DNA单分子近场光学成像与荧光探测

介绍了扫描近场光学(SNOM -Scanning Near-FieldOpticalMicroscope)/原子力显微镜(AFM -AtomicForceMicroscope)系统 (SNO/AM)的工作原理。在AFM模式和SNOM模式下对DNA分子进行成像和荧光探测 ,得到了清晰的DNA单分子的形貌像和荧光像。由形貌图像得到的DNA分子尺寸横向为20nm ,高度为2nm ,其中包含了探针形貌的影响。实验中采用Tapping模式的AFM成像 ,样品经多次搜索扫描无明显损坏。AFM模式的分辨率优于1nm。SNOM模式下DNA分子形貌像和荧光像清晰 ,由近场荧光分布可以确定分子取向和浓度。用YOYO -1染料对λDNA分子进行染色和荧光探测。通过对DNA分子多个截面进行测量 ,分析染料与DNA结合状态。