质粒DNAα粒子损伤的原子力显微镜观察

目的 :利用原子力显微镜 (AFM)直接观察技术 ,检测α粒子辐射对质粒DNA的损伤。方法 :照射质粒DNA吸附于云母表面 ,用AFM观察DNA的分子结构 ;用琼脂糖凝胶电泳检测开环和超螺旋结构的质粒DNA相对含量变化。结果 :AFM下清晰观察到开环、线性和超螺旋结构的质粒DNA分子。在 2Gyα粒子照射下 ,开环质粒DNA的比例就明显增多 ,并随照射剂量的增加而上升。相比之下 ,γ射线需要更大剂量照射才能产生同等的损伤效应。结论 :本文获得了AFM下辐射所致DNA损伤的直观图像 ,体外照射下α粒子对DNA的损伤大于γ射线。