薄膜提高了50GHz DWDM器件的性能

高稳定性能和结构简单的50GHz薄膜滤光片为取代阵列波导光栅和光纤布喇格光栅提供了有效的方法.薄膜滤光片具有成本低、可靠性高的特点,已经逐渐占领200GHz和100GHz密集波分复用(DWDM)市场.原具有竞争性的技术,如阵列波导光栅(AWG)和光纤布喇格光栅(FBG)因其系统复杂、制造困难,其发展已不尽人意.50GHz系统正在引导人们走向一个高比特率数据通信的新领域.在潜在的市场利润面前,薄膜滤光片制造商应清楚地意识到,以低成本获得高性能的50GHz薄膜滤光片目前仍面临许多困难.

光通信用DWDM器件的制作工艺及其参数测试

密集波分复用(DWDM)是光纤通信增容的首选方案,而波分复用/解复用器件(DWDM器件)是DWDM系统中的关键器件。本文讨论了DWDM器件的几种典型制作方法,其中薄膜滤光片(TFF)型器件是最富竞争力的,并对TFF 型DWDM器件的制作工艺、主要特性参数及其测试方法开展了实验研究,对我们自行研制的四通道TFF型DWDM器件的测试结果表明:该器件具有精确的中心波长、宽且平坦的带通、小而均匀的插入损耗以及较大的信道隔离度等特性,具有很好的应用前景。

用邦加球（Poincare）法测试DWDM器件以及光纤光缆的PMD

本文介绍了如何用Poincare球法测试PMD；获取Poincare球法所需的原始数据；在存在PDL的情况下，用这些原始数据得出精确的DGD值。

超密集WDM系统测量中OSA的应用

随着光学镀膜工艺的进步，25GHz的DＷDM器件指标已经能够满足商业使用的要求，而且目前各大系统供应商为提高额定波段内的传输能力，也加大了25GHz信道间隔的波分传输设备的研发力度，为下一步此类传输设备的商用化做好准备。因此对25GHz间隔的传输系统的准确测量将是各器件生产厂家与系统设备供应商面临的首要问题，本文对两种DWDM测量方法进行比较，为选择合适的测量方法提供参考。

安捷伦推出光色散分析仪86038B

安捷伦科技(Agilent)公司日前宣布，推出增强型号的光色散分析仪86038B。这款全内置解决方案可以测试和检验关键光学器件，如10Gbps和40Gbps DWDM器件和光纤，进行高吞吐量制造测试，经济地检验光电器件(特别是光纤电路)，以更少的投资实现高带宽网络。