光刻设备中,由于机械装调产生的机械误差导致曝光图像间产生拼接误差,进而造成曝光图像出现错位、交叠等问题。为了消除DMD在大面积曝光过程中的曝光误差,对误差校正方法进行研究。首先,利用显微镜对曝光后的基板进行测量得到曝光误差。然后,在曝光误差的基础上建立误差模型。最后,根据误差模型提出了基于运动补偿的DMD光刻系统误差校正的方法,该方法有别于目前已有的误差校正方法。实验结果表明,在微米级图像曝光过程中,曝光误差减少了80%以上,DMD曝光中心偏移距离由175μm减少为21μm。有效提高曝光图像的拼接精度,满足对大面积曝光图像的高质量、高精度等要求。
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关键词
dmd光刻
dmd大面积曝光
运动补偿
倾角误差
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Keywords
dmd lithography
dmd large area exposure
motion compensation
inclination error
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分类号
TN29
[电子电信—物理电子学]
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